一种雷达子阵件测试架装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种雷达子阵件测试架装置，包括底梁架框，设置在底梁架框下部的滚轮；设置在底梁架框侧面的螺旋吸盘柱；设置在底梁架框上的直线滑轨，直线滑轨上设置有能进行前后和左右调节的测试台架，测试台架上设置有能安装子阵件的框台组件，框台组件上设置有划区测试框组件。本实用新型专利技术能对雷达的子阵件件进行尺度及位移变换测试，能在较短的时间内对大型有源相控阵雷达的子阵件组件，进行单个或多组子阵件的功率、相频等性能的检测，并且能对测试装置上的子阵件进行前后、左右及上下位置的调节，适合作为雷达子阵件测试装置推广使用。用。用。

【技术实现步骤摘要】
一种雷达子阵件测试架装置


[0001]本技术涉及雷达的子阵件测试架装置领域，具体属于一种雷达子阵件测试架装置。

技术介绍

[0002]雷达作为发现远距离空中目标的千里眼，是目前世界各国重要的军事技术设备。其中相控阵雷达作为雷达设备的重要族类，是近年来国家雷达技术发展的重要组成部分。众所周知，相控阵雷达利用STAP(空时二维自适应处理技术)处理非均匀杂波，其难点不在于所处理的杂波谱结构是线性的还是非线性的，而主要在于如何合理地选择杂波噪声协方差矩阵。而在雷达的实际制造过程中，真正实现选择杂波噪声协方差矩阵需要对雷达的重要组件子阵件进行综合性能测试。
[0003]在对雷达的子阵件进行性能测试时需要测试架装置，而普通的测试装置不能对测试装置上的子阵件进行前后、左右及上下位置移动的调节，无法进行尺度及位移变换测试，并同时准确读出子阵件位移的具体数据。为此，本技术提供了一种雷达子阵件测试架装置。

技术实现思路

[0004]本技术提供一种雷达子阵件测试架装置，能够解决上述
技术介绍
中提到的问题。本技术能对雷达的子阵件件进行尺度及位移变换测试，并且能对测试装置上的子阵件进行前后、左右及上下位置移动的调节，适合作为雷达子阵件测试装置推广使用。
[0005]本技术所采用的技术方案如下：
[0006]一种雷达子阵件测试架装置，包括底梁架框，设置在底梁架框下部的滚轮，滚轮能使底梁架框推移移动方便；
[0007]设置在底梁架框侧面的螺旋吸盘柱，螺旋吸盘柱能上下调节底梁架框的高度，使底梁架框固定后上水平面平整一致性好；
[0008]设置在底梁架框上的直线滑轨；
[0009]还包括：设置在直线滑轨上能进行前后和左右调节的测试台架；
[0010]设置在测试台架上的框台组件，框台组件能安装待测试子阵件；
[0011]框台组件上还设置有划区测试框组件，划区测试框组件能对待测试子阵件进行上下和前后调节，并确保对待测试子阵件限位准确；
[0012]能进行前后和左右调节的测试台架、设置在测试台架上的框台组件以及框台组件上设置的划区测试框组件，能对待测试的子阵件进行前后、左右及上下位置的调节，并确保对待测试子阵件的稳定限位。
[0013]为了实现能对测试台架整体进行前后及左右位置的移动调节，进一步地，所述底梁架框有底梁架框一、底梁架框二和底梁架框三，底梁架框一上左右两侧水平纵行设置有直线滑轨，底梁架框二通过滑块设置在底梁架框一的直线滑轨上，底梁架框二能在底梁架
框一上前后移动，底梁架框二上前后两侧水平横行设置有直线滑轨，底梁架框三通过滑块设置在底梁架框二的直线滑轨上，底梁架框三能在底梁架框二上左右移动；
[0014]所述底梁架框一下部设置有滚轮，滚轮上设置有定位卡，定位卡能锁紧或松开滚轮，滚轮能使底梁架框一推移移动方便；
[0015]所述底梁架框一的侧面设置有螺旋吸盘柱，螺旋吸盘柱能上下调节底梁架框一与接触地面之间的高度，使底梁架框一固定后上水平面平整一致性好；
[0016]所述底梁架框一的右端外侧设置有手轮装置一，通过手轮装置一的转动能使底梁架框二在底梁架框一上进行前后移动；
[0017]为了实现准确读取测试台架前后移动调节位置的数据，进行前后尺度及位移变换测试，优选地，所述底梁架框一的外侧设置有刻度尺一，刻度尺一能准确测量底梁架框二通过手轮装置一转动在底梁架框一上前后移动的具体尺度。
[0018]为了准确读取测试台架左右移动调节位置的数据，进行左右尺度及位移变换测试，进一步地，所述底梁架框二上设置有手轮装置二，通过手轮装置二的转动能使底梁架框三在底梁架框二上进行左右移动；
[0019]所述底梁架框二的外侧设置有刻度尺二，刻度尺二能准确测量底梁架框三通过手轮装置二转动在底梁架框二上左右移动的具体尺度；
[0020]所述底梁架框三上设置有测试台架，测试台架能与底梁架框三一起移动。
[0021]为了实现能对测试台架整体进行上下位置的移动调节，进行上下尺度及位移变换测试，进一步地，所述测试台架的正侧面设置有纵立框架，纵立框架上纵立设置有刻度尺三，纵立框架上纵立设置有直线滑轨，框台组件设置在纵立框架的直线滑轨上，纵立框架的上部外侧设置有手轮装置三，通过手轮装置三的转动能使框台组件在纵立框架上进行上下移动，框台组件的上下移动能使设置在框台组件上的待测试子阵件一起进行上下移动。
[0022]为了使子阵件能装在测试台架的框台组件上稳定固定，优选地，所述框台组件有滑块、安装板和子阵定位板，滑块与安装板连接，滑块装在纵立框架上的直线滑轨上，通过手轮装置三转动，滑块和安装板一起在直线滑轨上进行上下移动，子阵定位板设在安装板上，子阵定位板上能固定安装待测试的子阵件。
[0023]与已有技术相比，本技术提供的一种雷达子阵件测试架装置，其有益效果如下：
[0024]1，该雷达子阵件测试架装置，通过设置在底梁架框一上的底梁架框二、设置在底梁架框二上的底梁架框三、匹配对应的直线滑轨和滑块，以及能转动调节位移的手轮装置一和手轮装置二，使设置在底梁架框三上的测试台架，能通过转动手轮装置一使底梁架框二在底梁架框一上进行前后移动，测试台架、底梁架框三和底梁架框二三者一起在底梁架框一上进行前后移动调节，进而实现待测试子阵件的前后移动调节；通过手轮装置二的转动使底梁架框三在底梁架框二上进行左右移动，测试台架和底梁架框三一起能在底梁架框二上进行左右移动调节，进而实现待测试子阵件的左右移动调节。
[0025]2，该雷达子阵件测试架装置，通过设置在测试台架正侧面的纵立框架，匹配对应的直线滑轨和滑块，以及能转动调节位移的手轮装置三，通过手轮装置三的转动能使框台组件在纵立框架上进行上下移动，实现设置在框台组件上的待测试子阵件一起进行上下移动目的；
[0026]3，该雷达子阵件测试架装置，通过设置在底梁架框一外侧的刻度尺一，能准确测量底梁架框二通过手轮装置一转动在底梁架框一上前后移动的具体尺度，进而测量底梁架框二上一起移动的底梁架框三、测试台架和测试台架上的待测试子阵件的前后移动尺度；通过设置在底梁架框二外侧的刻度尺二，能准确测量底梁架框三通过手轮装置二转动在底梁架框二上左右移动的具体尺度，进而测量底梁架框三上一起移动的测试台架和测试台架上的待测试子阵件的左右移动尺度；通过纵立设置在纵立框架上的刻度尺三，能准确测量手轮装置三的转动使框台组件在纵立框架上进行上下移动的具体尺度，进而测量设置在框台组件上一起移动的待测试子阵件的上下移动尺度，并同时准确读出子阵件位移的具体数据。
附图说明
[0027]图1为本技术提出的一种雷达子阵件测试架装置整体结构立体示意图；
[0028]图2为本技术提出的一种雷达子阵件测试架装置整体结构右侧示意图；
[0029]图3为本技术提出的一种雷达子阵件测试架装置整体结构正面示意图；
[0030]图4为本技术提出的一种雷达子阵件测试架本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种雷达子阵件测试架装置，包括底梁架框，设置在底梁架框下部的滚轮，滚轮能使底梁架框推移移动方便；设置在底梁架框侧面的螺旋吸盘柱，螺旋吸盘柱能上下调节底梁架框的高度，使底梁架框固定后上水平面平整一致性好；设置在底梁架框上的直线滑轨；其特征在于，还包括：设置在直线滑轨上能进行前后和左右调节的测试台架；设置在测试台架上的框台组件，框台组件能在测试台架上进行上下移动，所述框台组件上能装待测试子阵件；框台组件上还设置有划区测试框组件；能进行前后和左右调节的测试台架、设置在测试台架上的框台组件以及框台组件上设置的划区测试框组件，能对待测试的子阵件进行前后、左右及上下位置的调节，并确保对待测试子阵件的稳定限位。2.根据权利要求1所述的一种雷达子阵件测试架装置，其特征在于所述底梁架框有底梁架框一、底梁架框二和底梁架框三，底梁架框一上左右两侧水平纵行设置有直线滑轨，底梁架框二通过滑块设置在底梁架框一的直线滑轨上，底梁架框二能在底梁架框一上前后移动，底梁架框二上前后两侧水平横行设置有直线滑轨，底梁架框三通过滑块设置在底梁架框二的直线滑轨上，底梁架框三能在底梁架框二上左右移动；所述底梁架框一下部设置有滚轮，滚轮上设置有定位卡，定位卡能锁紧或松开滚轮，滚轮能使底梁架框一推移移动方便；所述底梁架框一的侧面设置有螺旋吸盘柱，螺旋吸盘柱能上下调节底梁架框一与接触地面之间的高度，...

【专利技术属性】
技术研发人员：段守辉，
申请(专利权)人：合肥皓东精密工业有限公司，
类型：新型
国别省市：