一种用于高照度校准的标准装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种用于高照度校准的标准装置，涉及照度校准技术领域。该装置包括：发光二极管面光源、光阑、衰减片、测量平台、标准照度计、光轨；面光源设置在光轨左端，测量平台设置在光轨右端，光阑和衰减片设置在面光源与测量平台之间；面光源、光阑、衰减片及测量平台均能够在光轨上移动；面光源的最大照度为5

【技术实现步骤摘要】
一种用于高照度校准的标准装置


[0001]本技术涉及照度校准
，具体涉及一种用于高照度校准的标准装置。

技术介绍

[0002]随着我国军工、航天航空和航海等领域的快速发展，照度计的高照度值溯源需求越来越大，目前常规的光照度标准装置已无法满足对高照度的溯源需求，目前发光强度标准灯加光轨是用于校准常规照度计的标准装置，该装置具有操控性强、稳定性好、可靠性高等优势，但是现有的照度计标准装置存在以下问题：(1)一般测量范围较小，通常小于10000lx，难以满足高照度照度计的溯源需求；(2)光轨、标准电阻、电源等配套标准器较多，调试使用过程较为繁琐；(3)电流使用不当时，易造成标准灯损坏；(4)发光强度标准灯无法做到很大的发光强度，难以实现高照度的溯源需求。
[0003]因此，为了解决市面上对高照度值的溯源需求，急需提供一款高照度标准装置。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于，针对上述现有技术的不足，提供一种用于高照度校准的标准装置，以解决高照度的校准溯源问题。
[0005]为实现上述目的，本技术采用的技术方案如下：本技术提供了一种用于高照度校准的标准装置，该标准装置包括：发光二极管面光源、光阑、衰减片、测量平台、标准照度计、光轨；
[0006]发光二极管面光源设置在光轨的左端，测量平台设置在光轨的右端，光阑和衰减片设置在发光二极管面光源与测量平台之间；
[0007]发光二极管面光源、光阑、衰减片以及测量平台均能够在光轨上移动；
[0008]发光二极管面光源上设置有开关以及调节旋钮，调节旋钮用于调节发光二极管面光源的光源强弱，发光二极管面光源的最大照度为5
×
105lx以上；
[0009]标准照度计作为测量照度时比对用的标准器，标准照度计的测量范围为1mlx～60000lx；
[0010]标准装置的照度测量范围为1
×
104lx～5
×
105lx。
[0011]可选地，光阑包括第一光阑和第二光阑，第一光阑位于靠近发光二极管面光源一侧，第二光阑位于靠近测量平台一侧，衰减片设置在第二光阑上。
[0012]可选地，发光二极管面光源为长方体光源，长方体光源的内部为电源、光源和可调电阻的集成体，长方体光源的正面为出光口，出光口处覆盖有漫射白板。
[0013]可选地，发光二极管面光源的光源不均匀性≤2％，并且发光二极管面光源的光源强弱能够连续调节。
[0014]可选地，衰减片的测量范围为1％～50％。
[0015]可选地，发光二极管面光源的最大亮度为1
×
106cd/m2以上，标准装置还包括标准亮度计，标准亮度计作为测量亮度时比对用的标准器，标准亮度计的测量范围为0～
30000cd/m2。
[0016]可选地，标准装置的亮度测量范围为3
×
104cd/m2～1
×
106cd/m2。
[0017]可选地，光轨长度为2m以上。
[0018]可选地，光轨上的刻度精度为0.1mm。
[0019]本技术的有益效果包括：
[0020]本技术提供的用于高照度校准的标准装置包括：发光二极管面光源、光阑、衰减片、测量平台、标准照度计、光轨；发光二极管面光源设置在光轨的左端，测量平台设置在光轨的右端，光阑和衰减片设置在发光二极管面光源与测量平台之间；发光二极管面光源、光阑、衰减片以及测量平台均能够在光轨上移动；发光二极管面光源上设置有开关以及调节旋钮，调节旋钮用于调节发光二极管面光源的光源强弱，发光二极管面光源的最大照度为5
×
105lx以上；标准照度计作为测量照度时比对用的标准器，标准照度计的测量范围为1mlx～60000lx；标准装置的照度测量范围为1
×
104lx～5
×
105lx。该标准装置采用照度为5
×
105lx以上的发光二极管面光源，能够实现照度测量范围为1
×
104lx～5
×
105lx的高照度校准，通过利用标准照度计，采用比对法进行照度校准，可有效提高校准结果的准确度，选用物理衰减片对高照度进行衰减，不改变光谱形状，可避免光谱响应对测量结果带来的误差。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0022]图1示出了本技术一实施例提供的用于高照度校准的标准装置的结构示意图；
[0023]图2示出了本技术另一实施例提供的用于高照度校准的标准装置的结构示意图。
[0024]附图标记：1
‑
LED面光源；2
‑
光阑；3
‑
衰减片；4
‑
测量平台；5
‑
标准照度计；6
‑
光轨；7
‑
标准亮度计。
具体实施方式
[0025]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0026]因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0027]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一
个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0028]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0029]在本技术的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于高照度校准的标准装置，其特征在于，所述标准装置包括：发光二极管面光源、光阑、衰减片、测量平台、标准照度计、光轨；所述发光二极管面光源设置在所述光轨的左端，所述测量平台设置在所述光轨的右端，所述光阑和所述衰减片设置在所述发光二极管面光源与所述测量平台之间；所述发光二极管面光源、所述光阑、所述衰减片以及所述测量平台均能够在所述光轨上移动；所述发光二极管面光源上设置有开关以及调节旋钮，所述调节旋钮用于调节所述发光二极管面光源的光源强弱，所述发光二极管面光源的最大照度为5
×
105lx以上；所述标准照度计作为测量照度时比对用的标准器，所述标准照度计的测量范围为1mlx～60000lx；所述标准装置的照度测量范围为1
×
104lx～5
×
105lx。2.根据权利要求1所述的用于高照度校准的标准装置，其特征在于，所述光阑包括第一光阑和第二光阑，所述第一光阑位于靠近所述发光二极管面光源一侧，所述第二光阑位于靠近所述测量平台一侧，所述衰减片设置在所述第二光阑上。3.根据权利要求1所述的用于高照度校准的标准装置，其特征在于，所述发光二极管面光源为长方体...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤坤，刘宏欣，刘玉龙，刘美，
申请(专利权)人：苏州市计量测试院，
类型：新型
国别省市：