校样机构及分光机制造技术

技术编号:32060323 阅读:26 留言:0更新日期:2022-01-27 15:04
本申请提供了一种校样机构及分光机,该校样机构包括转盘和与转盘相连的驱动电机,转盘上开设有气孔;还包括底座、用于支撑测试材料的支撑座、用于吸取测试材料的吸嘴、支撑吸嘴的支撑臂和用于驱动支撑臂在支撑座与气孔之间往复移动的驱动动力组件。当需要对分光机进行校验测试时,驱动动力组件驱动支撑臂移动至支撑座,以使吸嘴将支撑座上的测试材料吸取;随后,驱动动力组件驱动支撑臂移动至转盘的气孔位置处,吸嘴将测试材料放置于气孔上并被吸附。反之,吸嘴及驱动动力组件可将气孔上的测试材料移动至支撑座上。因此,本申请可实现对测试材料的自动取放,相较于人工作业来说,对位精度高,且效率高。且效率高。且效率高。

【技术实现步骤摘要】
校样机构及分光机


[0001]本申请属于分光机
,更具体地说,是涉及一种校样机构及使用该校样机构的分光机。

技术介绍

[0002]在分光机
中,通常是由转盘承载多个材料,通过转盘的转动与吹料机构的配合,可将不同品质的材料吹至对应的料箱中。
[0003]当对不同种类的材料进行分选时,或者分光机工作较长时间后,需要对分光机进行校验调试,以提高分光机的分选精度。目前,通常是由人工将测试材料放置于转盘上,根据测试材料的特征来对应调整分光机的相关参数,以达到最佳的分选效果。然而,通过人工将测试材料放置于转盘上,以及将测试材料从转盘上取下,一方面,测试材料与转盘之间的对位精度差,影响调试效果;另一方面,人工取放测试材料,费时费力,效率低。

技术实现思路

[0004]本申请实施例的目的在于提供一种校样机构及分光机,以解决相关技术中存在的:人工取放测试材料,会导致测试材料与转盘的对位精度差,影响调试效果,且效率低的问题。
[0005]为实现上述目的,本申请实施例采用的技术方案是:
[0006]一方面,提供一种校样机构,包括转盘和与所述转盘相连的驱动电机,所述转盘上开设有气孔,其特征在于:所述校样机构还包括底座、用于支撑测试材料的支撑座、用于吸取所述测试材料的吸嘴、支撑所述吸嘴的支撑臂和用于驱动所述支撑臂在所述支撑座与所述气孔之间往复移动的驱动动力组件;所述支撑座和所述驱动动力组件分别安装于所述底座上,所述驱动动力组件与所述支撑臂相连。
[0007]此结构,本申请通过在底座上分别安装支撑座和驱动动力组件,支撑座可用于支撑测试材料,驱动动力组件可驱动支撑臂及吸嘴移动。当需要对分光机进行校验测试时,驱动动力组件驱动支撑臂移动至支撑座,以使吸嘴将支撑座上的测试材料吸取;随后,驱动动力组件驱动支撑臂移动至转盘的气孔位置处,吸嘴将测试材料放置于气孔上并被吸附。反之,吸嘴及驱动动力组件可将气孔上的测试材料移动至支撑座上。因此,本申请可实现对测试材料的自动取放,相较于人工作业来说,对位精度高,且效率高。
[0008]在一个实施例中,所述支撑座上开设有用于容置所述测试材料的容置槽。
[0009]此结构,可实现对测试材料的快速定位安装,有助提高测试材料安装于气孔中的安装精度。
[0010]在一个实施例中,所述容置槽的底部开设有通孔;所述校样机构还包括安装于所述支撑座上的气嘴,所述气嘴与所述通孔连通。
[0011]此结构,通过气嘴及通孔可将测试材料吸附固定于容置槽中,避免测试材料发生位置偏移。
[0012]在一个实施例中,所述驱动动力组件包括用于驱动所述吸嘴升降的升降驱动单元和用于驱动所述吸嘴靠近或远离所述转盘的水平驱动单元;所述水平驱动单元安装于所述底座上,所述升降驱动单元安装于所述水平驱动单元上,所述支撑臂安装于所述升降驱动单元上。
[0013]此结构,通过升降驱动单元和水平驱动单元可调节吸嘴的位置,实现吸嘴在支撑座与转盘之间的移动,以及对吸嘴的取放。
[0014]在一个实施例中,所述水平驱动单元包括安装于所述底座上的水平驱动气缸和与所述水平驱动气缸的活塞杆连接的第一移动座;所述升降驱动单元安装于所述第一移动座上。
[0015]此结构,通过水平驱动气缸驱动第一移动座移动,可实现吸嘴靠近或远离转盘。
[0016]在一个实施例中,所述升降驱动单元包括安装于所述第一移动座上的升降驱动气缸和与所述升降驱动气缸的活塞杆连接的第二移动座;所述支撑臂安装于所述第二移动座上。
[0017]此结构,通过升降驱动气缸和第二移动座可驱动吸嘴升降,便于对测试材料的取放。
[0018]在一个实施例中,所述底座包括分别支撑所述支撑座与所述驱动动力组件的基板、用于驱动所述基板纵向移动的纵移驱动单元和用于驱动所述基板横向移动的横移驱动单元;所述纵移驱动单元安装于所述横移驱动单元上,所述基板安装于所述纵移驱动单元上。
[0019]此结构,通过纵移驱动单元和横移驱动单元可对驱动动力组件在XY平面内的位置进行调节。
[0020]在一个实施例中,所述横移驱动单元包括第一滑轨、安装于所述第一滑轨上的底板和安装于所述第一滑轨上并与所述底板连接的第一调节旋钮;所述纵移驱动单元安装于所述底板上。
[0021]此结构,当调节第一调节旋钮时,底板可在第一滑轨上沿X轴方向移动,从而可对驱动动力组件在X轴方向的位置进行调节。
[0022]在一个实施例中,所述纵移驱动单元包括安装于所述底板上的第二滑轨和安装于所述第二滑轨上并与所述基板连接的第二调节旋钮。
[0023]此结构,当调节第二调节旋钮时,基板可在第二滑轨上沿Y轴方向移动,从而可对驱动动力组件在Y轴方向的位置进行调节。
[0024]另一方面,提供一种分光机,包括上述任一实施例提供的校样机构。
[0025]此结构,采用上述校样机构的分光机具有自主取放测试材料的功能,有助于提高分光机的校验精度。
附图说明
[0026]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例或示范性技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0027]图1为本申请实施例提供的校样机构的立体结构示意图;
[0028]图2为本申请实施例提供的底座、支撑座、吸嘴、支撑臂、驱动动力组件和测试材料连接的立体结构示意图一;
[0029]图3为本申请实施例提供的底座、支撑座、吸嘴、支撑臂、驱动动力组件和测试材料连接的立体结构示意图二;
[0030]图4为图3中A处的放大示意图。
[0031]其中,图中各附图主要标记:
[0032]1、转盘;10、气孔;2、驱动电机;
[0033]3、底座;31、基板;32、纵移驱动单元;321、第二滑轨;322、第二调节旋钮;33、横移驱动单元;331、第一滑轨;332、底板;333、第一调节旋钮;
[0034]4、支撑座;41、容置槽;42、气嘴;
[0035]5、吸嘴;6、支撑臂;
[0036]7、驱动动力组件;71、升降驱动单元;711、升降驱动气缸;712、第二移动座;72、水平驱动单元;721、水平驱动气缸;722、第一移动座;
[0037]8、测试材料。
具体实施方式
[0038]为了使本申请所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
[0039]需要说明的是,当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。
[0040]本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.校样机构,包括转盘和与所述转盘相连的驱动电机,所述转盘上开设有气孔,其特征在于:所述校样机构还包括底座、用于支撑测试材料的支撑座、用于吸取所述测试材料的吸嘴、支撑所述吸嘴的支撑臂和用于驱动所述支撑臂在所述支撑座与所述气孔之间往复移动的驱动动力组件;所述支撑座和所述驱动动力组件分别安装于所述底座上,所述驱动动力组件与所述支撑臂相连。2.如权利要求1所述的校样机构,其特征在于:所述支撑座上开设有用于容置所述测试材料的容置槽。3.如权利要求2所述的校样机构,其特征在于:所述容置槽的底部开设有通孔;所述校样机构还包括安装于所述支撑座上的气嘴,所述气嘴与所述通孔连通。4.如权利要求1所述的校样机构,其特征在于:所述驱动动力组件包括用于驱动所述吸嘴升降的升降驱动单元和用于驱动所述吸嘴靠近或远离所述转盘的水平驱动单元;所述水平驱动单元安装于所述底座上,所述升降驱动单元安装于所述水平驱动单元上,所述支撑臂安装于所述升降驱动单元上。5.如权利要求4所述的校样机构,其特征在于:所述水平驱动单元包括安装于所述底座上的水平驱动气缸和与所述水平驱动气缸的活塞杆连接的第一...

【专利技术属性】
技术研发人员:段雄斌张利利曹亮何选民
申请(专利权)人:深圳市标谱半导体科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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