一种集成电路开短路测试设备制造技术

本实用新型专利技术涉及集成电路测试设备技术领域，且公开了一种集成电路开短路测试设备，包括电路板、Microchip单片机、ADC高精度转换器、测试目标集成电路活动插座、外接64通道接口、手动测试按键、系统显示屏、Handler接口、DIS/SET键、NEXT键、UP键、DOWN键、电源适配器插座，所述系统显示屏的外侧设置有保护框。该集成电路开短路测试设备，通过设置保护框和保护板，以达到在系统显示屏不使用时对其进行保护的目的，同时可通过清洁层对系统显示屏的前侧进行清理，通过顶压盒、电磁铁、塑料弹性件、铁块和垫层之间的配合设置，可以在使用时对向上滑动后的保护板进行定位，以便于工作人员的使用。用。用。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路开短路测试设备


[0001]本技术涉及集成电路测试设备
，具体为一种集成电路开短路测试设备。

技术介绍

[0002]集成电路广泛应用于电子设备、通信遥控等各个行业中，其性能好坏直接影响着各种产品的质量，集成电路开短路测试设备是对集成电路进行性能测试的重要设备，集成电路的每个管脚上通常设有保护二极管，在测试集成电路前，需对每个管脚进行测试，在保护二极管良好的状态下再进行其他性能测试，目前常用的集成电路开短路测试设备操作界面复杂，测试范围和测试精度有限，难以保证测试的准确性和一致性，另外，较少具备Handler控制接口，难以实现全自动量产测试，于是市场上出现了一种集成电路开短路测试设备。
[0003]目前市场上的一些集成电路测试设备装置：
[0004]在不使用时，由于系统显示屏是直接暴露在外界的，容易与外界的物体发生碰撞而导致系统显示屏损坏。
[0005]所以我们提出了一种集成电路开短路测试设备，以便于解决上述中提出的问题。

技术实现思路

[0006](一)解决的技术问题r/>[0007]针本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路开短路测试设备，包括电路板(1)、Microchip单片机(2)、ADC高精度转换器(201)、测试目标集成电路活动插座(3)、外接64通道接口(4)、手动测试按键(5)、系统显示屏(6)、Handler接口(7)、DIS/SET键(8)、NEXT键(9)、UP键(10)、DOWN键(11)、电源适配器插座(12)，其特征在于，所述系统显示屏(6)的外侧设置有保护框(14)，所述保护框(14)的右上角处设置有顶压盒(13)，所述保护框(14)的前侧两端均开设有限位滑槽(15)，两个所述限位滑槽(15)的顶部均与外界相连通，所述保护框(14)的前侧设置有保护板(16)，所述保护板(16)的后侧两端均固定有滑动板(18)，两个所述滑动板(18)分别与两个限位滑槽(15)滑动连接，所述保护板(16)的后侧粘接有清洁层(17)，所述保护板(16)的右侧开设有插槽(19)。2.根据权利要求1所述的一种集成电路开短路测...

【专利技术属性】
技术研发人员：焦源，
申请(专利权)人：上海力兹照明电气有限公司，
类型：新型
国别省市：