芯片差异性的检测方法及系统技术方案

本申请实施例公开了芯片差异性的检测方法及系统，应用于芯片差异性的检测系统，该芯片差异性的检测系统包括多个硅片分类与校准类SCC Type电路和SCC控制电路；该方法包括：多个SCC Type电路将输出的SO信号输入SCC控制电路；SCC控制电路计算多个SCCType电路的电路延迟值，得到多个电路延迟值；SCC控制电路根据所述多个SO信号和多个电路延迟值确定芯片是否存在电气特性差异。本申请提出使用不同种类的晶体管进行混搭组成基本SCCtype，可以显著降低ROSC在整体尺寸较小的车规级芯片上占的面积，保证测试的覆盖率，满足稳定性要求较高的车规级标准对芯片良率的要求。车规级标准对芯片良率的要求。车规级标准对芯片良率的要求。

【技术实现步骤摘要】
芯片差异性的检测方法及系统


[0001]本申请涉及通信
，尤其涉及一种芯片差异性的检测方法及系统。

技术介绍

[0002]芯片，又称微电路(microcircuit)、微芯片(microchip)、集成电路(integrated circuit)，是指内含集成电路的硅片，体积很小，是计算机等电子设备的重要组成部分。芯片的生产制造是一个不精确的过程，一同生产出的芯片在不同的位置可能会表现出明显的电气特性差异，会影响芯片运行的稳定性，比如，当芯片外加电压为0.9V时，需要运行到320MHz频率的区域，部分逻辑可以稳定运行在这个频率下，而部分逻辑会出现时序违例，从而导致芯片行为异常。而这些内部差异较大的芯片无法通过自动测试设备(Automatic Test Equipment，ATE)测试进行筛除。因此，对于芯片稳定性要求极高的车规级芯片，如何进行芯片差异性检测是亟需解决的问题。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供了一种芯片差异性的检测方法及系统，提出使用不同种类的晶体管进行混搭组成基本SCCtype，可以显著降低ROSC在整体尺寸较小的车规级芯片上占的面积，同时保证测试的覆盖率，满足稳定性要求较高的车规级标准对芯片良率的要求。
[0004]第一方面，本申请实施例提供一种芯片差异性的检测方法，应用于芯片差异性的检测系统，所述芯片差异性的检测系统包括多个硅片分类与校准类SCC Type电路和SCC控制电路，每个SCC Type电路包括多条环形振荡器ROSC链，每条ROSC链由不同种类的晶体管构成；
[0005]所述方法包括：
[0006]所述多个SCC Type电路将输出的SO信号输入所述SCC控制电路；
[0007]所述SCC控制电路计算所述多个SCC Type电路的电路延迟值，得到多个电路延迟值；
[0008]所述SCC控制电路根据所述多个SO信号和所述多个电路延迟值确定芯片是否存在电气特性差异。
[0009]第二方面，本申请实施例提供的一种芯片差异性的检测系统，所述系统包括芯片差异性的检测系统包括多个硅片分类与校准类SCC Type电路和SCC控制电路，每个SCC Type电路包括多条环形振荡器ROSC链，每条ROSC链由不同种类的晶体管构成；其中，
[0010]所述多个SCC Type电路，用于将输出的SO信号输入所述SCC控制电路；
[0011]所述SCC控制电路，用于计算所述多个SCC Type电路的电路延迟值，得到多个电路延迟值；
[0012]所述SCC控制电路，还用于根据所述多个SO信号和所述多个电路延迟值确定芯片是否存在电气特性差异。
[0013]第三方面，本申请实施例提供一种检测设备，所述检测设备包括处理器、存储器、
通信接口，以及一个或多个程序，所述一个或多个程序被存储在所述存储器中，并且被配置由所述处理器执行，所述程序包括用于执行上述第一方面所述的方法中所描述的部分或全部步骤的指令。
[0014]第四方面，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储用于电子数据交换的计算机程序，其中，所述计算机程序使得计算机执行上述第一方面所述的方法中所描述的部分或全部步骤。
[0015]第五方面，本申请实施例提供了一种包含指令的计算机程序产品，当所述计算机程序产品在电子设备上运行时，使得所述电子设备执行上述第一方面所述的方法。
[0016]本申请提供的技术方案，应用于芯片差异性的检测系统，该芯片差异性的检测系统包括多个硅片分类与校准类SCC Type电路和SCC控制电路，每个SCC Type电路包括多条环形振荡器ROSC链，每条ROSC链由不同种类的晶体管构成；多个SCC Type电路将输出的SO信号输入SCC控制电路；SCC控制电路计算多个SCC Type电路的电路延迟值，得到多个电路延迟值；SCC控制电路根据所述多个SO信号和多个电路延迟值确定芯片是否存在电气特性差异。本申请提出使用不同种类的晶体管进行混搭组成基本SCCtype，可以显著降低ROSC在整体尺寸较小的车规级芯片上占的面积，同时通过将SCC Type电路输出的SO信号来反映芯片的电气特性差异，保证了测试的覆盖率，满足稳定性要求较高的车规级标准对芯片良率的要求。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1是本申请实施例提供的一种芯片差异性的检测系统的结构示意图；
[0019]图2是本申请实施例提供的一种SCC type电路的结构示意图；
[0020]图3是本申请实施例提供的一种芯片差异性的检测方法的流程示意图；
[0021]图4是本申请实施例提供的一种检测设备的结构示意图。
具体实施方式
[0022]在对本申请实施例的技术方案进行描述之前，下面先对本申请可能涉及的相关概念进行介绍。
[0023]环形振荡器(RingOscillator，ROSC)：指一种采用奇数个反相器组成的环形电路，用于输出方波脉冲，环形振荡器最大的特点是能够高精度地测量电路延迟进而对电路老化进行表征。
[0024]硅片分类与校准(SiliconCharacterizationandCalibration，SCC)：指根据硅片在生产制造后表现出的物理差异进行分类，并相应调整如芯片供电电压等参数，保证芯片能运行在既定的性能下。
[0025]Binning：(芯片)分类，指根据SCC输出的结果，将芯片分为不同的bin，用以表征不同bin所表现出的差异性。
[0026]SCCType：由多条ROSC以及移位寄存器组成的最小SCC执行单元。
[0027]电压调制(VoltageTuning，VT)：在此特指对scctype进行调压操作。
[0028]集成电路自动测试机(AutomaticTestEquipment，ATE)：用于检测集成电路功能的完整性，以保证芯片内部时序逻辑运行不会有硬件出错。
[0029]为了本
人员更好理解本申请的技术方案，下面结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请的部分实施例，而并非全部的实施例。基于本申请实施例的描述，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请所保护的范围。
[0030]本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、软件、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是还包括没有列出的步骤或单元，或本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片差异性的检测方法，其特征在于，应用于芯片差异性的检测系统，所述芯片差异性的检测系统包括多个硅片分类与校准类SCC Type电路和SCC控制电路，每个SCC Type电路包括多条环形振荡器ROSC链，每条ROSC链由不同种类的晶体管构成；所述方法包括：所述多个SCC Type电路将输出的SO信号输入所述SCC控制电路；所述SCC控制电路计算所述多个SCC Type电路的电路延迟值，得到多个电路延迟值；所述SCC控制电路根据所述多个SO信号和所述多个电路延迟值确定芯片是否存在电气特性差异。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述SCC控制电路计算所述多个SCC Type电路的电路延迟值，得到多个电路延迟值，包括：所述SCC控制电路获取所述多个SCC Type电路的采样时钟周期，得到多个采样时钟周期；所述SCC控制电路将所述多个采样时钟周期分别输入第一公式进行计算，得到所述多个电路延迟值，所述第一公式表示为：G＝(N*S)/T，所述N为预设的采样周期数，所述S为所述采样时钟周期，所述T为常数。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述SCC控制电路根据所述多个SO信号和所述多个电路延迟值确定芯片是否存在电气特性差异，包括：所述SCC控制电路计算第i个SO信号与对应的电路延迟值之间差的绝对值，得到第一差值；若所述第一差值大于预设值，则所述SCC控制电路确定第一SCC Type电路存在电气特性差异，所述第一SCC Type电路为所述第i个SO信号对应的SCC Type电路；若所述第一差值小于或等于所述预设值，则所述SCC控制电路确定第一SCC Type电路不存在电气特性差异。4.根据权利要求1
‑
3任一项所述的方法，其特征在于，所述SCC控制电路设置于可掉电的电源域。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁健宇，赵梦南，薛海松，郑国忠，钟晓炜，
申请(专利权)人：展讯通信上海有限公司，
类型：发明
国别省市：