【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及利用真空紫外光的处理装置。具体而言,涉及通过向处理气体照射真空紫外光来激活该处理用气体,使得该处理用气体作用于被处理物的处理装置,例如可利用于表面改性、干式洗净、抗蚀剂的灰化/除去、硅表面的蚀刻等中的处理装置。
技术介绍
以往,利用真空紫外光进行处理的处理装置,广泛利用于例如表面改性、干式洗净、抗蚀剂的灰化/除去等各种领域。若大致区分这些处理装置,则有通过对被照射物直接照射该真空紫外光,使该被照射物产生光化学反应等来进行处理的情况,以及将该真空紫外光照射到氧分子等而产生活性氧原子等,从而处理该被照射物的情况。尤其,在洗净或抗蚀剂的灰化/除去领域中,广泛利用将该真空紫外光照射到氧分子而产生活性氧原子,从而处理该被照射物的技术。作为此技术,例如已知有在日本特公平4-9373号等中公开的利用低压水银灯的处理装置。该公报中记载了如下内容从作为光源的低压水银灯放射的波长为184nm的真空紫外光与氧反应生成臭氧,波长为245nm的紫外线分解所生成的该臭氧,由此生成活性氧原子,并使附着于被照射物表面的有机污染物被氧化分解并飞散。此时,自该低压水银灯放射的光是封 ...
【技术保护点】
一种处理装置,具备放射真空紫外光的光源、和具备该光源的放电容器及/或处理空间,并配置有导入气体的导入口,通过照射光激活该被导入的气体,其特征在于,该被激活性的气体是N↓[m]H↓[n],其中,N为氮原子、H为氢原子、m、n为任意的自然数;具备将自上述光源放射的真空紫外光照射于该N↓[m]H↓[n]气体的机构。
【技术特征摘要】
JP 2003-11-20 390885/20031.一种处理装置,具备放射真空紫外光的光源、和具备该光源的放电容器及/或处理空间,并配置有导入气体的导入口,通过照射光激活该被导入的气体,其特征在于,该被激活性的气体是NmHn,其中,N为氮原子、H为氢原子、m、n为任意的自然数;具备将自上述光源放射的真空紫外光照射于该NmHn气体的机构。2.如权利要求1所记载的处理装置,其特征在于,上述NmHn气体是氨气,该氨气的分压大于等于0.1Kpa且小于等于10Kpa。3.如权利要求1所记载的处理装置,其特征在于,上述光源是利用电介质阻挡放电的准分子紫外灯,该电介质阻挡放电产生波长最大值为172nm的Xe2准分子光、波长最大值为146nm的Kr2准分子光、或波长最大值为126nm的Ar2准分子光。...
【专利技术属性】
技术研发人员:松野博光,菱沼宣是,菅原宽,
申请(专利权)人:优志旺电机株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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