计算机环境性能测试设备制造技术

本发明专利技术涉及计算机测试技术领域,公开了一种计算机环境性能测试设备,该装置包括若干测试框架、温度调节机构和温度检测机构；若干测试框架围设成容纳仓，容纳仓设有开口，容纳仓至少有一个侧面设置透明防爆玻璃；温度调节机用于改变容纳仓内的环境温度；温度检测机构用于检测计算机的温度变化。测试时，通过开口将计算机放入容纳仓内，并将计算机与容纳仓外部的电源连通，通过温度调节机构改变容纳仓内环境温度，接着通过温度检测机构观察计算机的温度变化，同时观察计算机的运行情况，从而测试出计算机是否满足出厂所需的环境性能。测试过程中，测试人员可处于容纳仓设置有透明防爆玻璃的一侧对容纳仓内的情况进行观测，保障了测试人员的安全。试人员的安全。试人员的安全。

【技术实现步骤摘要】
计算机环境性能测试设备


[0001]本专利技术涉及计算机
，尤其是涉及一种计算机环境性能测试设备。

技术介绍

[0002]随着科技的发展，计算机已逐渐成为了人们生活中不可或缺的智能产品，因此人们对计算机的性能要求越来越高。
[0003]现有技术中，在计算机出厂前，厂家通常会对计算机的软件或硬件性能进行测试，例如测试计算机程序运行情况、或者测试计算机的鼠标键盘等灵敏程度以及防尘效果等。
[0004]但是，对于某些特殊需求，例如需要在户外或者其他环境变化可能性较大的场景下使用计算机时，则无法断定计算机在不同环境下是否还能满足其安全性和功能性；因此，如何对计算机进行环境性能测试，成为了本领域一个亟待解决的问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供了一种计算机环境性能测试设备，上述计算机环境性能测试设备能够在保障测试人员安全的情况下，准确检测计算机的环境性能。
[0006]为达到上述目的，本专利技术提供以下技术方案：
[0007]一种计算机环境性能测试设备，包括若干测试框架、温度调节机构以及温度检测机构；其中，若干测试框架围设成用于容纳计算机的容纳仓，容纳仓至少有一个侧面设有用于运输计算机的开口，容纳仓至少有一个侧面设置透明防爆玻璃；温度调节机构设置于容纳仓内、且用于改变容纳仓内的环境温度；温度检测机构用于检测计算机的温度变化。
[0008]本专利技术提供的计算机环境性能测试设备，当需要对计算机进行环境性能测试时，先通过开口将计算机放入容纳仓内，并将计算机与容纳仓外部的电源连通以启动计算机，然后通过温度调节机构来改变容纳仓内环境温度，接着通过温度检测机构观察计算机的温度变化，同时观察计算机的运行情况，判断在不同温度下计算机是否能够良好运行、以及是否会出现短路甚至爆炸等危害安全的情况，从而测试出计算机是否满足出厂所需的环境性能。
[0009]这种设置方式，通过测试框架搭建出容纳仓的方式为计算机的环境性能测试提供了空间；且结合温度调节机构和温度检测机构来判断出计算机在所需实验温度下是否满足性能要求，以准确检测计算机的环境性能；而在测试过程中，测试人员可处于容纳仓设置有透明防爆玻璃的一侧对容纳仓内的情况进行观测，保障了测试人员的安全。
[0010]可选地，温度调节机构包括暖风装置；暖风装置用于向容纳仓内吹出暖风，以改变容纳仓内的环境温度。
[0011]可选地，暖风装置包括风扇以及电热丝；电热丝用于对风扇旋转形成的风进行加热。
[0012]可选地，计算机环境性能测试设备还包括滤网；滤网设置于容纳仓内，且位于风扇背离电热丝的一侧，滤网用于收集容纳仓内空气中的杂质。
[0013]可选地，计算机环境性能测试设备还包括淋水机构；淋水机构设置于容纳仓内、且用于向位于容纳仓中的计算机喷水。
[0014]可选地，淋水机构包括水箱和喷头；水箱与喷头通过管路连接。
[0015]可选地，温度检测机构还用于检测容纳仓内环境温度的变化。
[0016]可选地，温度检测机构包括第一温度仪和第二温度仪；第一温度仪用于检测计算机的温度变化，第二温度仪用于检测容纳仓中温度的变化。
[0017]可选地，计算机环境性能测试设备还包括支撑架、绝缘台、底座以及测试平台；支撑架用于支撑测试框架，且绝缘台安装于支撑架；底座安装于绝缘台，测试平台安装于绝缘台背离底座的一侧，测试平台用于放置计算机。
[0018]可选地，计算机环境性能测试设备还包括固定支架以及牵引绳；固定支架固定与容纳仓顶面的外壁；牵引绳的一端与固定支架连接、另一端具有挂钩，挂钩用于悬挂计算机，且牵引绳能够在伸长状态和缩短状态之间切换；容纳仓的顶面设有用于避让牵引绳的避让口。
附图说明
[0019]图1为本专利技术实施例提供的计算机环境性能测试设备的主视图；
[0020]图2为本专利技术实施例提供的计算机环境性能测试设备的部分结构示意图。
[0021]图标：1
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测试框架；2
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温度调节机构；3
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温度检测机构；4
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容纳仓；5
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开口；6
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透明防爆玻璃；7
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风扇；8
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电热丝；9
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连接杆；10
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滤网；11
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水箱；12
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喷头；13
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管路；14
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分流器；15
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第一温度仪；16
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第二温度仪；17
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支撑架；18
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绝缘台；19
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底座；20
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测试平台；21
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固定支架；22
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牵引绳；23
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挂钩；24
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避让口；25
‑
水管。
具体实施方式
[0022]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0023]图1为本专利技术实施例提供的计算机环境性能测试设备的主视图；图2为本专利技术实施例提供的计算机环境性能测试设备的部分结构示意图；如图1和图2所示，本专利技术实施例提供的计算机环境性能测试设备，包括若干测试框架1、温度调节机构2以及温度检测机构3；其中，若干测试框架1围设成用于容纳计算机的容纳仓4，容纳仓4至少有一个侧面设有用于运输计算机的开口5，容纳仓4至少有一个侧面设置透明防爆玻璃6；温度调节机构2设置于容纳仓4内、且用于改变容纳仓4内的环境温度；温度检测机构3用于检测计算机的温度变化。
[0024]本实施例提供的计算机环境性能测试设备，包括若干测试框架1、温度调节机构2以及温度检测机构3；其中，若干测试框架1围设成用于容纳计算机的容纳仓4，容纳仓4至少有一个侧面设有用于运输计算机的开口5，容纳仓4至少有一个侧面设置透明防爆玻璃6；温度调节机构2设置于容纳仓4内、且用于改变容纳仓4内的环境温度；温度检测机构3用于检测计算机的温度变化。
[0025]本专利技术提供的计算机环境性能测试设备，当需要对计算机进行环境性能测试时，先通过开口5将计算机放入容纳仓4内，并将计算机与容纳仓4外部的电源连通以启动计算机，然后通过温度调节机构2来改变容纳仓4内环境温度，接着通过温度检测机构3观察计算机的温度变化，同时观察计算机的运行情况，判断在不同温度下计算机是否能够良好运行、以及是否会出现短路甚至爆炸等危害安全的情况，从而测试出计算机是否满足出厂所需的环境性能。
[0026]这种设置方式，通过测试框架1搭建出容纳仓4的方式为计算机的环境性能测试提供了空间；且结合温度调节机构2和温度检测机构3来判断出本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种计算机环境性能测试设备，其特征在于，包括若干测试框架、温度调节机构以及温度检测机构；其中，若干所述测试框架围设成用于容纳计算机的容纳仓，所述容纳仓至少有一个侧面设有用于运输计算机的开口，所述容纳仓至少有一个侧面设置透明防爆玻璃；所述温度调节机构设置于所述容纳仓内、且用于改变所述容纳仓内的环境温度；所述温度检测机构用于检测计算机的温度变化。2.根据权利要求1所述的计算机环境性能测试设备，其特征在于，所述温度调节机构包括暖风装置；所述暖风装置用于向容纳仓内吹出暖风，以改变容纳仓内的环境温度。3.根据权利要求2所述的计算机环境性能测试设备，其特征在于，所述暖风装置包括风扇以及电热丝；所述电热丝用于对所述风扇旋转形成的风进行加热。4.根据权利要求3所述的计算机环境性能测试设备，其特征在于，所述计算机环境性能测试设备还包括滤网；所述滤网设置于所述容纳仓内，且位于所述风扇背离所述电热丝的一侧，所述滤网用于收集所述容纳仓内空气中的杂质。5.根据权利要求1所述的计算机环境性能测试设备，其特征在于，所述计算机环境性能测试设备还包括淋水机构；所述淋水机构设置于所述容纳仓内、且用于向位于所述容纳仓中的计算机喷水。6.根据权利要求5所述的计算机环境性能...

【专利技术属性】
技术研发人员：于舜诰，吴伟刚，潘竞旭，鲁龙，宋颖，陈晓敏，
申请(专利权)人：航天信息股份有限公司，
类型：发明
国别省市：