一种同轴环形材料电磁参数测试座、测试系统测试方法技术方案

本发明专利技术涉及材料电磁参数测量技术领域，尤其涉及一种同轴环形材料电磁参数测试座、测试系统及测试方法。该测试座的待测件夹持部和两个电缆支架均设置在底座，两个电缆支架分别设置在待测件夹持部的两侧，测试电缆的一端穿过电缆支架上的过孔与同轴夹具螺纹连接，且与过孔之间紧配，能够较好的固定测试电缆，防止校准与测试连接过程中电缆随意抖动，避免待测件相平同轴夹具发生不必要移动，保证测试过程中的相位稳定，降低测试误差。两个过孔与同轴夹具同轴设置，电缆支架与底座之间滑动连接，保证同轴夹具两端连接的测试电缆的端口在同一水平线，便于测试电缆与同轴夹具连接，保证多次连接的准确性。次连接的准确性。次连接的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种同轴环形材料电磁参数测试座、测试系统测试方法


[0001]本专利技术涉及材料电磁参数测量
，尤其涉及一种同轴环形材料电磁参数测试座、测试系统及测试方法。

技术介绍

[0002]材料电磁参数测试座是整个材料参数测试系统中一个非常关键的部件，它是用于校准系统以及安装被测样品，并与矢量网络分析仪连接成闭环测试系统的重要装置，测试座设计的优劣，直接影响矢量网络分析仪测试精度。测试座优劣指标主要有两点:
[0003](1)便于材料样品的反复安装，并保证每次安装的一致性；
[0004](2)便于对测试系统进行校准，并保证测试座尽可能稳定。
[0005]以往的传输线波导测试法，使用的测试座由同轴波导转换、波导段和材料样品夹具构成。这种测试座的优点是结构相对简单，容易实现；缺点是测试频带窄、稳定性差，校准过程中波导移动大，样品(待测件)安装过程中电缆抖动大，这些都将影响测量精度和测量系统的稳定性，随着对测试精度的要求越来越高，现有材料电磁参数测试座难以满足测试要求。

技术实现思路

[0006](一)要解决的技术问题
[0007]本专利技术的第一个目的提供一种同轴环形材料电磁参数测试座，能够为测试电缆提供较好的固定，提高测试系统的测试稳定性，降低测试误差，测试频带宽，提高测试效率。
[0008]本专利技术的第二目的是提供一种具有上述测试座的同轴环形材料电磁参数测试系统。
[0009]本专利技术的第三目的是提供一种采用上述测试系统对同轴环形材料进行电磁参数测试的方法。
[0010](二)技术方案
[0011]为了实现上述目的，第一方面，本专利技术提供了一种同轴环形材料电磁参数测试座，包括：
[0012]底座；
[0013]待测件夹持部，设置在底座上，至少包括同轴夹具，同轴夹具为金属材料制成的圆筒形，且的两端具有外螺纹，用于与测试线缆螺纹连接；以及
[0014]两个电缆支架，分别设置在待测件夹持部的两侧，电缆支架上设有供测试电缆穿过的过孔，测试电缆与过孔紧配，两个过孔与同轴夹具同轴设置，电缆支架可滑动的固定在底座，能够沿同轴夹具的轴向移动。
[0015]优选地，待测件夹持部还包括夹具支架，夹具支架固定在底座，在夹具支架上设有用于夹持同轴夹具的钳口。
[0016]优选地，夹具支架为L形，钳口设置在夹具支架的端部。
[0017]优选地，同轴夹具的外周侧设有与钳口相匹配的限位槽。
[0018]优选地，限位槽位于同轴夹具轴向上的中间位置。
[0019]优选地，电缆支架包括移动块和固定块，固定块的上端面设有下半圆槽，移动块的下端面设有上半圆槽，移动块的下端面与固定块的上端面对接时，上半圆槽和下半圆槽形成过孔，移动块与固定块之间通过锁紧螺钉连接，通过调节锁紧螺钉能够调整移动块与固定块之间的距离。
[0020]优选地，底座包括两个间隔设置的立板，在两个立板的上侧设有导轨和支撑杆，导轨和支撑杆平行设置，且导轨和支撑杆均分别与两个立板连接；
[0021]电缆支架上设有与导轨相配合的滑块，电缆支架通过滑块安装在导轨，待测件夹持部安装在支撑杆。
[0022]优选地，两个立板之间设有连接两个立板的连接杆。
[0023]第二方面，本专利技术还提供了一种同轴环形材料电磁参数测试系统，包括第一方面中任一种同轴环形材料电磁参数测试座；
[0024]矢量网络分析仪，一个测试电缆的一端与矢量网络分析仪的发射端口连接，另一端穿过一个电缆支架上的过孔与同轴夹具的一端同轴螺纹连接，又一个测试电缆的一端与矢量网络分析仪的接收端口连接，另一端穿过另一个电缆支架上的过孔与同轴夹具的另一端同轴螺纹连接，用于测量得到待测件的S参数；以及
[0025]计算机，与矢量网络分析仪信号连接，用于设置测试系统参数、接收矢量网络分析仪测得的S参数并处理得到待测件的电磁参数。
[0026]第三方面，本专利技术还提供了一种同轴环形材料电磁参数测试方法，采用第二方面中任一种同轴环形材料电磁参数测试系统，包括以下步骤：
[0027]S1、根据测试要求在计算机上设置系统参数；
[0028]S2、对测量系统进行两端口校准，首先断开同轴夹具与测试电缆的连接，然后按顺序依次在同轴夹具上连接开路校准件、短路校准件、匹配负载校准件进行校准。
[0029]S3、将圆环状的待测件同轴紧配装入到同轴夹具，测试电缆的与同轴夹具的两端螺纹连接，形成测试的闭合回路，在计算机上输入待测件与同轴夹具的轴向长度；
[0030]S4、矢量网络分析仪进行扫频测量，得到待测件的S参数；
[0031]S5、将得到的待测件的S参数经计算机处理，得到待测件电磁参数。
[0032](三)有益效果
[0033]本专利技术的上述技术方案具有如下优点：本专利技术提供的同轴环形材料电磁参数测试座，包括底座、待测件夹持部和两个电缆支架，其中，待测件夹持部和两个电缆支架均设置在底座，两个电缆支架分别设置在待测件夹持部的两侧，电缆支架上设有供测试电缆穿过的过孔，测试电缆的一端能够穿过过孔与同轴夹具螺纹连接，且测试电缆与过孔之间紧配，能够较好的固定测试电缆，防止其在校准与测试连接过程中电缆随意抖动，避免待测件相平同轴夹具发生不必要移动，保证测试过程中的相位稳定，降低测试误差。两个过孔与同轴夹具同轴设置，电缆支架与底座之间为滑动连接，电缆支架能够沿同轴夹具的轴向移动，调整电缆支架与同轴夹具在轴向的距离，能够保证同轴夹具两端连接的测试电缆的端口在同一水平线上，便于测试电缆与同轴夹具连接，保证多次连接的准确性。相对现有波导测试座，采用测试座能够一次性完成整个频段的测试，提高了测试效率。
[0034]本专利技术提供的同轴环形材料电磁参数测试系统，能够较好的固定测试电缆，测试频带宽，提高测试准确率及测试效率。
[0035]本专利技术提供的同轴环形材料电磁参数测试方法，能够较好的固定测试电缆，测试准确率及测试效率高，相对采用现有波导测试座测试频带度，能够简化测试后步骤。
附图说明
[0036]本专利技术附图仅为说明目的提供，图中各部件的比例与数量不一定与实际产品一致。
[0037]图1是本专利技术实施例中一种同轴环形材料电磁参数测试座的结构示意图；
[0038]图2是图1中电磁参数测试座另一角度的局部分解状态结构示意图；
[0039]图3是图1中电磁参数测试座又一角度的结构示意图；
[0040]图4是本专利技术实施例中一种待测件夹持部的分解结构示意图。
[0041]图中：1：底座；11：立板；12：导轨；13：支撑杆；14：连接杆；
[0042]2：待测件夹持部；21：同轴夹具；211：限位槽；22：夹具支架；221：钳口；
[0043]3：电缆支架；31：固定块；311：下半圆槽；32：移动块；321：上半圆槽；33：锁紧螺钉；34：过孔；35：滑块；
[0044]4：测试电缆。
具体实施方式
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种同轴环形材料电磁参数测试座，其特征在于，包括：底座；待测件夹持部，设置在所述底座上，至少包括同轴夹具，所述同轴夹具为金属材料制成的圆筒形，且两端具有外螺纹，用于与测试线缆螺纹连接；以及两个电缆支架，分别设置在所述待测件夹持部的两侧，所述电缆支架上设有供所述测试电缆穿过的过孔，所述测试电缆与所述过孔紧配，两个所述过孔与所述同轴夹具同轴设置，所述电缆支架可滑动的固定在所述底座，能够沿所述同轴夹具的轴向移动。2.根据权利要求1所述的材料电磁参数测试座，其特征在于：所述待测件夹持部还包括夹具支架，所述夹具支架固定在所述底座，在所述夹具支架上设有用于夹持所述同轴夹具的钳口。3.根据权利要求2所述的材料电磁参数测试座，其特征在于：所述夹具支架为L形，所述钳口设置在所述夹具支架的端部。4.根据权利要求2或3所述的材料电磁参数测试座，其特征在于：所述同轴夹具的外周侧设有与钳口相匹配的限位槽。5.根据权利要求4所述的材料电磁参数测试座，其特征在于：所述限位槽位于所述同轴夹具轴向上的中间位置。6.根据权利要求1所述的材料电磁参数测试座，其特征在于：所述电缆支架包括移动块和固定块，所述固定块的上端面设有下半圆槽，所述移动块的下端面设有上半圆槽，所述移动块的下端面与所述固定块的上端面对接时，所述上半圆槽和所述下半圆槽形成所述过孔，所述移动块与所述固定块之间通过锁紧螺钉连接，通过调节所述锁紧螺钉能够调整所述移动块与所述固定块之间的距离。7.根据权利要求1所述的材料电磁参数测试座，其特征在于：所述底座包括两个间隔设置的立板，在两个所述立板的上侧设有导轨和支撑杆，所述导轨和支撑杆平行设置，且所述导轨和支撑杆均分别与两个所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：李宁，徐向明，苟菲，杨丽，
申请(专利权)人：北京环境特性研究所，
类型：发明
国别省市：