一种用于X射线背散射安检系统的图像采集系统技术方案

本发明专利技术涉及一种用于X射线背散射安检系统的图像采集系统包括：电源、依次连接的探测器、外置放大器、AD采样电路、FPGA控制和处理电路、数据传输接口电路；所述FPGA控制和处理电路还控制所述AD采样电路以及数据传输接口电路；所述FPGA控制和处理电路中包括依次连接的超采样模块、像素点比较模块、像素点分级加权模块；所述电源为所述探测器、外置放大器、AD采样电路、FPGA控制和处理电路、数据传输接口电路供电。本发明专利技术提供的用于X射线背散射安检系统的图像采集系统，将鉴频电路改为外置放大器，将鉴频功能放在FPGA内实现。很好的解决了鉴频电路稳定性差，容易受到干扰，存在速度瓶颈等问题。题。题。

【技术实现步骤摘要】
一种用于X射线背散射安检系统的图像采集系统


[0001]本专利技术涉及一种用于X射线背散射安检系统的图像采集系统，属于集成电路设计


技术介绍

[0002]X射线安检设备目前广泛应用于反恐安防，快递物流以及工业探伤等领域。所应用的技术多种多样，按射线源分类有单能射线源，多能射线源；按照扫描方式分类有点扫描、线扫描、计算机断层扫描成像技术；按照射方式分类有测照式、底照式、顶照式；按成像视角分类有单视角探测、多视角探测；按成像原理分类有透射成像技术、散射成像技术；按移动性分类有固定式设备、移动车载式设备和手持式设备；按被测物体分类有托运行李检查设备、集装箱检查设备，人体扫描检查设备等等。
[0003]目前安检设备发展已经比较成熟，大多是基于透射X射线进行检测，其根据物质对X射线的吸收程度不同进行分辨，在一定程度上可以分辨吸收能力强的高原子序数物质，如金属手枪、炮弹等，但对吸收能力差的低原子序数违禁物品（如炸药、毒品等）检测能力有限。而X射线背散射成像技术利用射线与物质相互作用时的康普顿散射效应对物质属性进行探测，其成像信息反映了被测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于X射线背散射安检系统的图像采集系统，其特征在于，包括：电源、依次连接的探测器、外置放大器、AD采样电路、FPGA控制和处理电路、数据传输接口电路；所述FPGA控制和处理电路还控制所述AD采样电路以及数据传输接口电路；所述FPGA控制和处理电路中包括依次连接的超采样模块、像素点比较模块、像素点分级加权模块；所述电源为所述探测器、外置放大器、AD采样电路、FPGA控制和处理电路、数据传输接口电路供电。2.根据权利要求1所述的用于X射线背散射安检系统的图像采集系统，其特征在于：所述探测器包括塑料闪烁体和光电倍增管，功能是把光信号转换为脉冲电信号。3.根据权利要求2所述的用于X射线背散射安检系统的图像采集系统，其特征在于：所述AD采样电路的模数转换芯片为AD9226，最大采样频率为65MHz。4.根据权利要求3所述的用于X射线背散射安检系统的图像采集系统，其特征在于：所述FPGA控制和处理电路，根据安检系统的参数计算出图像一行扫描像素数...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹山，刘晓峰，
申请(专利权)人：山东芯慧微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：