一种表面检测方法及系统技术方案

本发明专利技术提供了一种表面检测方法及系统，方法包括：通过预设的线阵相机线扫描待检测面，采集得到第一数据集，通过预设的线激光扫描仪线扫描待检测面，采集得到第二数据集；基于线性比例关系，在第二数据集中插入第三数据集进行数据扩展，使扩展后的第二数据集在行数与第一数据相等；通过预设算法分析第一数据集和扩展后的第二数据集之间的相关性，实现待检测面的表面检测。本发明专利技术通过线阵相机和线激光扫描仪相结合的方式实现表面检测，能够同时兼顾二维信息及三维信息的信息处理、且能在运动状态下进行检测，实现更好的表面检测效果。线阵相机、线激光扫描仪被集成在同一位置上，占用空间小。间小。间小。

【技术实现步骤摘要】
一种表面检测方法及系统


[0001]本专利技术涉及表面检测领域，具体而言，涉及一种表面检测方法及系统。

技术介绍

[0002]传统的工业生产制造，由于技术的限制主要采用人工检测的方法去检测产品表面的缺陷，这种方法由于人工的限制和技术的落后，不仅产品检测的速度慢、效率低下，而且在检测的过程中容易出错，从而导致了检测结果的不精确。
[0003]现有技术中出现了利用机器进行表面检测的技术。然而，在自动化的检测领域之中，随着生产目标复杂度的增加，单纯的二维检测或三维检测已无法满足日益增产的产品需求。在具体应用中，客户不仅要求对产品二维平面的表面缺陷进行检测，也会要求设备对其立体尺寸信息进行分析。
[0004]因此，同时兼顾二维信息及三维信息的信息处理将对行业应用愈发显得重要。然而，现有技术中，表面检测领域在进行二维信息及三维信息数据处理方法之中，通常都是设计两个独立的工站分别完成二维方面和三维方面的需求，空间成本高。且现有的检测技术普遍需要待检测对象处于静止状态下，而待检测对象在运动状态下无法进行检测，导致检测时间长、检测效率低。此外，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种表面检测方法，其特征在于，包括如下：通过预设的线阵相机线扫描待检测面，采集得到第一数据集，通过预设的线激光扫描仪线扫描所述待检测面，采集得到第二数据集，所述线阵相机和所述线激光扫描仪同时扫描所述待检测面上的同一个位置；其中，所述第一数据集和所述第二数据集均为二维数据集，在列数相等、在行数上不等且具有线性比例关系；基于所述线性比例关系，在所述第二数据集中插入第三数据集进行数据扩展，使扩展后的第二数据集在行数与所述第一数据相等；其中，所述第三数据集为二维数据集、且在列数与所述第二数据集相同；通过预设算法分析所述第一数据集和扩展后的第二数据集之间的相关性，实现所述待检测面的表面检测。2.根据权利要求1所述的表面检测方法，其特征在于，所述第三数据集的获取过程包括：高频控制器设置一个二维数据集作为初始数据集，所述初始数据集的行数为所述线性比例关系在数值上减一、列数与所述第二数据集的列数相同；通过所述初始数据集对应的辉度变化，求解其一阶导数，所以初始数据集一阶导数的倒数表示所述初始数据集在最后一列、最后一行上的数据点的斜率变化；基于所述斜率变化，计算所述第二数据集在插值点上的数据变化速度，求解得到的初始数据集即为所述第三数据集。3.根据权利要求2所述的表面检测方法，其特征在于，所述第一数据集Da为{Da(a，x)|a＝1，2，...m，x＝1，2，...N}；所述第二数据集Dr为{Dr(b，y)|b＝1，2，...m，y＝1，2，...N}；其中，x、y表示数据集的列数，且x＝y，a、b表示数据集的行数，且a＝tb，b＞1；所述第一数据集和所述第二数据集构成的数据集合Data可表示为：其中，t表示线性比例关系，N为自然数；将所述第二数据集中插入b(t
‑
1)*x个数据点，由Dr(b，y)扩展为Dr(tb，y)。4.根据权利要求3所述的表面检测方法，其特征在于，设所述初始数据集为P(tb
‑
r，x)，r＜b；所述初始数据集的一阶导数I
x，tb，r
为：其中，Da(tb，x)表示第一数据集中第tb行、第x列的数据点，Dr(tb
‑
r，x)表示第二数据集中第tb
‑
r行、第x列的数据点，I
x，tb，r
的倒数表示初始数据集中第x行、第tb
‑
r列的数据点的斜率变化；基于所述斜率变化，计算插值点的数据变化速度，得到初始数据集为：
P(tb
‑
r，x)＝I
x，tb，r
*|Dr(tb，x)
‑
Dr(tb
‑
b，x)|其中，I
x，tb，r
为初始数据集的一阶导数，r为一个中间值，Da(tb
‑
r，x)表示第一数据集中第tb
‑
r行、第x列的数据点，Da(tb，x)表示第一数据集中第tb行、第x列的数据点，Dr(tb<...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖勉力，冯煜，
申请(专利权)人：深圳市霄光科技有限公司，
类型：发明
国别省市：