纳米磁学扫描成像系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种纳米磁学扫描成像系统及方法，包括：被测样品模块用于实现栅格式扫描成像；量子探针模块用于在扫描成像过程中，控制量子探针与被测样品之间保持预设距离；物镜模块通过反射镜与光学模块连接，用于对被测样品与量子探针之间的距离和位置进行细对准，并将激发光路传输过来的预设波长的绿色激光聚焦到量子探针中的NV

【技术实现步骤摘要】
纳米磁学扫描成像系统及方法


[0001]本专利技术涉及成像
，特别涉及一种微观磁学扫描成像系统及方法。

技术介绍

[0002]高精度的弱磁测量技术是现代探测技术的重要组成部分，高精度弱磁探测技术被广泛应用于基础物理、自旋电子学、化学、材料科学、生命科学、石油勘探等重大基本领域。
[0003]目前，相关技术中对于一些简单的测量能够满足，但是在某些要求更高的领域则无法满足要求，有待解决。

技术实现思路

[0004]本专利技术旨在为解决上述相关技术问题提供一种重要的技术手段。
[0005]为此，本专利技术的一个目的在于提出一种纳米磁学扫描成像系统，通过多个模块之间联动即可实现NV-色心的定位和量子扫描磁成像，有效提高了自动化水平，而且可以实现室温大气等多变环境下成像，极大满足了微观磁成像的要求。
[0006]本专利技术的另一个目的在于提出一种纳米磁学扫描成像方法。
[0007]为了实现上述目的，本专利技术的一方面公开了一种纳米磁学扫描成像系统，包括：被测样品模块，所述被测样品模块用于实现栅格式扫描本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种纳米磁学扫描成像系统，其特征在于，包括：被测样品模块，所述被测样品模块用于实现栅格式扫描成像；量子探针模块，所述量子探针模块用于在扫描成像过程中，控制量子探针与被测样品之间保持预设距离；以及物镜模块，所述物镜模块通过反射镜与光学模块连接，用于对所述被测样品与所述量子探针之间的距离和位置进行细对准，并将激发光路传输过来的预设波长的绿色激光聚焦到所述量子探针中的NV-色心，并收集由所述NV-色心发出的红色荧光；控制模块，所述控制模块分别与所述被测样品模块、所述量子探针模块和所述物镜模块相连，用于根据输入的控制指令控制所述被测样品模块、所述量子探针模块和所述物镜模块执行相应动作，以实现对所述量子探针中NV-色心的定位和量子扫描磁成像。2.根据权利要求1所述的纳米磁学扫描成像系统，其特征在于，所述量子探针模块，包括：量子探针；量子探针角度位移台；用于调整所述量子探针的角度，以使得所述量子探针下表面与所述被测样品表面保持平行；量子探针微米位移台，用于对所述量子探针的位置进行粗调，以实现物镜与所述量子探针进行粗对准；量子探针角度位移台控制器，用于控制所述量子探针角度位移台；量子探针微米位移台控制器，用于控制所述量子探针微米位移台，实现x、y、z三个方向移动。3.根据权利要求2所述的纳米磁学扫描成像系统，其特征在于，所述量子探针角度位移台旋转范围为
±5°
，角位移精度为25〞。4.根据权利要求1所述的纳米磁学扫描成像系统，其特征在于，所述物镜模块，包括：物镜，用于将激发光聚焦到所述NV-色心使其极化，并对所述NV-色心发出的红色荧光进行收集；物镜纳米位移台，用于对所述量子探针进行细对准和共聚焦扫描成像中带动所述物镜移动；物镜纳米位移台控制器，用于控制所述物镜纳米位移台。5.根据权利要求1所述的纳米...

【专利技术属性】
技术研发人员：张伟杰，贺羽，许克标，
申请(专利权)人：国仪量子合肥技术有限公司，
类型：发明
国别省市：