一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法技术

本发明专利技术公开一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法，包括以下步骤：S1：确认复测AOI机台与MES管理系统建立连接；S2：确认所检测的标准产品位于检测位，并点亮；S3：侧相机对检测位上的产品进行拍照，并保存；S4：使用步骤S3中所保存的图片进行模板注册，将其作为模板图片，且模板图片屏蔽产品上的盲孔位置；S5：采用已进行人工盲孔检测的产品进行测试，确认该产品位于复测AOI机台上的检测位，重复步骤S3；S6：复测AOI机台采用异性曲边算法对步骤S5中所得图片进行计算，判断其为孔内良品或孔内不良品；S7：若判断结果与人工盲孔检测结果一致，则所述复测AOI机台可正常投产使用。本发明专利技术可进行产品盲孔孔内不良的批量自动检测，有效提高生产效率。产效率。产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法


[0001]本专利技术涉及盲孔检测方法领域，尤其涉及一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法。

技术介绍

[0002]目前复测AOI机台只能检测产品的电性能不良，例如产品点亮后的亮点、亮团、暗点等，而盲孔孔内不良无法进行检测，因为盲孔孔内不发光，相机成像无法确认孔内不良情况。现有技术中，在检测时一般是直接屏蔽掉产品上的盲孔，采用该种方式，会导致百分百漏检孔内不良，最终导致不良品的流程；另外，现有技术中盲孔孔内不良若进行检测，一般是通过人工进行的，检测效率及准确率均较低，同时，存在误判的问题。
[0003]因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是克服现有技术的不足，提供一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法，解决现有技术中，盲孔孔内不良检测效率及准确率低的问题，同时解决检测过程中误判的问题。
[0005]本专利技术的技术方案如下：一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法，包括以下步骤：
[0006]S1：确认复测AOI机台与MES管理系统建立通讯连接，并确认复测AOI机台上的机台相机、PG主板、工控机处于正常通讯状态。
[0007]S2：确认复测AOI机台所检测的标准产品位于检测位，并点亮该标准产品。
[0008]S3：打开机台相机的侧相机，对检测位上的产品进行拍照，并将所得图片进行保存。
[0009]S4：在所述侧相机的画面中，使用步骤S3中所保存的图片进行模板注册，将其作为模板图片，且所述模板图片屏蔽产品上的盲孔位置。
[0010]S5：采用已进行人工盲孔检测的产品进行测试，确认该产品位于复测AOI机台上的检测位，并重复步骤S3。
[0011]S6：复测AOI机台采用异性曲边算法对步骤S5中所得图片进行计算，判断其为孔内良品或孔内不良品。
[0012]S7：若判断结果与人工盲孔检测结果一致，则所述复测AOI机台可正常投产使用。
[0013]进一步地，所述步骤S7之后还包括：
[0014]步骤S8：若步骤S6的判断结果与人工盲孔检测结果不一致，则对所述复测AOI机台的异性曲边算法的参数进行修正，并重复步骤S5～S6，直到检测结果与人工盲孔检测结果一致。
[0015]进一步地，所述异性曲边算法的参数包括：坐标、曲边方向、分割阈值、面积。
[0016]进一步地，所述步骤S3为：打开AOI机台相机的侧相机，查看其是否可以正常成像，
若可以正常成像，则调试侧相机的相机参数，并查看其成像是否标准，若成像标准，则进行拍照。
[0017]进一步地，所述相机参数为光圈、焦距。
[0018]进一步地，所述步骤S2为：确认复测AOI机台所检测的标准产品位于检测位，并通过PG主板将标准产品点亮为白屏或黑屏。将产品点亮为黑屏时，若产品盲孔孔内不良，则盲孔内会冒出白光，侧相机所拍的图片中可显示出该白光；而产品点亮为白屏时，若产品盲孔孔内不良，则盲孔孔内为黑色透出白色光，同样侧相机所拍的图片可显示出该现象，而对比白屏和黑屏，黑屏状态下，产品盲孔孔内不良时，现象更直观，更容易发现，因此，标准产品优选点亮为黑屏。
[0019]采用上述方案，本专利技术提供一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法，具有以下有益效果：
[0020]1、可进行产品的亮点、亮团、暗点的测试，不影响现有技术中复测AOI的原有功能以及所设置的相关参数，在此基础上还可进行产品盲孔孔内不良的批量自动检测，有效提高生产效率；
[0021]2、对比现有技术中，将盲孔进行屏蔽不检测，导致产品百分百漏检孔内不良的问题，本专利技术可有效提高产品的质量；
[0022]3、而对比人工检测，可防止误判的问题，增加盲孔孔内不良判断的准确性。
附图说明
[0023]图1为本专利技术的流程框图。
具体实施方式
[0024]以下结合附图和具体实施例，对本专利技术进行详细说明。
[0025]请参照图1，本专利技术提供一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法，包括以下步骤：
[0026]S1：确认复测AOI机台与MES管理系统建立通讯连接，并确认复测AOI机台上的机台相机、PG主板、工控机处于正常通讯状态。所述复测AOI机台与MES管理系统建立连接，MES管理系统同时与多台复测AOI机台建立通讯连接，可进行数据交互；工控机、PG主板通过信号线连接，工控机用于向所述PG主板发送点亮产品的消息，PG主板用于提供电流、电压给产品，控制产品点亮；机台相机包括多个侧相机、上相机、底相机(根据相机位于检测位不同方位的方式进行定义的)。
[0027]S2：确认复测AOI机台所检测的标准产品位于检测位，并点亮该标准产品；具体地，在本实施例中，标准产品点亮为黑屏。检测位为检测产品时，产品所需位于的位置，具体可根据实际生产确定其具体位置；需要说明的是此步骤中的标准产品上的亮点、亮团、暗点等均正常的产品(或者说不存在亮点、亮团、暗点)。
[0028]S3：打开机台相机的侧相机，对检测位上的产品进行拍照，并将所得图片进行保存。
[0029]S4：在所述侧相机的黑画面中，使用步骤S3中所保存的图片进行模板注册，将其作为模板图片，且所述模板图片屏蔽产品上的盲孔位置。该模板图片作为产品上的亮点、亮团、暗点测试时的模板，用于产品上亮点、亮团、暗点的测试。
[0030]S5：采用已进行人工盲孔检测的产品进行测试，确认该产品位于复测AOI机台上的检测位，并重复步骤S3。该产品为孔内良品或孔内不良品为已知。
[0031]S6：复测AOI机台采用异性曲边算法对步骤S5中所得图片进行计算，判断其为孔内良品或孔内不良品。
[0032]具体地，所述异性曲边算法的计算过程为：将步骤S5中所得图片在框选的坐标范围(具体框选面积或范围可提前进行预设或根据实际需求进行设定，另外，需要说明的是相同产品的盲孔的位置一般是相同的)内使用异性曲边算法，通过设置的曲边方向确定缺陷是否位于孔内，再通过所设置的分割阈值来识别盲孔边缘像素，当盲孔边缘像素亮度值大于所设的分割阈值时，则判定为缺陷像素，最后若缺陷像素面积大于异性曲边算法中所设置的面积的值，则判定该产品为盲孔的孔内不良品，反之则为孔内良品。
[0033]S7：若判断结果与人工盲孔检测结果一致，则所述复测AOI机台可正常投产使用。
[0034]S8：若步骤S6的判断结果与人工盲孔检测结果不一致，则对所述复测AOI机台的异性曲边算法的参数进行修正，并重复步骤S5～S6，直到检测结果与人工盲孔检测结果一致。具体地，在本实施例中，所述异性曲边算法的参数包括：坐标、曲边方向、分割阈值、面积。
[0035]本专利技术中的一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法，通过侧相机进行标准产品点亮时的拍照，并将所得图片在侧相机的画面中(包括黑画面和白画面，本专利技术中为黑画面)进行模板注册，作为后续批量检测产品时，产品上的亮点、亮团、暗点测试时的参考本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：确认复测AOI机台与MES管理系统建立通讯连接，并确认复测AOI机台上的机台相机、PG主板、工控机处于正常通讯状态；S2：确认复测AOI机台所检测的标准产品位于检测位，并点亮该标准产品；S3：打开机台相机的侧相机，对检测位上的产品进行拍照，并将所得图片进行保存；S4：在所述侧相机的画面中，使用步骤S3中所保存的图片进行模板注册，将其作为模板图片，且所述模板图片屏蔽产品上的盲孔位置；S5：采用已进行人工盲孔检测的产品进行测试，确认该产品位于复测AOI机台上的检测位，并重复步骤S3；S6：复测AOI机台采用异性曲边算法对步骤S5中所得图片进行计算，判断其为孔内良品或孔内不良品；S7：若判断结果与人工盲孔检测结果一致，则所述复测AOI机台可正常投产使用。2.根据权利要求1所述的一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法，其特征在于，所述步骤S7之后还包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：林鹏飞，刘传强，李照辉，谌鹏，刘剑锋，
申请(专利权)人：赣州市同兴达电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：