一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法技术

本发明专利技术公开一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法，包括以下步骤：S1：确认复测AOI机台与MES管理系统建立连接；S2：确认所检测的标准产品位于检测位，并点亮；S3：侧相机对检测位上的产品进行拍照，并保存；S4：使用步骤S3中所保存的图片进行模板注册，将其作为模板图片，且模板图片屏蔽产品上的盲孔位置；S5：采用已进行人工盲孔检测的产品进行测试，确认该产品位于复测AOI机台上的检测位，重复步骤S3；S6：复测AOI机台采用异性曲边算法对步骤S5中所得图片进行计算，判断其为孔内良品或孔内不良品；S7：若判断结果与人工盲孔检测结果一致，则所述复测AOI机台可正常投产使用。本发明专利技术可进行产品盲孔孔内不良的批量自动检测，有效提高生产效率。产效率。产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法


[0001]本专利技术涉及盲孔检测方法领域，尤其涉及一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法。

技术介绍

[0002]目前复测AOI机台只能检测产品的电性能不良，例如产品点亮后的亮点、亮团、暗点等，而盲孔孔内不良无法进行检测，因为盲孔孔内不发光，相机成像无法确认孔内不良情况。现有技术中，在检测时一般是直接屏蔽掉产品上的盲孔，采用该种方式，会导致百分百漏检孔内不良，最终导致不良品的流程；另外，现有技术中盲孔孔内不良若进行检测，一般是通过人工进行的，检测效率及准确率均较低，同时，存在误判的问题。
[0003]因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是克服现有技术的不足，提供一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法，解决现有技术中，盲孔孔内不良检测效率及准确率低的问题，同时解决检测过程中误判的问题。
[0005]本专利技术的技术方案如下：一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法，包括以下步骤：
[0006]S1：确认复测AOI机台与MES管本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：确认复测AOI机台与MES管理系统建立通讯连接，并确认复测AOI机台上的机台相机、PG主板、工控机处于正常通讯状态；S2：确认复测AOI机台所检测的标准产品位于检测位，并点亮该标准产品；S3：打开机台相机的侧相机，对检测位上的产品进行拍照，并将所得图片进行保存；S4：在所述侧相机的画面中，使用步骤S3中所保存的图片进行模板注册，将其作为模板图片，且所述模板图片屏蔽产品上的盲孔位置；S5：采用已进行人工盲孔检测的产品进行测试，确认该产品位于复测AOI机台上的检测位，并重复步骤S3；S6：复测AOI机台采用异性曲边算法对步骤S5中所得图片进行计算，判断其为孔内良品或孔内不良品；S7：若判断结果与人工盲孔检测结果一致，则所述复测AOI机台可正常投产使用。2.根据权利要求1所述的一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法，其特征在于，所述步骤S7之后还包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：林鹏飞，刘传强，李照辉，谌鹏，刘剑锋，
申请(专利权)人：赣州市同兴达电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：