一种半导体光电性能测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种半导体光电性能测试装置，属于光电性能测试领域，包括支撑柱，所述支撑柱的顶部固定连接有测试台，所述测试台的内部活动套接有滑动板，所述滑动板的顶部固定连接有齿板；通过设置一号橡胶套，当在测试二极管时，将二极管分别套接在一号橡胶套和二号橡胶套的内部，使得具有弹性效果的一号橡胶套和二号橡胶套将二极管固定在其内部，促使滑动板滑动时得以通过二极管带动导电脚针套接在二号导电套内部，从而使得二号导电套得以通过导电脚针对二极管进行通电测试，使得避免了因二极管体积较小导致在测试二极管时不便对二极管进行固定的问题，进而为半导体的光电性能测试带来了便利。能测试带来了便利。能测试带来了便利。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体光电性能测试装置


[0001]本技术属于光电性能测试
，具体涉及一种半导体光电性能测试装置。

技术介绍

[0002]半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，半导体发光二极管已经被广泛应用于指示灯、信号灯、仪表显示、手机背光源、车载光源等场合，照明领域的应用也越来越广泛，但是过去对于半导体发光二极管的测试没有较全面的标准，不同的研究机构对此争议较大，导致对LED产业的发展造成严重影响，半导体发光二极管的测试包括多个方面，例如电特性、光特性、开关特性等。
[0003]现有的半导体发光二极管在生产时需要对其光电特性进行测试，然而，因半导体发光二极管的体积较小导致在测试时不便对半导体发光二极管进行固定的问题，同时因生产时半导体发光二极管的数量较多，导致测试较为缓慢的问题，为此，我们提出一种半导体光电性能测试装置。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种半导体光电性能测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。<br/>[0005]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体光电性能测试装置，包括支撑柱(1)，其特征在于：所述支撑柱(1)的顶部固定连接有测试台(2)，所述测试台(2)的内部活动套接有滑动板(3)，所述滑动板(3)的顶部固定连接有齿板(4)，且滑动板(3)的顶部固定连接有一号橡胶套(5)，所述滑动板(3)的顶部固定连接有二号橡胶套(6)，所述一号橡胶套(5)的内部活动套接有二极管(7)，所述二极管(7)的外部电性连接有导电脚针(8)，所述测试台(2)的内壁固定连接有一号导电套(9)，所述测试台(2)的顶部固定连接有支撑杆(10)，所述支撑杆(10)的一端固定连接有二号导电套(11)，所述测试台(2)的一侧固定安装有红外感应器(12)，且测试台(2)的顶部固定安装有控制器(13)，所述控制器(13)包括信号接收单元(131)、信号处理单元(132)和电流控制单元(133)，所述测试台(2)的内部设置有滑动机构(14)，且测试台(2)的侧面设置有传动机构(15)。2.根据权利要求1所述的一种半导体光电性能测试装置，其特征在于：所述一号橡胶套(5)与二号橡胶套(6)的大小相同，且一号橡胶套(5)与二号橡胶套(6)以二号导电套(11...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈辰，宋杰，罗官，
申请(专利权)人：山东省赛富电子有限公司，
类型：新型
国别省市：