用于放射性样品的中子照相的检测系统技术方案

本发明专利技术的实施例公开了一种用于放射性样品的中子照相的检测系统，包括：样品控制装置，所述放射性样品连接于所述样品控制装置，样品控制装置用于控制所述放射性样品的姿态以使所述放射性样品的不同位置位于所述中子束的入射路径上；成像装置，所述成像装置包括多个成像屏组件和成像屏控制机构。其中，所述成像屏组件具有成像位置，所述成像位置与所述放射性样品的安装位置相对应，各所述成像屏组件在所述成像位置接收穿透各不同姿态下的所述放射性样品后的中子束，用于检测所述放射性样品的不同位置；所述成像屏控制机构用于控制所述成像屏组件运动至所述成像位置或者远离所述成像位置。成像位置。成像位置。

【技术实现步骤摘要】
用于放射性样品的中子照相的检测系统


[0001]本专利技术的实施例涉及无损检测
，具体涉及一种用于放射性样品的中子照相的检测系统。

技术介绍

[0002]由燃料棒组成的核燃料元件是反应堆的核心，能直接影响核电厂的安全性、经济性和可靠性。核燃料元件从加工、生产到服役后的不同阶段必须通过多种手段进行检测，以确保质量、保证安全。特别是服役后的乏燃料元件往往会出现燃料芯块肿胀、破裂、变形、包壳吸氢与蠕变、坍塌等问题，都会影响核电站的安全。目前，对核燃料元件的检测可以采用无损检测技术，无损检测技术可以在不破坏样品的情况下原位测量元件的结构和成分变化信息。然而，对于具有放射性的样品，例如乏燃料元件，常规的无损检测技术无法获取检测程序，为了检测乏燃料元件等放射性样品，需要设计一种适用于放射性样品的无损检测装置。

技术实现思路

[0003]根据本专利技术的一个方面，提供了一种用于放射性样品的中子照相的检测系统，包括：样品控制装置，所述放射性样品连接于所述样品控制装置，样品控制装置用于控制所述放射性样品的姿态以使所述放射性样品的不同位置位于所述中子束的入射路径上；成像装置，所述成像装置包括多个成像屏组件和成像屏控制机构；其中，所述成像屏组件具有成像位置，所述成像位置与所述放射性样品的安装位置相对应，各所述成像屏组件在所述成像位置接收穿透各不同姿态下的所述放射性样品后的中子束，用于检测所述放射性样品的不同位置；所述成像屏控制机构用于控制所述成像屏组件运动至所述成像位置或者远离所述成像位置。
附图说明
>[0004]通过下文中参照附图对本专利技术的实施例所作的描述，本专利技术的其它目的和优点将显而易见，并可帮助对本专利技术有全面的理解。
[0005]图1是根据本专利技术一个实施例的中子照相系统的结构示意图。
[0006]图2A是根据本专利技术一个实施例的检测系统的结构示意图。
[0007]图2B是图2A中的检测系统去除中子束限制装置后的结构示意图。
[0008]图3是根据本专利技术一个实施例的成像屏组件的结构示意图。
[0009]图4A是根据本专利技术一个实施例的成像装置的结构示意图。
[0010]图4B是图4A中成像装置去除中子束限制装置后的结构示意图。
[0011]图5是图4B中成像装置的另一视角的结构示意图。
[0012]图6是图5中成像装置中第一储存容器的结构示意图。
[0013]图7是根据本专利技术一个实施例的样品控制装置的结构示意图。
[0014]图8是图7中样品控制装置去除壳体后的结构示意图。
[0015]图9是根据本专利技术一个实施例的限束部和阻挡部的结构示意图。
[0016]需要说明的是，附图并不一定按比例来绘制，而是仅以不影响读者理解的示意性方式示出。
[0017]附图标记说明：
[0018]100、样品控制装置；200、成像装置；
[0019]310、中子束限制装置；311、限制部；320、限束部；330、阻挡部；
[0020]400、支承组件；410、支承平台；420、通孔；
[0021]10、成像屏组件；11、支撑框架；12、成像屏；13、滑动部；
[0022]20、成像屏控制机构；21、成像屏推动机构；211、推动部；212、第一驱动部；22、成像屏平移机构；221、支撑座；222、滑动臂；223、滑动件；224、接收件；2241、连接部；2242、接收部；
[0023]31、第一储存容器；32、第二储存容器；33、滑动配合部；
[0024]40、固定机构；41、固定部；42、第三驱动件；
[0025]50、升降机构；51、连接板；52、导向件；53、安装板；54、传动件；55、第一驱动件；
[0026]61、固定板；62、调节件；
[0027]70、旋转机构；71、固定件；72、旋转件；73、第二驱动件；
[0028]80、限位传感器；
[0029]90、壳体；
[0030]1、放射性样品；2、成像位置。
具体实施方式
[0031]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例的附图，对本申请的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本申请的一个实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本申请的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0032]需要说明的是，除非另外定义，本申请使用的技术术语或者科学术语应当为本申请所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。若全文中涉及“第一”、“第二”等描述，则该“第一”、“第二”等描述仅用于区别类似的对象，而不能理解为指示或暗示其相对重要性、先后次序或者隐含指明所指示的技术特征的数量，应该理解为“第一”、“第二”等描述的数据在适当情况下可以互换。若全文中出现“和/或”，其含义为包括三个并列方案，以“A和/或B”为例，包括A方案，或B方案，或A和B同时满足的方案。此外，为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“上方”、“下方”、“顶部”、“底部”等，仅用来描述如图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系，应当理解为也包含除了图中所示的方位之外的在使用或操作中的不同方位。
[0033]本专利技术的实施例提供了一种用于放射性样品的中子照相的检测系统。该检测系统可以安装于中子照相设备端口处，放射性样品可以安装于所述检测系统上，所述中子照相设备可以向所述放射性样品发射中子束，所述检测系统中的成像屏吸收穿过所述放射性样品的中子束后被活化，以使所述成像屏曝光形成放射性潜像。之后将已曝光的成像屏转移
至暗室中对胶片进行曝光，即可形成图像，从而实现通过中子间接照相法对放射性样品的内部结构进行检测。
[0034]图1示出了根据本专利技术一个实施例的放射性样品的中子照相系统的结构示意图。图2A示出了根据本专利技术一个实施例的检测系统的结构示意图。图2B示出了图2A中的检测系统去除中子束限制装置后的结构示意图。
[0035]如图1、图2A和图2B所示，本专利技术的实施例中，所述检测系统包括样品控制装置100和成像装置200。
[0036]其中，所述放射性样品1连接于所述样品控制装置100，样品控制装置100用于控制所述放射性样品1的姿态以使所述放射性样品1的不同位置位于所述中子束的入射路径上，从而对所述放射性样品1的不同位置进行检测。
[0037]所述成像装置200包括成像屏组件10和成像屏控制机构20。所述成像屏组件10具有成像位置2，所述成像位置2与所述放射性样品1的安装位置相对应，各所述成像屏组件10可以在成像位置接收穿透各不同姿态下的所述放射性样品1后的中子束，用于检测所述放射性样品1的不同位置。即，所述中子束穿过所述放射性样品1后能够作用于位于所述成像位置2上的成像屏组件10，以使该成像屏组件10曝光形成潜像。所述成像屏控制机构20用于控制所述成像屏组件10运本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于放射性样品的中子照相的检测系统，其特征在于，包括：样品控制装置(100)，所述放射性样品(1)连接于所述样品控制装置(100)，样品控制装置(100)用于控制所述放射性样品(1)的姿态以使所述放射性样品(1)的不同位置位于中子束的入射路径上；成像装置(200)，所述成像装置(200)包括多个成像屏组件(10)和成像屏控制机构(20)；其中，所述成像屏组件(10)具有成像位置(2)，所述成像位置(2)与所述放射性样品(1)的安装位置相对应，各所述成像屏组件(10)在所述成像位置(2)接收穿透各不同姿态下的所述放射性样品(1)后的中子束，用于检测所述放射性样品(1)的不同位置；所述成像屏控制机构(20)用于控制所述成像屏组件(10)运动至所述成像位置(2)或者远离所述成像位置(2)。2.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述成像装置(200)还包括：第一储存容器(31)和第二储存容器(32)，未曝光的多个成像屏组件(10)储存于所述第一储存容器(31)，已曝光的多个成像屏组件(10)储存于所述第二储存容器(32)；所述成像屏控制机构(20)用于控制所述成像屏组件(10)从所述第一储存容器(31)内移动至所述成像位置(2)以及从所述成像位置(2)移动至所述第二储存容器(32)内。3.如权利要求2所述的检测系统，其特征在于，所述成像屏控制机构(20)包括：两个成像屏推动机构(21)，其中一个所述成像屏推动机构(21)设置于所述第一储存容器(31)与所述第一储存容器出口相对的一侧，用于将未曝光的所述成像屏组件(10)推出所述第一储存容器(31)；另一个所述成像屏推动机构(21)设置于所述第二储存容器(32)的入口处，用于将已曝光的所述成像屏组件(10)推入所述第二储存容器(32)。4.如权利要求2所述的检测系统，其特征在于，所述成像屏组件(10)上设置有滑动部(13)；第一储存容器(31)和所述第二储存容器(32)内壁设置有与所述滑动部(13)相配合的滑动配合部(33)，所述成像屏组件(10)可滑动地连接于所述第一储存容器(31)或所述第二储存容器(32)的内壁。5.如权利要求4所述的检测系统，其特征在于，成像屏控制机构(20)包括成像屏推动机构(21)，所述成像屏推动机构(21)包括：推动部(211)，设置于所述第一储存容器(31)与所述第一储存容器出口相对的一侧，或者设置于所述第二储存容器(32)的入口处，用于推动所述成像屏组件(10)滑出所述第一储存容器(31)或滑进所述第二储存容器(32)；第一驱动部(212)，与所述推动部(211)驱动连接，用于驱动所述推动部(211)运动以推动所述成像屏组件(10)滑动。6.如权利要求3所述的检测系统，其特征在于，所述成像屏控制机构(20)还包括：成像屏平移机构(22)，设置于所述第一储存容器(31)与所述第二储存容器(32)之间，用于将从所述第一储存容器(31)推出的成像屏组件(10)平移至所述成像位置(2)以及所述第二储存容器(32)的入口处。7.如权利要求6所述的检测系统，其特征在于，所述成像屏平移机构(22)包括：支撑座(221)，固定于所述第一储存容器(31)和第二储存容器(32)之间；
滑动臂(222)，连接于所述支撑座(221)，并与位于所述成像位置(2)的所述成像屏组件(10)平行设置；滑动件(223)，可滑动地连接于所述滑动臂(222)，所述滑动臂(222)在所述第一储存容器(31)出口处、所述成像位置(2)以及所述第二储存容器(32)入口处之间滑动；接收件(224)，连接于所述滑动件(223)，所述成像屏组件(10)可拆卸地连接于所述接收件(224)。8.如权利要求7所述的检测系统，其特征在于，所述成像屏组件(10)两侧设置有滑动部(13)；所述接收件(224)包括：连接部(2241)，连接于所述滑动件(223)，并与所述滑动臂(222)平行设置；接收部(2242)，固定于所述连接部(2241)的两端，并与所述滑动部(13)相匹配，以使所述滑动部(13)卡置于所述接收部(2242)，所述接收部(2242)用于接收从所述第一储存容器(31)推出的成像屏组件(10)。9.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述样品控制装置(100)包括：固定机构(40)，所述放射性样品(1)可拆卸地固定于所述固定机构(40)；升降机构(50)，连接于所述固定机构，用于控制所述固定机构(40)上下移动。10.如权利要求9所述的检测系统，其特征在于，所述升降机构(50)包括：两个连接板(51)，两个所述连接板(51)平行且间隔设置；至少一个导向...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈东风，孙凯，韩松柏，贺林峰，武梅梅，李正耀，李玉庆，郝丽杰，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：