一种基于Bayes估计高考录取概率发生率预测方法技术

一种基于Bayes估计高考录取概率发生率预测方法涉及概率计算技术领域，解决了现有方法计算的录取概率也是不准确的问题，该方法包括：步骤1、统计数据；步骤2、根据步骤1统计的结果计算当年分数相当于往年的等同分数获得等同分数序列；步骤3、根据等同分数序列建立等同分数序列的录取概率模型；步骤4、根据步骤3得到的录取概率模型，利用Bayes估计计算录取概率的发生率。本发明专利技术不仅对录取概率有所计算，还进一步计算了该录取概率发生的概率，提高录了取预测估计的准确度，解决了现有技术存在的不足和缺陷。不足和缺陷。不足和缺陷。

【技术实现步骤摘要】
一种基于Bayes估计高考录取概率发生率预测方法


[0001]本专利技术涉及概率计算
，具体涉及一种基于Bayes估计高考录取概率发生率预测方法。

技术介绍

[0002]每个人的一生中都会面临许多考试，有的考试只是对一阶段学习的检验，而有些则面临着人生的转折点，涉及到录取或者录用，例如高考、考研、报考公务员等。可以通过简单的统计学方法得到录取概率，但是录取概率还会受到招生计划等许多因素影响，即录取概率的发生率。
[0003]现存的技术中，多是通过所考分数和位次来进行录取概率的预测。但是，每年录取分数都存在或多或少的波动，这种方式忽略了不同年份的数据差异。这些分数差异的来源有很多因素，如题难易程度，学科变动，相关政策变动，外界因素等多方面。已有技术的模型中并没有刻画这些不确定的因素对录取概率的影响，计算的录取概率也是不准确的。

技术实现思路

[0004]为了解决上述问题，本专利技术提供一种基于Bayes估计高考录取概率发生率预测方法。
[0005]本专利技术为解决技术问题所采用的技术方案如下：
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于Bayes估计高考录取概率发生率预测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、统计数据；步骤2、根据步骤1统计的结果计算当年分数相当于往年的等同分数获得等同分数序列X＝(x1,x2,
…
x
n
)，n表示等同分数序列中等同分数的个数；步骤3、根据等同分数序列建立等同分数序列的录取概率模型：其中，x表示X的函数，也就是X为变量x的充分统计量；所述等同分数序列服从正态分布，和分别表示等同分数序列服从正态分布的均值和标准差；s表示0到x区间内的任意一个分数，ω(s)表示分数为s时的白噪声；步骤4、根据步骤3得到的录取概率模型，利用Bayes估计计算录取概率的发生率。2.如权利要求1所述的一种基于Bayes估计高考录取概率发生率预测方法，其特征在于，所述步骤1具体为：统计参考年份高考的最低录取分数、参考年份高考的平均录取分数、参考年份高考的考生人数、参考年份高考的录取...

【专利技术属性】
技术研发人员：佘彦，赵龙霄，任庆伟，李峥，潘生林，
申请(专利权)人：浙江萃文科技有限公司，
类型：发明
国别省市：