一种浮动式微针测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种浮动式微针测试治具，包括固定板、缓冲机构和测试机构；固定板：其底面左右两侧对称设有导向柱，两个导向柱均与连接滑板上表面对称设置的滑孔滑动连接，两个导向柱的外弧面均活动套接有第一弹簧，两个第一弹簧的顶端端头均与固定板的下表面固定连接，两个第一弹簧的底端端头均与连接滑板的上表面固定连接；缓冲机构：设置于连接滑板的下表面；测试机构：螺纹连接于缓冲机构的内部，该浮动式微针测试治具，能够避免探针因压力过大而出现弯曲损坏的情况，提高了测试结果的准确性，可以使人员更加方便的对测试治具进行维修和检查，操作简单，满足了使用者的使用需求。满足了使用者的使用需求。满足了使用者的使用需求。

【技术实现步骤摘要】
一种浮动式微针测试治具


[0001]本技术涉及测试治具
，具体为一种浮动式微针测试治具。

技术介绍

[0002]电子产品在加工过程中都需要进行测试，电子产品是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。在对微型结构进行测试时，需要使用到一种浮动式微针测试治具来对其进行测试。但现有的浮动式微针测试治具，不能使人员更加方便的对测试治具进行维修和检查，操作复杂，探针容易因压力过大而出现弯曲损坏的情况，降低了测试结果的准确性，因此，我们提出了一种浮动式微针测试治具来解决此类问题。

技术实现思路

[0003]本技术要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供一种浮动式微针测试治具，可以使人员更加方便的对测试治具进行维修和检查，操作简单，满足了使用者的使用需求，可以有效解决
技术介绍
中的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种浮动式微针测试治具，包括固定板、缓冲机构和测试机构；
[0005]固定板：其底面左右两侧对称设有导向柱，两个导向柱均与连接滑板上表面对称设置的滑孔滑动连接，两个导向柱的外弧面均活动套接有第一弹簧，两个第一弹簧的顶端端头均与固定板的下表面固定连接，两个第一弹簧的底端端头均与连接滑板的上表面固定连接；
[0006]缓冲机构：设置于连接滑板的下表面；
[0007]测试机构：螺纹连接于缓冲机构的内部；
[0008]其中：还包括限位帽，所述限位帽分别设置于导向柱的底端端面，能够避免探针因压力过大而出现弯曲损坏的情况，提高了测试结果的准确性，可以使人员更加方便的对测试治具进行维修和检查，操作简单，满足了使用者的使用需求。
[0009]进一步的，所述缓冲机构包括第二弹簧、伸缩柱、滑动连接块和套筒，所述套筒设置于连接滑板的下表面中部，套筒的内部滑动连接有滑动连接块，滑动连接块的上表面设有均匀分布的伸缩柱，四个伸缩柱的伸缩端端头与连接滑板的下表面固定连接，四个伸缩柱的外弧面均活动套接有第二弹簧，四个第二弹簧的顶端端头均与连接滑板的下表面固定连接，四个第二弹簧的底端端头均与滑动连接块的上表面固定连接，可以避免探针因压力过大而出现弯曲损坏的情况，提高了测试结果的准确性。
[0010]进一步的，所述测试机构包括连接套筒、第三弹簧、滑槽、探针安装座、探针安装柱和探针，所述连接套筒螺纹连接于滑动连接块下表面中部设置的螺纹孔内，连接套筒的内部通过均匀分布的滑槽滑动连接有探针安装座，探针安装座的下表面设有均匀分布的探针
安装柱，七个探针安装柱底端端面设置的安装螺纹孔内均螺纹连接有探针，七个探针的底端端头均穿过连接套筒底端端面均匀分布的通孔并延伸至连接套筒的外部，探针安装座的上表面设有均匀分布的第三弹簧，六个第三弹簧的顶端端头均与滑动连接块的顶壁面贴合，可以使人员更加方便的对测试治具进行维修和检查，操作简单，满足了使用者的使用需求。
[0011]进一步的，所述套筒和连接套筒的底端端面均设有橡胶防护垫，可以对测试件起到减缓压力的作用。
[0012]进一步的，所述固定板上表面中部设置的内螺纹孔内螺纹连接有手柄，可以方便人员进行测试。
[0013]与现有技术相比，本技术的有益效果是：本浮动式微针测试治具，具有以下好处：
[0014]1、工作人员首先选择合适的探针安装在探针安装柱内，随后人员将探针安装座放入连接套筒内，探针安装座沿着滑槽向下滑动，探针从连接套筒上的探针孔内探出，随后人员通过连接套筒上端的螺纹，将连接套筒固定安装在滑动连接块内，此时，第三弹簧与滑动连接块贴合，工作人员通过手柄将测试治具拿起，将探针对准测试件并向下按压进行测试，探针接触测试件时，第三弹簧受到弹性作用带动探针安装座在连接套筒内向上移动，实现有效的缓冲，可以使人员更加方便的对测试治具进行维修和检查，操作简单，满足了使用者的使用需求。
[0015]2、第三弹簧向上的压力带动上方的滑动连接块向上受力，第二弹簧和伸缩柱的伸缩端收缩，滑动连接块在套筒内向上移动，实现进一步的缓冲，第二弹簧和伸缩柱向上的压力带动上方的连接滑板在导向柱向上移动，通过第一弹簧收缩，实现进一步的缓冲，可以避免探针因压力过大而出现弯曲损坏的情况，提高了测试结果的准确性。
附图说明
[0016]图1为本技术结构示意图；
[0017]图2为本技术测试机构的结构示意图；
[0018]图3为本技术连接套筒仰视结构示意图。
[0019]图中：1固定板、2手柄、3导向柱、4第一弹簧、5限位帽、6缓冲机构、61第二弹簧、62伸缩柱、63滑动连接块、64套筒、7测试机构、71连接套筒、72第三弹簧、73滑槽、74探针安装座、75探针安装柱、76探针、8橡胶防护垫、9连接滑板。
具体实施方式
[0020]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0021]请参阅图1
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3，本技术提供一种技术方案：一种浮动式微针测试治具，包括固定板1、缓冲机构6和测试机构7；
[0022]固定板1：其底面左右两侧对称设有导向柱3，两个导向柱3均与连接滑板9上表面
对称设置的滑孔滑动连接，两个导向柱3的外弧面均活动套接有第一弹簧4，两个第一弹簧4的顶端端头均与固定板1的下表面固定连接，两个第一弹簧4的底端端头均与连接滑板9的上表面固定连接，上方的连接滑板9在导向柱3向上移动，通过第一弹簧4收缩，实现进一步的缓冲；
[0023]缓冲机构6：设置于连接滑板9的下表面，缓冲机构6包括第二弹簧61、伸缩柱62、滑动连接块63和套筒64，套筒64设置于连接滑板9的下表面中部，套筒64的内部滑动连接有滑动连接块63，滑动连接块63的上表面设有均匀分布的伸缩柱62，四个伸缩柱62的伸缩端端头与连接滑板9的下表面固定连接，四个伸缩柱62的外弧面均活动套接有第二弹簧61，四个第二弹簧61的顶端端头均与连接滑板9的下表面固定连接，四个第二弹簧61的底端端头均与滑动连接块63的上表面固定连接，上方的滑动连接块63向上受力，第二弹簧61和伸缩柱62的伸缩端收缩，滑动连接块63在套筒64内向上移动，实现进一步的缓冲，可以避免探针因压力过大而出现弯曲损坏的情况，提高了测试结果的准确性；
[0024]测试机构7：螺纹连接于缓冲机构6的内部，测试机构7包括连接套筒71、第三弹簧72、滑槽73、探针安装座74、探针安装柱75和探针76，连接套筒71螺纹连接于滑动连接块63下表面中部设置的螺纹孔内，连接套筒71的内部通过均匀分布的滑槽本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种浮动式微针测试治具，其特征在于：包括固定板(1)、缓冲机构(6)和测试机构(7)；固定板(1)：其底面左右两侧对称设有导向柱(3)，两个导向柱(3)均与连接滑板(9)上表面对称设置的滑孔滑动连接，两个导向柱(3)的外弧面均活动套接有第一弹簧(4)，两个第一弹簧(4)的顶端端头均与固定板(1)的下表面固定连接，两个第一弹簧(4)的底端端头均与连接滑板(9)的上表面固定连接；缓冲机构(6)：设置于连接滑板(9)的下表面；测试机构(7)：螺纹连接于缓冲机构(6)的内部；其中：还包括限位帽(5)，所述限位帽(5)分别设置于导向柱(3)的底端端面。2.根据权利要求1所述的一种浮动式微针测试治具，其特征在于：所述缓冲机构(6)包括第二弹簧(61)、伸缩柱(62)、滑动连接块(63)和套筒(64)，所述套筒(64)设置于连接滑板(9)的下表面中部，套筒(64)的内部滑动连接有滑动连接块(63)，滑动连接块(63)的上表面设有均匀分布的伸缩柱(62)，四个伸缩柱(62)的伸缩端端头与连接滑板(9)的下表面固定连接，四个伸缩柱(62)的外弧面均活动套接有第二弹簧(61)，四个第二弹簧(61)的顶端端头均与连接滑板(9)的下表面固定连...

【专利技术属性】
技术研发人员：方经军，
申请(专利权)人：苏州斯丹德电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：