一种半导体二极管快速测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种半导体二极管快速测试装置，属于电子器件测试技术领域；所述半导体二极管快速测试装置包括加热箱、无线测温传感器、加热器、接线座、连接件、导线、恒流源、电压表，所述加热箱的顶板上设置有用于放置二极管的加热槽，且加热槽内安装有无线测温传感器，所述加热箱内部设置有加热器，所述接线座安装在加热箱上方，且接线座上设有便于安装二极管的引脚的接线孔，接线孔与安装在接线座内部的连接件相连通，且连接件上连接有导线，所述恒流源通过导线与二极管相连接，且二极管两端并联有电压表；本实用新型专利技术在相对封闭的空间内完成测温，且结温数据是直接测出的，测试精度高、结果误差小。结果误差小。结果误差小。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体二极管快速测试装置


[0001]本技术涉及一种半导体二极管快速测试装置，属于电子器件测试


技术介绍

[0002]半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间，利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件，主要有二极管、晶体管、晶闸管、光电半导体等类型，可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换等，是组成大规模集成电路的基础元器件。温度是决定半导体器件能否正常工作的关键因素，因此，在新产品的质检和使用选型时，结温测试是一项必要项目。现有的测试方式主要有：一是在半导体器件表面粘贴感温探头，先将半导体器件加热至预定温度，再给器件通正向电流I，待温度稳定后测试器件两端的压降U，由此可以得到正向功率P，再由温度采集仪的感温探头测得半导体器件的壳温Tc，则结温结果为：Tj＝Tc+P*RθJ
‑
c，其中RθJ
‑
c为半导体器件的热阻，通常在规格说明书中有标明。
[0003]但是上述测试方法还存在一定局限性：将感温探头粘贴在半导体器件表面时，感温探头往往容易因为器件表面温度升高的松动，导致温度采集不准确；另一方面，将半导体器件加热至测试温度时，常采用烘箱进行加热，有时需要将半导体器件取出再进行测试，这就容易因半导体器件温度发生变化而导致测试结果不准确。

技术实现思路

[0004]为了克服
技术介绍
中存在的问题，本技术提出了一种半导体二极管快速测试装置，通过在加热箱内部安装加热器，并在加热箱的顶板上设置加热槽用于放置二极管，在加热槽内部安装无线测温传感器用于检测加热槽内的温度，二极管安装在接线座上，使二极管接入恒流源，并在二极管两端并联一个电压表，将二极管放置在室温下进行第一次测试，再将二极管放置到加热槽内，开启加热器使加热槽内部升温以加热二极管，当加热槽内部温度稳定后即可得知当前状态下二极管的结温，测温在相对封闭的空间内完成，且结温数据是直接测出的，测试精度高、结果误差小。
[0005]为解决上述问题，本技术通过如下技术方案实现：
[0006]所述半导体二极管快速测试装置包括加热箱、无线测温传感器、加热器、接线座、连接件、导线、恒流源、电压表，所述加热箱的顶板上设置有用于放置二极管的加热槽，且加热槽内安装有无线测温传感器，所述加热箱内部设置有加热器，所述接线座安装在加热箱上方，且接线座上设有便于安装二极管的引脚的接线孔，接线孔与安装在接线座内部的连接件相连通，且连接件上连接有导线，所述恒流源通过导线与二极管相连接，且二极管两端并联有电压表。
[0007]优选地，所述加热箱的顶板上安装有固定板，且固定板上设有滑槽，所述接线座安装在底座上，底座通过羊角螺栓安装在固定板上，羊角螺栓穿过滑槽与底座相连接。
[0008]本技术的有益效果为：
[0009]本技术通过在加热箱内部安装加热器，并在加热箱的顶板上设置加热槽用于
放置二极管，在加热槽内部安装无线测温传感器用于检测加热槽内的温度，二极管安装在接线座上，使二极管接入恒流源，并在二极管两端并联一个电压表，将二极管放置在室温下进行第一次测试，再将二极管放置到加热槽内，开启加热器使加热槽内部升温以加热二极管，当加热槽内部温度稳定后即可得知当前状态下二极管的结温，测温在相对封闭的空间内完成，且结温数据是直接测出的，测试精度高、结果误差小。
附图说明
[0010]图1为本技术的结构示意图；
[0011]图2为本技术的电路示意图；
[0012]图3为本技术的接线座安装位置示意图。
[0013]附图标记说明：1
‑
加热箱，2
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加热槽，3
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无线测温传感器，4
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加热器，5
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接线座，6
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连接件，7
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导线，8
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恒流源，9
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电压表，10
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二极管，11
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引脚，12
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固定板，13
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滑槽，14
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底座，15
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羊角螺栓。
具体实施方式
[0014]为了使本技术的目的、技术方案、达成目的与效果明显易懂，下面将结合附图，对本技术的优选实施例进行详细的说明，以便技术人员理解。
[0015]需要说明的是，在本技术的描述中，若无明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“相连接”等应做广义理解，即可以是固定连接，也可以是可拆卸连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。
[0016]在本技术中，如图1
‑
3所示，所述半导体二极管快速测试装置包括加热箱1、无线测温传感器3、加热器4、接线座5、连接件6、导线7、恒流源8、电压表9，所述加热箱1的顶板上设置有用于放置二极管10的加热槽2，且加热槽2内安装有无线测温传感器3，所述加热箱1内部设置有加热器4，所述接线座5安装在加热箱1上方，且接线座5上设有便于安装二极管10的引脚11的接线孔，接线孔与安装在接线座5内部的连接件6相连通，且连接件6上连接有导线7，所述恒流源8通过导线7与二极管10相连接，且二极管10两端并联有电压表9。在加热箱1内部安装均匀安装若干加热器4，加热箱1的顶板采用如铜板、铝板等导热性良好的金属板，在加热箱1的顶板上加工若干个向下凹陷的加热槽2，并在加热槽2的内底部安装一个无线测温传感器3；加热槽2的数量可根据实际需求进行调整，无线测温传感器3应采用如施耐德TH110无线测温传感器等体积较小、便于安装的温度传感器，加热器4可以采用如电热丝、PTC加热器等小体积加热装置，并通过安装可控硅电压调节器、机械温控器等对加热温度进行调节。在各个加热槽2上方各安装一个接线座5，在接线座5内部设置两个连接件6，连接件6的上端连接导线7，下端与接线孔相连通，将二极管10的引脚11插入接线孔将二极管10固定，从而使恒流源8通过导线7与二极管10相连接，并在二极管10两端并联一个电压表9用于测量二极管10两端的电压降。
[0017]将二极管10放置在一定温度的环境下足够长时间后，二极管10本体的温度可视为与环境温度相等，因此，在长时间放置后，环境温度便是二极管10的温度，即为结温。通过恒流源8向二极管10通入恒定电流，利用电压表9测量给定电流下二极管10两端的电压降，根据半导体二极管10的热敏特性：二极管10在特定的结温Tj下产生的正向压降U也是一定的，
且Tj与U一一对应，即U和结温Tj形成的函数关系为单调函数，由此就能够得到半导体二极管10在一定电流下的结温。加热二极管10管前，先将二极管10在室温下放进加热槽2内并接入电路，打开恒流源8给二极管10一个正向电流I1，通过电压变9测量二极管10两端的压降U1，当压降值稳定后记录U1的值，并记录无线测温传感器3测得的室温T1；启动加热器本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体二极管快速测试装置，其特征在于：所述半导体二极管快速测试装置包括加热箱（1）、无线测温传感器（3）、加热器（4）、接线座（5）、连接件（6）、导线（7）、恒流源（8）、电压表（9），所述加热箱（1）的顶板上设置有用于放置二极管（10）的加热槽（2），且加热槽（2）内安装有无线测温传感器（3），所述加热箱（1）内部设置有加热器（4），所述接线座（5）安装在加热箱（1）上方，且接线座（5）上设有便于安装二极管（10）的引脚（11）的接线孔，接线孔与安装在接线...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡保国，
申请(专利权)人：宏鑫华中山电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：