一种BMS系统的时间漂移补偿方法技术方案

本发明专利技术公开了一种BMS系统的时间漂移补偿方法，包括电压基准检测电路。本发明专利技术的有益效果是：针对半导体器件易受时间漂移影响，补偿电路舍弃半导体电压基准元件，采用不易受时间漂移影响的高精度电阻作为基准元件；由于时间漂移同样会对补偿电路的采样ADC芯片造成影响，所以采用多电阻并联，并通过开关选通进行阻值选择；串联分压电阻采样，ADC检测采样电阻电压的方式，获得多组参考电压；由于所获得的的参考电压是采样ADC芯片受时间漂移后的值，所以需要多组数据联立方程组，解算出真实数据；采用继电器作为补偿电路的开关器件。继电器是由内部金属触点吸合控制电路通断，电阻极小，且不受时间漂移影响。且不受时间漂移影响。且不受时间漂移影响。

【技术实现步骤摘要】
一种BMS系统的时间漂移补偿方法


[0001]本专利技术涉及一种BMS系统，具体为一种BMS系统的时间漂移补偿方法，属于新能源锂电池储能行业


技术介绍

[0002]随着国家对新能源行业的政策倾斜，锂电池及BMS系统被大量应用在诸多领域。为精确快速采集电池电压信息，BMS系统通常采用专业的AFE芯片。但包括AFE芯片在内的半导体器件往往会随着时间的推移发生老化，因此需要进行补偿。
[0003]但对于现有的补偿措施，往往存在以下不足：
[0004]1、该过程是一个非常缓慢的过程，时间跨度往往长达十年，所以在日常工作中不易发现，不易测量，不易补偿。时间漂移是一种元器件的自然老化，对所有器件都有影响，但由于各个元件体质不同，材料不同，漂移程度也会不同，所以无法精确估计，常规方案往往是按照经验值，人工补偿；
[0005]2、由于半导体器件易受时间漂移影响，某些电路中作为电压基准的器件也会受到时间漂移影响，因此基于电压基准器件的时间漂移补偿无法做到准确；
[0006]3、在BMS系统中，每个AFE芯片所处的环境并不本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种BMS系统的时间漂移补偿方法，其特征在于：包括电压基准检测电路，所述电压基准检测电路布置在每个AFE芯片负责锂电池串的总负极起第一节电池两端，且所述电压基准检测电路包括：等效电阻，其由呈并联设置接入到电路中的高精度等效电阻R1、R2、R3以及R4构成；采样电阻，其由与并联设置的所述等效电阻R1、R2、R3以及R4进行串联连接的高精度采样电阻R5构成，且所述采样电阻R5与电压基准检测电路的负极相连接，所述等效电阻R1、R2、R3以及R4的阻值为采样电阻R5的四倍；采样芯片，其由与所述采样电阻R5并联，且由采样管脚分别接在所述采样电阻R5前后的ADC采样芯片U1构成；单片机，其为BMS系统pack从板控制MCU，且其用于控制AFE芯片工作、以及与BMS系统上层进行通讯，其由与所述ADC采样芯片U1通讯的单片机U2构成；其补偿方法包括以下步骤：步骤一、参数校准初始偏差标定以及校准延时，在全新设备初次运行时，各个元器件未受到时间漂移影响，且由于各元件存在体质差异，工艺安装存在误差，需要对参数进行校准，标定初始偏差参数α1，此参数为所述AFE芯片与所述ADC采样芯片U1的初始误差；由于时间漂移为长时间过程，频繁校准可能引起系统不稳定，所以需要设定校准延时，当延时结束，开始进行校准；步骤二、AFE芯片采样样本数据，开始校准时，AFE芯片需要对电池串进行采样，保留总负极起第一节电池电压数据B0作为样本数据；步骤三、电压基准电路采样，电压基准检测电路开始采样，首先设定ADC芯片时间漂移参数为β1，设定电压基准检测电路真实电压值为U，进行闭合四个并联电阻采样，将四个等效电阻R1、R2、R3以及R4全部并联接入电路，与所述采样电阻R5分压比例为1:1，此时ADC芯片测量值B1＝1/2U+β1；闭合两个并联电阻采样，将四个等效电阻R1、R2、R3以及R4中的其中两个等效电阻并联接入电路，与所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：尚德华，杜鹏飞，
申请(专利权)人：傲普上海新能源有限公司，
类型：发明
国别省市：