本实用新型专利技术公开了一种便于安装的半导体测试固定装置，包括半导体测试固定台和安装板，所述半导体测试固定台的底部开设有第一Z型滑槽，所述安装板的顶部开设有第二Z型滑槽，所述第一Z型滑槽内壁的左侧和右侧分别活动连接有第一限位圆块和第二限位圆块。本实用新型专利技术通过设置拉绳，使第一电磁铁和第二电磁铁启动后拉动拉绳，使拉绳带动第一安装块和第二安装块向外移动，使第一电磁铁与第二电磁铁能够将第一安装块和第二安装块进行磁性吸附，解决了现有的固定装置通常是用螺栓进行固定，螺栓在长时间使用后会出现松动和卡死的现象，导致使用者在拆卸或更换固定装置使费时费力，还容易延误下一次半导体的测试固定的问题。延误下一次半导体的测试固定的问题。延误下一次半导体的测试固定的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种便于安装的半导体测试固定装置
[0001]本技术涉及半导体测试
，具体为一种便于安装的半导体测试固定装置。
技术介绍
[0002]半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，在半导体的生产过程中需要测试，在测试的过程中需要固定装置进行对半导体固定，但现有的固定装置通常是用螺栓进行固定，螺栓在长时间使用后会出现松动和卡死的现象，导致使用者在拆卸或更换固定装置使费时费力，还容易延误下一次半导体的测试固定。
技术实现思路
[0003]为解决上述
技术介绍
中提出的问题，本技术的目的在于提供一种便于安装的半导体测试固定装置，具备了便于安装的优点，解决了现有的固定装置通常是用螺栓进行固定，螺栓在长时间使用后会出现松动和卡死的现象，导致使用者在拆卸或更换固定装置使费时费力，还容易延误下一次半导体的测试固定的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种便于安装的半导体测试固定装置，包括半导体测试固定台和安装板，所述半导体测试固定台的底部开设有第一Z型滑槽，所述安装板的顶部开设有第二Z型滑槽，所述第一Z型滑槽内壁的左侧和右侧分别活动连接有第一限位圆块和第二限位圆块，所述第一限位圆块和第二限位圆块的底部分别固定连接有第一安装块和第二安装块，所述第二安装块和第二安装块与第二Z型滑槽活动连接，所述第二Z型滑槽前侧的左侧开设有第一限位槽，所述第二Z型滑槽后侧的右侧开设有第二限位槽，所述第一安装块正面的底部固定连接有第一限位凸块，所述第二安装块背面的底部固定连接有第二限位凸块，所述第一限位凸块与第一限位槽活动连接，所述第二限位凸块与第二限位槽活动连接，所述第二Z型滑槽内壁的前侧固定连接有第一电磁铁，所述第二Z型滑槽内壁的后侧固定连接有第二电磁铁，所述安装板顶部的左侧和右侧均开设有滑动槽，所述滑动槽与第二Z型滑槽连通，所述第一安装块的右侧和第二安装块的左侧均固定连接有拉绳，所述拉绳与滑动槽活动连接，所述第一安装块与第一电磁铁磁性吸合，所述第二安装块与第二电磁铁磁性吸合。
[0005]作为本技术优选的，所述第二Z型滑槽内壁的前侧开设有位于第一电磁铁底部的第一安装槽，所述第二Z型滑槽内壁的后侧开设有位于第二电磁铁底部的第二安装槽，所述第一限位凸块与第一安装槽活动连接，所述第二限位凸块与第二安装槽活动连接。
[0006]作为本技术优选的，所述第一电磁铁的后侧与第二电磁铁的前侧固定连接有橡胶垫，所述橡胶垫呈蜂窝状。
[0007]作为本技术优选的，所述第一Z型滑槽的内壁固定连接有横板，所述横板的两侧固定连接有弹力绳，所述弹力绳与第一限位圆块和第二限位圆块固定连接。
[0008]作为本技术优选的，所述拉绳表面的外侧设置有拉块，所述拉块卡紧在拉绳表面的外侧。
[0009]作为本技术优选的，所述第一安装块与第二安装块的底部固定连接有滚珠，所述滚珠设置有若干个且呈环形等距离分布，所述滚珠与第二Z型滑槽活动连接。
[0010]与现有技术相比，本技术的有益效果如下：
[0011]1、本技术通过设置拉绳，使第一电磁铁和第二电磁铁启动后拉动拉绳，使拉绳带动第一安装块和第二安装块向外移动，使第一电磁铁与第二电磁铁能够将第一安装块和第二安装块进行磁性吸附，解决了现有的固定装置通常是用螺栓进行固定，螺栓在长时间使用后会出现松动和卡死的现象，导致使用者在拆卸或更换固定装置使费时费力，还容易延误下一次半导体的测试固定的问题，具备了便于安装的优点。
[0012]2、本技术通过设置第一安装槽和第二安装槽，使第一安装和第二安装槽的配合使用能够对第一限位凸块和第二限位凸块进行限位防止半导体测试固定台在安装后出现松动的现象，同时也能够防止半导体测试固定台向上移动，再通过设置蜂窝状的橡胶垫，使蜂窝状的橡胶天、第一电磁铁和第二电磁铁的配合使用能够防止第一安装块与第二安装块直接和第一电磁铁与第二电磁铁碰撞，同时蜂窝状橡胶垫保证防碰撞的同时不影响磁力。
[0013]3、本技术通过设置横板和弹力绳，使横板和弹力绳的配合使用能够使半导体测试固定台在拆卸时，弹力绳依靠弹力将第一安装块与第二安装块拉回原位进行拆卸，再通过设置拉块，使拉块和拉绳的配合使用能够方便使用者拉动拉绳的时候更加快捷，同时拉块卡紧安装在拉绳上方便使用者调整拉块的在拉绳上的位置。
附图说明
[0014]图1为本技术立体结构示意图；
[0015]图2为本技术主视剖面结构示意图；
[0016]图3为本技术俯视剖面结构示意图。
[0017]图中：1、半导体测试固定台；2、安装板；3、第一Z型滑槽；4、第二Z型滑槽；5、第一限位圆块；6、第二限位圆块；7、第一安装块；8、二安装块；9、第一限位槽；10、第二限位槽；11、第一限位凸块；12、第二限位凸块；13、第一电磁铁；14、第二电磁铁；15、滑动槽；16、拉绳；17、第一安装槽；18、第二安装槽；19、橡胶垫；20、横版；21、弹力绳；22、拉块；23、滚珠。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0019]如图1至图3所示，本技术提供的一种便于安装的半导体测试固定装置，包括半导体测试固定台1和安装板2，半导体测试固定台1的底部开设有第一Z型滑槽3，安装板2的顶部开设有第二Z型滑槽4，第一Z型滑槽3内壁的左侧和右侧分别活动连接有第一限位圆块5和第二限位圆块6，第一限位圆块5和第二限位圆块6的底部分别固定连接有第一安装块
7和第二安装块8，第二安装块8和第二安装块8与第二Z型滑槽4活动连接，第二Z型滑槽4前侧的左侧开设有第一限位槽9，第二Z型滑槽4后侧的右侧开设有第二限位槽10，第一安装块7正面的底部固定连接有第一限位凸块11，第二安装块8背面的底部固定连接有第二限位凸块12，第一限位凸块11与第一限位槽9活动连接，第二限位凸块12与第二限位槽10活动连接，第二Z型滑槽4内壁的前侧固定连接有第一电磁铁13，第二Z型滑槽4内壁的后侧固定连接有第二电磁铁14，安装板2顶部的左侧和右侧均开设有滑动槽15，滑动槽15与第二Z型滑槽4连通，第一安装块7的右侧和第二安装块8的左侧均固定连接有拉绳16，拉绳16与滑动槽15活动连接，第一安装块7与第一电磁铁13磁性吸合，第二安装块8与第二电磁铁14磁性吸合。
[0020]参考图3，第二Z型滑槽4内壁的前侧开设有位于第一电磁铁13底部的第一安装槽17，第二Z型滑槽4内壁的后侧开设有位于第二电磁铁14底部的第二安装槽18，第一限位凸块11与第一安装槽17活动连接，第二限位凸块12与第二安装槽18活动连接。
[002本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种便于安装的半导体测试固定装置，包括半导体测试固定台（1）和安装板（2），其特征在于：所述半导体测试固定台（1）的底部开设有第一Z型滑槽（3），所述安装板（2）的顶部开设有第二Z型滑槽（4），所述第一Z型滑槽（3）内壁的左侧和右侧分别活动连接有第一限位圆块（5）和第二限位圆块（6），所述第一限位圆块（5）和第二限位圆块（6）的底部分别固定连接有第一安装块（7）和第二安装块（8），所述第二安装块（8）和第二安装块（8）与第二Z型滑槽（4）活动连接，所述第二Z型滑槽（4）前侧的左侧开设有第一限位槽（9），所述第二Z型滑槽（4）后侧的右侧开设有第二限位槽（10），所述第一安装块（7）正面的底部固定连接有第一限位凸块（11），所述第二安装块（8）背面的底部固定连接有第二限位凸块（12），所述第一限位凸块（11）与第一限位槽（9）活动连接，所述第二限位凸块（12）与第二限位槽（10）活动连接，所述第二Z型滑槽（4）内壁的前侧固定连接有第一电磁铁（13），所述第二Z型滑槽（4）内壁的后侧固定连接有第二电磁铁（14），所述安装板（2）顶部的左侧和右侧均开设有滑动槽（15），所述滑动槽（15）与第二Z型滑槽（4）连通，所述第一安装块（7）的右侧和第二安装块（8）的左侧均固定连接有拉绳（16），所述拉绳（16）与滑动槽（15）活动连接，所述第一安装块（7）与第一电磁铁（13）磁性吸合，所述第二安装块（...
【专利技术属性】
技术研发人员：季承，李欣宇，孙经岳，
申请(专利权)人：西安精华伟业电气科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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