基于单一像面光学系统引入CCD不平度误差模型方法技术方案

基于单一像面光学系统引入CCD不平度误差模型方法，涉及光学系统集成仿真技术领域。为解决现有技术难以满足对CCD拼接误差的计算要求，且建模过程较为复杂，容易引起操作失误等问题，本发明专利技术包括对CCD位置不平度测试与面形不平度测试；在单一像面引入拼接式CCD不平度误差，避免了依照CCD拼接数量建立对应光学系统，降低了该误差建模的复杂成度，且有效提升全链路像质计算效率。本发明专利技术将拼接式CCD不平度误差加载至链路仿真系统中，可分析该项误差引起的像质退化程度，根据退化结果改良设计指标，提升大口径光学系统在轨成像质量。为建立全链路仿真分析中CCD不平度误差模型提供理论基础。基础。基础。

【技术实现步骤摘要】
基于单一像面光学系统引入CCD不平度误差模型方法


[0001]本专利技术涉及光学系统集成仿真
，具体涉及一种光学系统CCD拼接误差建模方法。

技术介绍

[0002]天文学一直是先进技术发展的重要推动力，观测太空需要精密的光学设备。光学系统全链路仿真方法基于成像物理机制对大口径光学系统成像质量进行计算，用于分析研究各误差因素对光学像质的影响。光学系统后端CCD通常由几块或数十块硅基探测器拼接而成，因此拼接不平度会引入误差，造成光学系统成像退化。在现有光学分析软件中，通常只能建立一个具有6自由度的整体像面，难以满足对CCD拼接误差的计算要求；已知现有技术是根据各块CCD的坐标依次建立独立的光学系统，建模过程较为复杂，且容易引起操作失误。
[0003]本专利技术提出一种光学系统CCD拼接误差建模方法，建立整体像面与局部CCD像面间的位置关系，通过补偿像面全局与局部移动之间的位置量差异，实现CCD不平度误差在单一像面光学系统的建模。同时，该方法也进一步提升了全链路仿真分析效率。

技术实现思路

[0004]本专利技术为解决现本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于单一像面光学系统引入CCD不平度误差模型方法，其特征是：包括对CCD位置不平度测试与CCD面形不平度测试；通过建立局部像面与整体像面坐标关系，实现对所述CCD位置不平度的建模，获得建模模型；具体过程为：步骤一、将局部像面上任意点坐标还原到整体像面上，则在整体像面建立CCD拼接误差模型，设定局部像面有6自由度调整量，分别为沿x、y、z三轴方向平移和绕x、y、z三轴方向旋转，旋转方向满足左手定则；当局部像面沿x、y、z三轴方向平移时，对应到整体像面上沿x、y、z三轴方向，且移动量与局部像面相同；当局部像面绕x轴和y轴旋转时，整体像面在绕x轴和y轴方向进行相同的旋转外，需要对其他自由度进行变换，补偿二者旋转变换间的差异；当局部像面绕z轴旋转时，整体像面绕z轴方向进行相同的旋转，其他自由度度保持不变；步骤二、建立局部像面绕x轴方向旋转与整体像面的关系；当局部像面绕x轴旋转α度角时，整体像面应绕x轴旋转α度角，同时整体像面...

【专利技术属性】
技术研发人员：班章，李晓波，杨勋，姜禹希，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：