存储器轮询方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种存储器轮询方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元。所述存储器轮询方法包括：检测执行多个第一指令时多个实体单元对应的多个忙碌时间；统计多个实体单元对应的多个忙碌时间而产生计数统计值，并依据计数统计值决定延迟时间；以及在经过延迟时间之后对可复写式非易失性存储器模块发送状态请求。对可复写式非易失性存储器模块发送状态请求。对可复写式非易失性存储器模块发送状态请求。

【技术实现步骤摘要】
存储器轮询方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元


[0001]本专利技术涉及一种存储器管理技术，尤其涉及一种存储器轮询方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元。

技术介绍

[0002]数码相机、移动电话与MP3播放器在这几年来的成长十分迅速，使得消费者对存储媒体的需求也急速增加。由于可复写式非易失性存储器模块(rewritable non
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volatile memory module)(例如，快闪存储器)具有数据非易失性、省电、体积小，以及无机械结构等特性，所以非常适合内建于上述所举例的各种可携式多媒体装置中。
[0003]在此类具有可复写式非易失性存储器模块的存储器存储装置的使用过程中，存储器的控制器可能需要等待一个指令完成才能执行相同存储器晶粒(die)的另一个指令。一般来说，控制器可以通过预备/忙碌引脚(Ready/Busy PIN)或者通过状态指令来检查存储器晶粒的状态，例如处于预备状态或忙碌状态。
[0004]在通过状态指令检查存储器晶粒的状态时，控制器会使用状态轮询以特定频率或间隔轮询时间重复将状态请求发送到存储器晶粒来确定存储器晶粒是否忙碌。然而，重复发送过多的状态请求会占用控制器过多的资源，不但会增加存储器存储装置的功耗，也会导致存储器存储装置的温度增加。当温度高到一定程度时，系统将会处于不正常的工作状态，从而影响存储器存储装置的性能和使用者体验。因此，如何降低存储器存储装置操作时的耗能是本领域所欲解决的问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供一种存储器轮询方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元，能够降低存储器存储装置的功耗。
[0006]本专利技术的一范例实施例提供一种存储器轮询方法，用于包含可复写式非易失性存储器模块的存储器存储装置。所述可复写式非易失性存储器模块包括多个实体单元。所述存储器轮询方法包括：检测执行多个第一指令时所述多个实体单元对应的多个忙碌时间；统计所述多个实体单元对应的多个忙碌时间而产生计数统计值，并依据所述计数统计值决定延迟时间；以及在经过所述延迟时间之后对所述可复写式非易失性存储器模块发送状态请求。
[0007]在本专利技术的一范例实施例中，上述第一指令包括写入指令、抹除指令以及读取指令至少其中之一。
[0008]在本专利技术的一范例实施例中，上述多个实体单元包括多个实体程序化单元，并且统计所述多个实体单元对应的多个忙碌时间而产生所述计数统计值的步骤包括：计算逻辑上属于相同实体抹除单元的所述多个实体程序化单元对应的多个忙碌时间的平均数，并设定所述平均数为所述实体抹除单元对应的忙碌时间；以及统计多个所述实体抹除单元对应的忙碌时间而产生所述计数统计值。
[0009]在本专利技术的一范例实施例中，上述多个实体单元包括多个实体程序化单元，并且统计所述多个实体单元对应的多个忙碌时间而产生所述计数统计值的步骤包括：统计所述多个实体程序化单元对应的多个忙碌时间而产生所述计数统计值。
[0010]在本专利技术的一范例实施例中，上述计数统计值为所述多个实体单元对应的多个忙碌时间的众数以及中位数至少其中之一。
[0011]在本专利技术的一范例实施例中，上述存储器轮询方法还包括：依据所述存储器存储装置的产品特性将所述众数以及所述中位数至少其中之一设定为所述延迟时间。
[0012]在本专利技术的一范例实施例中，上述存储器轮询方法还包括：依据预设指令执行数目或预设时间周期决定更新所述延迟时间的频率，其中所述预设指令执行数目为指令执行完成的数目。
[0013]本专利技术的一范例实施例提供一种存储器存储装置，包括连接接口单元、可复写式非易失性存储器模块以及存储器控制电路单元。所述连接接口单元用以耦接至主机系统。所述可复写式非易失性存储器模块包括多个实体单元。所述存储器控制电路单元耦接至所述连接接口单元与所述可复写式非易失性存储器模块。所述存储器控制电路单元用以检测执行多个第一指令时所述多个实体单元对应的多个忙碌时间。所述存储器控制电路单元更用以统计所述多个实体单元对应的多个忙碌时间而产生计数统计值，并依据所述计数统计值决定延迟时间。并且，所述存储器控制电路单元更用以在经过所述延迟时间之后对所述可复写式非易失性存储器模块发送状态请求。
[0014]在本专利技术的一范例实施例中，上述第一指令包括写入指令、抹除指令以及读取指令至少其中之一。
[0015]在本专利技术的一范例实施例中，上述多个实体单元包括多个实体程序化单元，并且统计所述多个实体单元对应的多个忙碌时间而产生所述计数统计值的操作包括：计算逻辑上属于相同实体抹除单元的所述多个实体程序化单元对应的多个忙碌时间的平均数，并设定所述平均数为所述实体抹除单元对应的忙碌时间；以及统计多个所述实体抹除单元对应的忙碌时间而产生所述计数统计值。
[0016]在本专利技术的一范例实施例中，上述多个实体单元包括多个实体程序化单元，并且统计所述多个实体单元对应的多个忙碌时间而产生所述计数统计值的操作包括：统计所述多个实体程序化单元对应的多个忙碌时间而产生所述计数统计值。
[0017]在本专利技术的一范例实施例中，上述计数统计值为所述多个实体单元对应的多个忙碌时间的众数以及中位数至少其中之一。
[0018]在本专利技术的一范例实施例中，上述存储器控制电路单元更用以依据所述存储器存储装置的产品特性将所述众数以及所述中位数至少其中之一设定为所述延迟时间。
[0019]在本专利技术的一范例实施例中，上述存储器控制电路单元更用以依据预设指令执行数目或预设时间周期决定更新所述延迟时间的频率，其中所述预设指令执行数目为指令执行完成的数目。
[0020]本专利技术的一范例实施例提供一种存储器控制电路单元，用于控制包括可复写式非易失性存储器模块的存储器存储装置。所述可复写式非易失性存储器模块包括多个实体单元。所述存储器控制电路单元包括主机接口、存储器接口以及存储器管理电路。所述主机接口用以耦接至主机系统。所述存储器接口用以耦接至所述可复写式非易失性存储器模块。
所述存储器管理电路耦接至所述主机接口与所述存储器接口。所述存储器管理电路用以检测执行多个第一指令时所述多个实体单元对应的多个忙碌时间。所述存储器管理电路更用以统计所述多个实体单元对应的多个忙碌时间而产生计数统计值，并依据所述计数统计值决定延迟时间。并且，所述存储器管理电路更用以在经过所述延迟时间之后对所述可复写式非易失性存储器模块发送状态请求。
[0021]在本专利技术的一范例实施例中，上述第一指令包括写入指令、抹除指令以及读取指令至少其中之一。
[0022]在本专利技术的一范例实施例中，上述多个实体单元包括多个实体程序化单元，并且统计所述多个实体单元对应的多个忙碌时间而产生所述计数统计值的操作包括：计算逻辑上属于相同实体抹除单元的所述多个实体程序化单元对应的多个忙碌时间的平均数，并设定所述平均数为所述实体抹除单元对应的忙碌时间；以及统计多个所述实体抹除单元对应的忙碌时间而产生所述计数统计值。
[0023]在本专利技术的一范例实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器轮询方法，用于包含可复写式非易失性存储器模块的存储器存储装置，所述可复写式非易失性存储器模块包括多个实体单元，所述存储器轮询方法包括：检测执行多个第一指令时所述多个实体单元对应的多个忙碌时间；统计所述多个实体单元对应的多个忙碌时间而产生计数统计值，并依据所述计数统计值决定延迟时间；以及在经过所述延迟时间之后对所述可复写式非易失性存储器模块发送状态请求。2.根据权利要求1所述的存储器轮询方法，其中所述第一指令包括写入指令、抹除指令以及读取指令至少其中之一。3.根据权利要求1所述的存储器轮询方法，其中所述多个实体单元包括多个实体程序化单元，并且统计所述多个实体单元对应的多个忙碌时间而产生所述计数统计值的步骤包括：计算逻辑上属于相同实体抹除单元的所述多个实体程序化单元对应的多个忙碌时间的平均数，并设定所述平均数为所述实体抹除单元对应的忙碌时间；以及统计多个所述实体抹除单元对应的忙碌时间而产生所述计数统计值。4.根据权利要求1所述的存储器轮询方法，其中所述多个实体单元包括多个实体程序化单元，并且统计所述多个实体单元对应的多个忙碌时间而产生所述计数统计值的步骤包括：统计所述多个实体程序化单元对应的多个忙碌时间而产生所述计数统计值。5.根据权利要求1所述的存储器轮询方法，其中所述计数统计值为所述多个实体单元对应的多个忙碌时间的众数以及中位数至少其中之一。6.根据权利要求5所述的存储器轮询方法，其中所述存储器轮询方法还包括：依据所述存储器存储装置的产品特性将所述众数以及所述中位数至少其中之一设定为所述延迟时间。7.根据权利要求1所述的存储器轮询方法，其中所述存储器轮询方法还包括：依据预设指令执行数目或预设时间周期决定更新所述延迟时间的频率，其中所述预设指令执行数目为指令执行完成的数目。8.一种存储器存储装置，包括：连接接口单元，用以耦接至主机系统；可复写式非易失性存储器模块，包括多个实体单元；以及存储器控制电路单元，耦接至所述连接接口单元与所述可复写式非易失性存储器模块，其中所述存储器控制电路单元用以检测执行多个第一指令时所述多个实体单元对应的多个忙碌时间，所述存储器控制电路单元更用以统计所述多个实体单元对应的多个忙碌时间而产生计数统计值，并依据所述计数统计值决定延迟时间，并且所述存储器控制电路单元更用以在经过所述延迟时间之后对所述可复写式非易失性存储器模块发送状态请求。9.根据权利要求8所述的存储器存储装置，其中所述第一指令包括写入指令、抹除指令以及读取指令至少其中之一。
10.根据权利要求8所述的存储器存储装置，其中所述多个实体单元包括多个实体程序化单元，并且统计所述多个实体单元对应的多个忙碌时间而产生所述计数统计值的操作包括：计算逻辑上属于相同实体抹除单元的所述多个实体程序化单元对应的多个忙碌时间的平均数，并设定所述平均数为所述实体抹除单元对应的忙碌时间；以及统计多个所述实体抹除单元对应的忙碌时间而产生所述计数统计值。11.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱启傲，张静，曹快，王鑫，程旭辉，洪婉君，
申请(专利权)人：合肥兆芯电子有限公司，
类型：发明
国别省市：