阵列测试器制造技术

一种阵列测试器，包括：　　　　加载单元，该加载单元包括多个加载板，该多个加载板支撑要测试的面板并且相互间有间隔；　　　　测试单元，该测试单元被布置成在第一轴方向上接近于加载单元，并且该测试单元对面板进行测试以检测电缺陷；以及　　　　多个面板输送组件，每个所述面板输送组件将面板从加载单元输送至测试单元，　　　　其中所述面板输送组件包括：导轨，该导轨被沿第一轴方向安装在所述加载板之间；第一移动部件，该第一移动部件被可沿第一轴方向移动地耦合到该导轨；第二移动部件，该第二移动部件被可沿垂直于第一轴方向的第二轴方向移动地耦合到第一移动部件；以及吸取块，该吸取块耦合到第二移动部件，用于从下侧支撑面板。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及阵列测试器，更具体地，涉及一种测试平板显示器面板上的 电缺陷的阵列测试器。
技术介绍
平板显示器一般具有布置在上基欧与下M之间的电极.例如，薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD )面板包括TFT面板、滤光器面板、在TFT面 板与滤光器面板之间插入的液晶、以及背光。在这种情况下，该TFT面板 具有下基昧和在该下基仗上形成的薄膜晶体管。此外，该滤光器面板包括上 M以;^该上J4i上形成的、朝向TFT面板的彩色滤光器和公用电极。通过阵列检测器iM^测诸如TFT面板之类的面板的缺陷。图1是根据传统技术的阵列检测器10的透视图。如图1所示，传统的 阵列检测器IO包括测试基底20、面板固定板30、模块移动部件40、以及测 试模块50。面板固定板30被布置在测试基底20上，用于从底表面支撑至少一个要 测试的面板2。测试模块50检测面板2的电极之间的缺陷。模块移动部件40被形成在测试基底20上，用于水平地移动测试模块50。 模块移动部件40包括x轴托台(gantry)42和y轴托台44。 y轴托台44在测 试基底20的每一侧沿y轴方向延伸，x轴托台42具有与y轴托台44相耦 合的两端本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种阵列测试器，包括：加载单元，该加载单元包括多个加载板，该多个加载板支撑要测试的面板并且相互间有间隔；测试单元，该测试单元被布置成在第一轴方向上接近于加载单元，并且该测试单元对面板进行测试以检测电缺陷；以及多个面板输送组件，每个所述面板输送组件将面板从加载单元输送至测试单元，其中所述面板输送组件包括：导轨，该导轨被沿第一轴方向安装在所述加载板之间；第一移动部件，该第一移动部件被可沿第一轴方向移动地耦合到该导轨；第二移动部件，该第二移动部件被可沿垂直于第一轴方向的第二轴方向移动地耦合到第一移动部件；以及吸取块，该吸取块耦合到第二移动部件，用于从下侧支撑面板。

【技术特征摘要】
1.一种阵列测试器，包括加载单元，该加载单元包括多个加载板，该多个加载板支撑要测试的面板并且相互间有间隔；测试单元，该测试单元被布置成在第一轴方向上接近于加载单元，并且该测试单元对面板进行测试以检测电缺陷；以及多个面板输送组件，每个所述面板输送组件将面板从加载单元输送至测试单元，其中所述面板输送组件包括导轨，该导轨被沿第一轴方向安装在所述加载板之间；第一移动部件，该第一移动部件被可沿第一轴方向移动地耦合到该导轨；第二移动部件，该第二移动部件被可沿垂直于第一轴方向的第二轴方向移动地耦合到第一移动部件；以及吸取块，该吸取块耦合到第二移动部件，用于从下侧支撑面板。2. 根据权利要求1所述的阵列测试器，其中所述加载单元包括至少 三个或更多个相互间有间隔的加载板，并且所述面板输送组件中的至少一 个包括第 一驱动部件和第二驱动部件，其中该第 一驱动部件将第 一移动部 件移动至所述第一轴处，该第二驱动部件将第二移动部件移动至所述第二 轴处。3. 根据权利要求2所述的阵列测试器，其中所述加载单元包括三个 或更多个相互间有间隔的加载板，并且不包括第二驱动部件的面板输送组 件的第二移动部件耦合到第一移动部件，以^^沿第二轴方向自由移动。4. 一种阵列测试器，包括加载单元，该加载单元包括三个或更多个加载板，所述加载板相互间 有间隔并从下侧支撑要测试的面板；测试单元，该测试单元被布置成在第一轴方向上接近于加载单元，并 且该测试单元对面板进行测试以检测该面板的电缺陷；部署确定单元，该部署确定单元被布置在加载单元和测试单元的任一 或两者之上，并确定面板是否被适当地部署；以及多个面板输件，每个所述面板输送组件在从下侧支撑面板的同时 将面板从加载单元输送至测试单元，并根据部署确定单元的确定结果来部署面板，其中每个所述面板输送组件包括导轨，该导M沿第一轴方向安装在所述加载板之间；第一移动部件，该第一移动部件被可沿第一轴方向移 动地耦合到第一导轨；第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘俊浩，丁东澈，郑永珍，
申请(专利权)人：塔工程有限公司，
类型：发明
国别省市：KR