光电式角度测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种光电式角度测量装置，其包括具有可被光学检测的位置编码（Ｃ１）的编码载体；还包括光敏的带状或面状形式的扫描装置，该扫描装置用于检测所述位置编码（Ｃ１）并生成与位置相关的扫描信号。特别是被构造为扫描膜（Ｆ１）的所述扫描装置沿周边基本完全包围所述编码载体，或者所述编码载体沿着周边基本完全包围所述扫描装置。由于大部分位置编码（Ｃ１），尤其是全部位置编码（Ｃ１）能够被检测，因此提供了一种极为精确的角度测量装置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种光电式角度测量装置，其用于确定围绕至少一个轴 的至少一个角度。
技术介绍
在例如测地和工业测量的许多应用领域中要求确定方向和角度。在 现有技术中角度测量技术的发展经历了从机械式的读取过程到全自动的 角度测量。借助自动化技术，能够达到很高的测量精度，能够縮减观察 时间并且可以直接存储测量值并以数字形式对其进行进一步处理。己知的角度测量装置一般包括所谓的刻度盘和扫描装置。刻度盘被 设计为编码载体，其具有用于在度盘上确定位置的刻度或者编码。构造 成具有刻度或编码并用于确定角度的装置在下文将被称为编码载体或者 刻度盘。编码被施加在编码载体的度盘一个表面(圆面或者侧表面)上。为了自动地检测角度值，将借助不同的技术对编码载体进行扫描， 所述编码载体相对于扫描装置而言可绕轴转动。已知的扫描方法是电磁 方法、电方法和光电子方法。稍后描述的实施方式涉及光电扫描方法和 扫描装置。为了确定从0°到360。的角度位置，通常在整圆刻度盘中设置编码。 整圆刻度盘的角度分辨率根据编码的方式并且根据为了读取该编码而设 置的扫描装置来确定。因此，例如通过施加由很多轨线组成的编码或者 通过精细的刻度本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光电式角度测量装置，该光电式角度测量装置用于确定围绕至少一个轴（Ａ，Ａ１，Ａ２，Ａ３）的至少一个角度，该光电式角度测量装置包括：　　　　在轴（Ａ，Ａ１，Ａ２，Ａ３）周围的编码载体，该编码载体承载了可被光学地检测的位置编码（Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３）；以及　　　　光敏的带状或者面状形式的至少一个扫描装置，借助所述扫描装置可以检测所述位置编码（Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３），并且可以生成与位置相关的扫描信号，所述扫描信号与所述编码载体和所述扫描装置之间的角度相关联；　　　　其特征在于，　　　　所述扫描装置沿着所述编码载体的至少一个周边基本完整地包围所述编码载体，或者所述编码载体沿着所述扫描装置的至少一个周边基本完...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】EP 2005-11-4 05110357.01.一种光电式角度测量装置，该光电式角度测量装置用于确定围绕至少一个轴(A，A1，A2，A3)的至少一个角度，该光电式角度测量装置包括在轴(A，A1，A2，A3)周围的编码载体，该编码载体承载了可被光学地检测的位置编码(C1，C2，C3)；以及光敏的带状或者面状形式的至少一个扫描装置，借助所述扫描装置可以检测所述位置编码(C1，C2，C3)，并且可以生成与位置相关的扫描信号，所述扫描信号与所述编码载体和所述扫描装置之间的角度相关联；其特征在于，所述扫描装置沿着所述编码载体的至少一个周边基本完整地包围所述编码载体，或者所述编码载体沿着所述扫描装置的至少一个周边基本完整地包围所述扫描装置，并且所述扫描装置特别被构造为整体件。2.根据权利要求1所述的光电式角度测量装置，其特征在于，所述 扫描装置具有多个例如光电二极管或者光电管的有机光电检测器。3，根据权利要求2所述的光电式角度测量装置，其特征在于，所述 扫描装置具有有机光电二极管区和相重叠的有机晶体管区。4. 根据权利要求1或2或3所述的光电式角度测量装置，其特征在 于，所述扫描装置被构造为柔性的扫描膜(Fl， F2)。5. 根据权利要求1至4之一所述的光电式角度测量装置，其特征在 于，设置有多个、特别是横向于周向相互间隔布置的扫描装置。6. 根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：贝亚特埃比舍尔，海因茨利普纳，伯恩哈德布劳内克，
申请(专利权)人：莱卡地球系统公开股份有限公司，
类型：发明
国别省市：CH[瑞士]