一种SD卡控制器调试方法、系统、存储介质及设备技术方案

本发明专利技术提供了一种SD卡控制器调试方法、系统、存储介质及设备，方法包括：通过调试状态控制模块检测SD卡是否在位；若SD卡在位，由上位机将调试数据发送至串口收发控制模块并对调试数据进行解析，以得到若干条分别包括偏移地址和对应的寄存器内容的帧数据；由串口收发控制模块将若干条帧数据分别发送至寄存器模块以将其分别根据偏移地址存放至寄存器列表中；由调试状态控制模块读取寄存器列表中的帧数据，且基于其中的寄存器内容获取与SD卡相连接的SD卡控制器中的目标寄存器的地址，并向目标寄存器发起读数据或写数据的操作，并通过APB接口对SD卡控制器的目标寄存器进行数据读取或数据写入以进行相应地调试。本发明专利技术提高了SD卡控制器的调试效率。卡控制器的调试效率。卡控制器的调试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种SD卡控制器调试方法、系统、存储介质及设备


[0001]本专利技术涉及信息
，尤其涉及一种SD卡控制器调试方法、系统、存储介质及设备。

技术介绍

[0002]ASIC(Application Specific Integrated Circuit，专用集成电路)的设计与制造是一个非常复杂的过程，近年来，在政策和资金的双重刺激下，中国半导体产业发展驶入快车道。ARM(Advanced RISC Machine)架构有低成本、低功耗、体积小等特点，因此，在ASIC设计时广泛采用基于ARM的架构。
[0003]SD卡(Secure Digital Memory Card，安全数码存储卡，一种常见的数据存储设备)作为一种具有安全性高、高性能、体积小巧、便携及可热插拔等优点的存储设备，被广泛应用。SD卡控制器是SD卡与高性能系统总线高速通信的桥梁，实现ARM对SD卡的数据读写功能。
[0004]在现有技术中，ASIC内部SD卡控制器功能模块调试一般有以下方式：专用DFT电路或者仿真器进行调试，其中，DFT是一种集成电路设计技术，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种SD卡控制器调试方法，其特征在于，包括以下步骤：通过调试状态控制模块检测SD卡是否在位；响应于所述SD卡在位，由上位机将调试数据发送至串口收发控制模块，并由所述串口收发控制模块对所述调试数据进行解析，以得到若干条分别包括偏移地址和对应的寄存器内容的帧数据；由所述串口收发控制模块将所述若干条帧数据分别发送至寄存器模块，以使所述寄存器模块将所述若干条帧数据分别根据偏移地址存放至寄存器列表中；由所述调试状态控制模块读取所述寄存器列表中的所述若干条帧数据，且基于其中的寄存器内容获取与所述SD卡相连接的SD卡控制器中的目标寄存器的地址，并向所述目标寄存器发起读数据或写数据的操作，并通过APB接口基于所述读数据或写数据的操作对所述SD卡控制器的所述目标寄存器进行数据读取或数据写入以进行相应地调试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，向所述目标寄存器发起读数据或写数据的操作，并通过APB接口基于所述读数据或写数据的操作对所述SD卡控制器的所述目标寄存器进行数据读取或数据写入以进行相应地调试包括：由所述调试状态控制模块基于所述若干条帧数据的寄存器内容向所述目标寄存器发起读数据的操作，并通过APB接口基于所述读数据的操作从所述目标寄存器中读取相应的数据；响应于所述SD卡控制器将所述相应的数据通过所述APB接口返回至所述调试状态控制模块，由所述调试状态控制模块将所述相应的数据暂存至所述寄存器模块的指定寄存器中后告知所述串口收发控制模块，并由所述串口收发控制模块从所述指定寄存器中获取所述相应的数据并发送至所述上位机。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：响应于所述上位机接收到所述相应的数据，从所述相应的数据中获取所述SD卡控制器支持的能力，以基于所述支持的能力确定调试内容。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，向所述目标寄存器发起读数据或写数据的操作，并通过APB接口基于所述读数据或写数据的操作对所述SD卡控制器的所述目标寄存器进行数据读取或数据写入以进行相应地调试包括：由所述调试状态控制模块基于所述若干条帧数据的寄存器内容向所述目标寄存器发起写数据的操作，并通过APB接口基于所述写数据的操作将所述若干条帧数据中指定帧数据中的内容写入所述目标寄存器。5.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾学强，李志，熊子涵，丁微微，
申请(专利权)人：山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司，
类型：发明
国别省市：