用于中长波红外高光谱遥感器背景辐射抑制的装置制造方法及图纸

本专利公开了一种用于中长波红外高光谱遥感器背景辐射抑制的装置，包括第一制冷机组件、第二制冷机组件和冷箱组件，所述第一制冷机组件和第二制冷机组件分别与冷箱组件相接，所述冷箱组件内部设置有光谱仪组件，所述光谱仪组件包括第一光谱仪、第二光谱仪和第三光谱仪，所述第一制冷机组件通过一柔性冷链分别连通第一光谱仪和第二光谱仪，所述第二制冷机组件通过一柔性冷链连通第三光谱仪，所述冷箱组件上设置有窗口安装基座，所述第一光谱仪、第二光谱仪和第三光谱仪围绕窗口安装基座排布。本专利通过采用两级制冷的方式进行制冷，有效的避免制冷机开机时间长的问题，保证真空深低温制冷，有效实现中长波红外高光谱遥感器的背景辐射抑制。景辐射抑制。景辐射抑制。

【技术实现步骤摘要】
用于中长波红外高光谱遥感器背景辐射抑制的装置


[0001]本专利涉及红外探测器领域，尤其涉及一种用于中长波红外高光谱遥感器背景辐射抑制的制冷装置。

技术介绍

[0002]高光谱成像技术是80年代发展起来的遥感技术，与传统的光谱仪不同的是，高光谱成像技术是集成像与光谱于一体(图谱合一)，以纳米级高光谱分辨率，在获取目标二维空间图像信息的同时，同步获取目标的连续精细光谱信息，使空间遥感的探测能力大为提高。而相较于可见、近红外、短波红外，中长波红外(5.0μm～15μm)高光谱成像技术具有独特的优势，光谱覆盖范围达到了近万纳米，能够获取目标自身的热辐射精细光谱信息，不仅可以有效地识别地物的成分，还可以有效的区分地物的构造特征，获取地物的温度及发射率等参数信息，可广泛应用于陆地、大气、海洋等观测中。
[0003]但根据维恩位移定律，峰值波长在中长波红外谱段5.0～12.5μm范围内的等效黑体温度值在240～3
‑
70K(
‑3‑
3℃～97℃)，这个温度范围包含了地球表面上绝大多数物体，即几乎所有物体都能辐射这本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于中长波红外高光谱遥感器背景辐射抑制的装置，包括第一制冷机组件(1)、第二制冷机组件(2)和冷箱组件(3)，其特征在于，所述第一制冷机组件(1)和第二制冷机组件(2)分别与冷箱组件(3)相接，所述冷箱组件(3)内部设置有光谱仪组件(3
‑
6)；所述光谱仪组件(3
‑
6)包括第一光谱仪(3
‑6‑
1)、第二光谱仪(3
‑6‑
2)和第三光谱仪(3
‑6‑
3)，所述第一制冷机组件(1)通过一柔性冷链分别连通第一光谱仪(3
‑6‑
1)和第二光谱仪(3
‑6‑
2)，所述第二制冷机组件(2)通过一柔性冷链连通第三光谱仪(3
‑6‑
3)，所述冷箱组件(3)上设置有窗口安装基座(3
‑1‑
3)，所述第一光谱仪(3
‑6‑
1)、第二光谱仪(3
‑6‑
2)和第三光谱仪(3
‑6‑
3)围绕窗口安装基座(3
‑1‑
3)排布。2.根据权利要求1所述的一种用于中长波红外高光谱遥感器背景辐射抑制的装置，其特征在于，所述冷箱组件(3)包括冷箱箱体(3
‑
1)、冷箱盖板(3
‑
2)、冷箱支撑架(3
‑
3)、第一柔性链(3
‑
4)和第二柔性链(3
‑
5)，所述第一柔性链(3
‑
4)连通第一制冷机组件(1)及第一光谱仪(3
‑6‑
1)和第二光谱仪(3
‑6‑
2)，所述第二柔性链(3
‑
5)连通第三光谱仪(3
‑6‑
3)，所述冷箱盖板(3
‑
2)盖设在冷箱箱体(3
‑
1)上，所述光谱仪组件(3
‑
6)通过光谱仪支撑杯(3
‑
7)固定在冷箱箱体(3
‑
1)的底座上，所述冷箱箱体(3
‑
1)的底部设置有冷箱支撑架(3
‑
3)。3.根据权利要求2所述的一种用于中长波红外高光谱遥感器背景辐射抑制的装置，其特征在于，所述冷箱箱体(3
‑
1)侧边设置有第一抽真空接口(3
‑1‑
1)和第二抽真空接口(3
‑1‑
2)，所述第一抽真空接口(3
‑1‑
1)和第二抽真空接口(3
‑1‑
2)分开设置。4.根据权利要求2所述的一种用于中长波红外高光谱遥感器背景辐射抑制的装置，其特征在于，所述冷箱盖板(3
‑
2)与冷箱箱体(3
‑
1)之间设置有密封圈(3
‑2‑
1)。5.根据权利要求2所述的一种用于中长波红外高光谱遥感器背景辐射抑制的装置，其特征在于，所述冷箱盖板(3
‑
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【专利技术属性】
技术研发人员：刘银年，刘国庆，刘书锋，孙德新，
申请(专利权)人：中国科学院上海技术物理研究所，
类型：新型
国别省市：