【技术实现步骤摘要】
一种兼容性测试设备
[0001]本专利技术涉及计算机测试
,更具体地说,涉及一种兼容性测试设备。
技术介绍
[0002]PCIe挡片用来固定PCIe卡,辅助网卡、HCA卡、存储卡或显卡等安装在计算机的PCIe插槽上。PCIe挡片有全高挡片与半高挡片之分,全高挡片长度约为120mm,半高挡片长度约为80mm;PCIe挡片规范宽度为18.42mm;需根据实际要求选取全高挡片还是半高挡片对插卡进行固定。
[0003]PCIe挡片按照要求进行设计时,其长度及宽度等有严格的设计要求。通常的,插卡经安装固定后无需拆卸,只有在维修或更换其他插卡时需拆卸。然而,在部件兼容性测试过程中需对某一张插卡在各种各样的机型上的兼容性做出评估,因此需经常更换全高或半高挡片。经常性的更换挡片有可能对插卡造成损伤,也浪费了工作时间,降低了工作效率。
[0004]综上所述,如何降减少在测试阶段挡片对插卡造成损伤,是目前本领域技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
[0005]有鉴于此,本专利技术的目的是提供一种兼容性测试 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种兼容性测试设备,包括测试固定部,其特征在于,还包括:第一挡片(1),其具有沿长度方向的滑轨(11),且沿长度方向设置有用于固定连接PCIE卡的固定部(12);第二挡片(2),其沿长度方向可滑动的设于所述滑轨(11)中,且其端部设有用于可拆卸的固定于测试固定部的定位部(22);所述第二挡片(2)的长度小于或等于所述第一挡片(1)的长度;当所述第二挡片(2)相对于所述第一挡片(1)正向或逆向滑动时,二者的整体长度增加或减小。2.根据权利要求1所述的兼容性测试设备,其特征在于,所述第一挡片(1)的长度等于半高挡片的长度,所述第二挡片(2)的长度等于全高挡片与半高挡片的差值;当所述第二挡片(2)滑动至与所述第一挡片(1)完全重合时,所述定位部(22)与所述第一挡片(1)的端部卡接以限位。3.根据权利要求1所述的兼容性测试设备,其特征在于,所述第二挡片(2)的主体部(21)与所述第一挡片(1)的主体部贴合设置。4.根据权利要求1所述的兼容性测试设备,其特征在于,所述固定部(12)包括至少两个平行设置的支耳,且若干个所述支耳沿所述第一挡片(1)的长度方向依次设置,所述支耳垂直于所述第一挡片(1)所在平面,所述支耳设置有用于连接PCIE卡的连接孔,所述支耳连接于PCIE卡时,所述PCIE卡与所述支耳贴合设置。5.根据权利要求4所述的兼容性测试设备,其特征在于,每个所述支耳设置有便于插接网口的网口型固定接口,所述网口型固定接口的个数至少为两个,且所述网口型固定接口的种类至少为两种。6.根据权利要求1至5任意一项所述的兼容性测试设备,其特征在于,所述第一挡片(1)设置有一个所述滑轨(11),且与所述滑轨(11)相对的一侧设有限制所述第二挡片(2)移出的止挡部,所...
【专利技术属性】
技术研发人员:宿德欣,
申请(专利权)人:苏州浪潮智能科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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