电子设备内部磁场的校准方法、装置、系统及介质制造方法及图纸

本公开是关于一种电子设备内部磁场的校准方法、装置、系统及介质，电子设备包括可移动的摄像头以及随摄像头移动的磁体，校准方法包括第一校准方法：摄像头移动过程中，获取磁体的当前磁场参数和摄像头的当前位移；根据当前磁场参数和当前位移，以及预设对应关系，判断电子设备的内部磁场是否需要校准，其中，预设对应关系用于表征磁场参数与摄像头的位移的对应关系；若电子设备的内部磁场需要校准，根据第一预设方法进行校准，避免出现因电子设备的内部磁场受到干扰而造成摄像头移动位置不准确的问题。准确的问题。准确的问题。

【技术实现步骤摘要】
电子设备内部磁场的校准方法、装置、系统及介质


[0001]本公开涉及智能设备领域，尤其涉及一种电子设备内部磁场的校准方法、装置、系统及介质。

技术介绍

[0002]相关技术中，移动设备通过霍尔传感器检测滑动指令等。对于具有折叠屏的移动设备，还可以使用霍尔传感器检测移动设备的张开角度，控制折叠屏的显示状态。
[0003]霍尔传感器通过检测其周围磁场的变化，输出不同的检测结果。然而，当霍尔传感器周围的磁性物质被磁化时，会严重干扰并影响霍尔传感器的工作状态，影响霍尔传感器的检测准确性，进而造成电子设备出现使用问题，影响用户的使用体验。

技术实现思路

[0004]为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种电子设备内部磁场的校准方法、装置、系统及介质。
[0005]根据本公开实施例的第一方面，提供了一种电子设备内部磁场的校准方法，电子设备包括可移动的摄像头以及随摄像头移动的磁体，所述校准方法包括第一校准方法，所述第一校准方法包括：
[0006]摄像头移动过程中，获取磁体的当前磁场参数和摄像头的当前位移；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子设备内部磁场的校准方法，其特征在于，电子设备包括可移动的摄像头以及随摄像头移动的磁体，所述校准方法包括第一校准方法，所述第一校准方法包括：摄像头移动过程中，获取磁体的当前磁场参数和摄像头的当前位移；根据所述当前磁场参数和所述当前位移，以及预设对应关系，判断电子设备的内部磁场是否需要校准，其中，所述预设对应关系用于表征磁场参数与摄像头的位移的对应关系；若电子设备的内部磁场需要校准，根据第一预设方法进行校准。2.根据权利要求1所述的电子设备内部磁场的校准方法，其特征在于，所述根据所述当前磁场参数和所述当前位移，以及预设对应关系，判断电子设备的内部磁场是否需要校准，包括：获取预存的所述预设对应关系；根据所述当前磁场参数和所述预设对应关系，确定与所述当前磁场对应的预设位移；根据所述当前位移和预设位移，判断电子设备的内部磁场是否需要校准。3.根据权利要求2所述的电子设备内部磁场的校准方法，其特征在于，所述根据所述当前位移和预设位移，判断电子设备的内部磁场是否需要校准，包括：判断所述当前位移与所述预设位移是否相同；当所述当前位移与所述预设位移相同，确定电子设备的内部磁场不需要校准；当所述当前位移与所述预设位移不相同，确定电子设备的内部磁场需要校准。4.根据权利要求1所述的电子设备内部磁场的校准方法，其特征在于，所述若电子设备的内部磁场需要校准，根据第一预设方法进行校准，包括：控制摄像头进行预设次数移动；摄像头每一次移动过程中，获取多个校准磁场参数，以及摄像头的与每一个所述校准磁场参数对应的校准位移；根据多个所述校准磁场参数和每个所述校准磁场参数对应的位移，确定所述校准磁场参数和与其对应的位移的校准对应关系；根据所述校准对应关系，对电子设备的内部磁场进行校准。5.根据权利要求4所述的电子设备内部磁场的校准方法，其特征在于，所述根据所述校准对应关系，对电子设备的内部磁场进行校准，包括：删除所述预设对应关系；将所述校准对应关系作为所述预设对应关系，对电子设备的内部磁场进行校准。6.根据权利要求1所述的电子设备内部磁场的校准方法，其特征在于，所述校准方法还包括第二校准方法，所述第二校准方法包括：对电子设备中的金属结构进行退磁处理，或者，对电子设备中的金属结构施加同一磁场，以实现磁场均匀处理。7.一种电子设备内部磁场的校准装置，应用于电子设备，电子设备包括可移动的摄像头以及随摄像头移动的磁体，...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈朝喜，
申请(专利权)人：北京小米移动软件有限公司，
类型：发明
国别省市：