一种老化座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种老化座，包括座体、夹持部和与所述夹持部电性连接的插接部，所述夹持部和所述插接部分别设置在所述座体的两端，所述夹持部包括多个一一相对设置的卡接端，所述插接部包括多个一一相对设置的插针，同一条线上的卡接端与插针形成导电件。其可以安装大量的电子元件，而能一次性大量测试电子元件。元件。元件。

【技术实现步骤摘要】
一种老化座


[0001]本技术涉及电子元器件的老化测试领域，尤其涉及一种老化座。

技术介绍

[0002]在电子元件(电阻、电容、电感和芯片)出厂时，为了保证电子元件的品质，都需要对电子元件进行老化测试。
[0003]在测试电子元件时，一般都会把电子元件先安装在老化座或者老化板，再把安装有电阻元件的老化座或者老化板设置在测试装置或者系统上进行老化测试。
[0004]目前在市场上出现了一些老化座，但这些老化座能安装的电子元件数量不多，导致不能一次性测试大量电子元件。

技术实现思路

[0005]为了克服现有技术的不足，本技术的目的在于提供一种老化座，其可以安装大量的电子元件，而能一次性大量测试电子元件。
[0006]本技术的目的采用以下技术方案实现：
[0007]一种老化座，包括座体、夹持部和与所述夹持部电性连接的插接部，所述夹持部和所述插接部分别设置在所述座体的两端，所述夹持部包括多个一一相对设置的卡接端，所述插接部包括多个一一相对设置的插针，同一条线上的卡接端与插针形成导电件。
[0008]优选的，所述卡接端包括第一弹性杆、第一弯曲头、第二弹性杆和第二弯曲头，所述第一弯曲头通过所述第一弹性杆与所述插针固定连接，所述第二弯曲头通过所述第二弹性杆与所述插针固定连接，相对设置的两个卡接端上的第一弯曲头相对设置、相对设置的两个卡接端上的第二弯曲头相对设置而形成所述的夹持部。
[0009]优选的，所述第一弹性杆的长度大于所述第二弹性杆的长度，所述第一弯曲头的高度大于所述第二弯曲头的高度。
[0010]优选的，同一所述卡接端上的所述第一弯曲头和所述第二弯曲头弯曲的方向一致，相对设置的两个第一弯曲头弯曲的方向相反，相对设置的两个第二弯曲头弯曲的方向相反。
[0011]优选的，同一所述卡接端上的所述第一弯曲头与所述第二弯曲头相对设置，所述第一弯曲头的宽度与所述第二弯曲头的宽度相等。
[0012]优选的，所述第一弯曲头和所述第二弯曲头上均设置有弧形面，所述弧形面的弧度为60
‑
90度。
[0013]优选的，所述座体包括固定板和多个穿孔，所述导电件通过所述穿孔穿过所述座体，所述插针穿过所述座体的部分呈L型，所述插针呈L型的部分固定在所述固定板上。
[0014]优选的，所述插针与所述卡接端的连接处设置有散热槽和凸块。
[0015]优选的，所述座体还包括多个连接块和连接柱，所述连接块和所述连接柱固定在所述座体的两端。
[0016]优选的，所述座体还包括插槽，所述夹持部通过所述插槽设置在所述座体上。
[0017]相比现有技术，本技术的有益效果在于：
[0018]本老化座设置有多个一一相对设置的卡接端和多个一一相对设置的插针，其中每一对卡接端均可以插接一个电子元件，每一对插针均可以电性连接正负极电源或者测试信号输出输入端。因此，本老化座可以安装大量的电子元件，而能一次性测试大量电子元件。
附图说明
[0019]图1为本技术的老化座的立体结构示意图；
[0020]图2为图1中A处的放大示意图；
[0021]图3为本技术的老化座另一视角的立体结构示意图；
[0022]图4为本技术的导电件的立体结构示意图；
[0023]图5为本技术的老化座的平面结构示意图；
[0024]图6为本技术的老化座去掉导电件的立体结构示意图；
[0025]图7为本技术的固定板的立体结构示意图。
[0026]图中：100、老化座；10、座体；11、连接块；111、固定孔；12、穿孔；13、固定板；131、稳定孔；132、锁紧孔；14、插槽；15、连接柱；16、散热孔；20、夹持部；30、插接部；40、导电件；41、卡接端；42、第一弹性杆；43、第二弹性杆；44、第一弯曲头；45、第二弯曲头；46、插针；461、散热槽；462、凸块。
具体实施方式
[0027]下面，结合附图以及具体实施方式，对本技术做进一步描述：
[0028]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“横向”、“纵向”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0029]如图1
‑
3所示，本技术公开了一种老化座100，包括座体10、夹持部20和与所述夹持部20电性连接的插接部30，所述夹持部30和所述插接部30分别设置在所述座体10的两端，所述夹持部30包括多个一一相对设置的卡接端41，所述插接部30包括多个一一相对设置的插针46，同一条线上的卡接端41与插针46形成导电件40。
[0030]在上述实施方式中，本老化座100设置有一一相对设置的卡接端41和一一相对设置的插针46，其中每一对卡接端41均可以插接一个电子元件，每一对插针46均可以电性连接正负极电源或者测试信号源。这样电子元件就可以通过所述卡接端41卡接在本老化座100上，并通过所述插针46电性连接的正负极电源或测试信号源，来对电子元件进行测试。由于本老化座100设置有多个卡接端41和多个插针46，而可以安装大量的电子元件，并能一次性大量测试电子元件。所述导电件40最优为铜导电件。
[0031]如图3
‑
4所示，在一种优选的实施方式中，所述卡接端41包括第一弹性杆42、第一弯曲头44、第二弹性杆43和第二弯曲头45，所述第一弯曲头44通过所述第一弹性杆42与所
述插针46固定连接，所述第二弯曲头45通过所述第二弹性杆43与所述插针46固定连接，相对设置的两个卡接端41上的第一弯曲头44相对设置、相对设置的两个卡接端41上的第二弯曲头45相对设置而形成所述的夹持部20。
[0032]在上述实施方式中，由于所述第一弹性杆42和所述第二弹性杆43具有弹性，所以相对设置的(两个)所述第一弹性杆42上的第一弯曲头44能夹持住电子元件，相对设置的(两个)第二弹性杆43上的第二弯曲头45能夹持住电子元件，所述第一弯曲头44和所述第二弯曲头45能同时夹持同一电子元件，而能更稳固地夹持电子元件。为了使所述第一弯曲头44和所述第二弯曲头45能更好地夹持电子元件，所述第一弯曲头44和所述第二弯曲头45为具有弹性的弧形块。
[0033]进一步地，为了便于形成二次插接的效果，所述第一弹性杆42的长度大于所述第二弹性杆43的长度，所述第一弯曲头44的高度大于所述第二弯曲头45的高度。为了便于插接电子元件，同一所述卡接端41上的所述第一弯曲头44和所述第二弯曲头45弯曲的方向一致，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种老化座，其特征在于：包括座体、夹持部和与所述夹持部电性连接的插接部，所述夹持部和所述插接部分别设置在所述座体的两端，所述夹持部包括多个一一相对设置的卡接端，所述插接部包括多个一一相对设置的插针，同一条线上的卡接端与插针形成导电件。2.根据权利要求1所述的老化座，其特征在于：所述卡接端包括第一弹性杆、第一弯曲头、第二弹性杆和第二弯曲头，所述第一弯曲头通过所述第一弹性杆与所述插针固定连接，所述第二弯曲头通过所述第二弹性杆与所述插针固定连接，相对设置的两个卡接端上的第一弯曲头相对设置、相对设置的两个卡接端上的第二弯曲头相对设置而形成所述的夹持部。3.根据权利要求2所述的老化座，其特征在于：所述第一弹性杆的长度大于所述第二弹性杆的长度，所述第一弯曲头的高度大于所述第二弯曲头的高度。4.根据权利要求3所述的老化座，其特征在于：同一所述卡接端上的所述第一弯曲头和所述第二弯曲头弯曲的方向一致，相对设置的两个第一弯曲头弯曲的方向相反，相对设置的...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹佶，刘余海，
申请(专利权)人：浙江杭可仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：