一种支柱瓷绝缘子的检测装置制造方法及图纸

本申请提供一种支柱瓷绝缘子的检测装置，包括：旋转机构，所述旋转机构包括电机、传动机构和旋转环，当所述旋转环套装于支柱瓷绝缘子上时，所述电机通过所述传动机构驱动所述的旋转环沿所述的支柱绝缘子周向旋转；爬波探头，安装于所述的旋转环上，用于旋转检测所述支柱瓷绝缘子的表面缺陷；相控阵探头，安装于所述的旋转环上，用于旋转检测所述支柱瓷绝缘子的内部缺陷；定位器，安装于所述的旋转环上，用于记录所述超声波探头的位移。本申请能够高效检测支柱瓷绝缘子的缺陷。测支柱瓷绝缘子的缺陷。测支柱瓷绝缘子的缺陷。

【技术实现步骤摘要】
一种支柱瓷绝缘子的检测装置


[0001]本申请涉及电力设备检测领域，具体是一种支柱瓷绝缘子的检测装置。

技术介绍

[0002]支柱瓷绝缘子是保障电网中电气设备安全运行的重要部件。支柱瓷绝缘子的安装、维护、检修及运行过程容易受恶劣环境或其它因素的影响。一旦支柱瓷绝缘子发生失效断裂，将危及电网的运行安全。因此，加强对电网中在役支柱瓷绝缘子的有效检测及质量评价，对确保电网的安全可靠运行至关重要。
[0003]目前，工程现场开展对支柱瓷绝缘子的检修工作时，检修人员先用爬波法对支柱瓷绝缘子法兰口附件沿周向手动扫查一圈，实现对胶装区表面及近表面缺陷的检测；然后再换上小角度纵波探头沿周向手动进行锯齿型扫查，以发现绝缘子内部、对称侧表面及近表面缺陷。
[0004]但上述方法存在如下缺陷：
[0005]1)上述方法需要两个步骤才能完成对支柱瓷绝缘子的检测。第一次使用爬波探头对支柱瓷绝缘子的近表面缺陷进行检测；第二次根据支柱瓷绝缘子的直径选择对应曲率的下角度纵波探头进行检测。检测步骤多，操作难度大，出错率高，检测效率低。
[0006]2)上述方法采用固定的小角度纵波斜入射法进行检测时，只能检测探头入射点固定范围内的缺陷，检测覆盖范围小。如果需要检测整个支柱瓷绝缘子，则探头需在横向及纵向上分别进行检测，检测效率低。
[0007]3)上述方法需要人工手动完成，手动检测非常考验检测者的技术水平。例如，探头与绝缘子的贴合度及耦合剂的用量等因素都会影响检测结果，导致检测结果没有复制性，影响了对结果的验证。<br/>
技术实现思路

[0008]针对现有技术中的问题，本申请提供一种支柱瓷绝缘子的检测装置，能够检测支柱瓷绝缘子的缺陷。
[0009]为解决上述技术问题，本申请提供以下技术方案：
[0010]本申请提供一种支柱瓷绝缘子的检测装置，包括：
[0011]旋转机构，所述旋转机构包括电机、传动机构和旋转环，当所述旋转环套装于支柱瓷绝缘子上时，所述电机通过所述传动机构驱动所述的旋转环沿所述的支柱绝缘子周向旋转；
[0012]爬波探头，安装于所述的旋转环上，用于旋转检测所述支柱瓷绝缘子的表面缺陷；
[0013]相控阵探头，安装于所述的旋转环上，用于旋转检测所述支柱瓷绝缘子的内部缺陷；
[0014]定位器，安装于所述的旋转环上，用于记录所述超声波探头的位移。
[0015]进一步地，所述旋转环包括链条和用于将所述链条两端锁紧的锁紧机构。
[0016]进一步地，所述传动机构具有一主动轮及多个被动轮，所述主动轮在所述电机的驱动下通过传送带带动所述多个被动轮转动，以驱动所述旋转环沿所述支柱瓷绝缘子周向旋转。
[0017]进一步地，所述爬波探头包括第一超声波振动晶片，用于通过发射爬波以检测所述支柱瓷绝缘子的表面缺陷。
[0018]进一步地，所述相控阵探头包括第二超声波振动晶片，用于通过发射超声波以检测所述支柱瓷绝缘子的内部缺陷，所述超声波覆盖一扇形区域。
[0019]进一步地，所述定位器包括：
[0020]光栅盘，用于记录所述超声波探头在所述支柱瓷绝缘子上的周向位移光信号；
[0021]光电编码器，用于对所述周向位移光信号进行光电转换并输出周向位移电信号。
[0022]进一步地，构成所述链条旋转环的链节个数能够根据所述支柱瓷绝缘子的直径调节。
[0023]进一步地，所述的支柱瓷绝缘子的检测装置，还包括：电机控制器，用于控制所述电机的正转、反转、停止及扫查速度调节。
[0024]针对现有技术中的问题，本申请提供的支柱瓷绝缘子的检测装置，能够针对支柱瓷绝缘子的表面缺陷及内部缺陷进行同时自动检测，检测数据具有连续性，可靠性高，可复制性强，便于后续进行检修分析。
附图说明
[0025]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0026]图1为本申请实施例中支柱瓷绝缘子的检测装置的结构示意图；
[0027]图2为本申请实施例中旋转机构的结构示意图；
[0028]图3为小角度纵波探头检测示意图；
[0029]图4为本申请实施例中相控阵探头的扇形扫查示意图；
[0030]图5为本申请实施例中定位器的结构示意图。
具体实施方式
[0031]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0032]如图1所示为本申请提供的支柱瓷绝缘子的检测装置，包括：旋转机构、爬波探头4、相控阵探头5及定位器6。
[0033]其中，旋转机构包括电机1、传动机构2及旋转环3，当旋转环3套装于支柱瓷绝缘子上时，电机1通过传动机构2驱动旋转环3沿支柱绝缘子周向旋转。也就是说，在使用本申请提供的支柱瓷绝缘子检测装置检测支柱瓷绝缘子的缺陷时，需要将该支柱瓷绝缘子检测装
置的旋转环3套装于支柱瓷绝缘子上，随着旋转环3沿支柱绝缘子周向旋转，安装于旋转环3上的爬波探头4可以旋转检测支柱瓷绝缘子的表面缺陷；安装于旋转环3上的相控阵探头5可以旋转检测支柱瓷绝缘子的内部缺陷；安装于旋转环3上的定位器6可以记录超声波探头的位移。最终，检修人员可以根据爬波探头4、相控阵探头5输出的检测信号及定位器6输出的位移信号确定支柱瓷绝缘子的缺陷。
[0034]需要说明的是，在对支柱瓷绝缘子进行检测时，需要将该支柱瓷绝缘子的检测装置套装并锁紧于支柱瓷绝缘子上，因此，参见图1，旋转环3包括链条和用于将链条两端锁紧的锁紧机构7。在使用该支柱瓷绝缘子检测装置进行检测时，锁紧机构7需要将链条首尾两端锁紧，不进行检测时可以松开，以将该支柱瓷绝缘子的检测装置从支柱瓷绝缘子上取下。
[0035]一实施例中，参见图1及图2，传动机构具有一主动轮8及多个被动轮9，主动轮8在电机1的驱动下通过传送带10带动多个被动轮9转动，以驱动旋转环3沿支柱瓷绝缘子周向旋转。也就是说，被动轮9可以在被检测的支柱瓷绝缘子表面形成滚动摩擦力，该滚动摩擦力可以使旋转环3沿支柱瓷绝缘子周向旋转。
[0036]一实施例中，爬波探头4可以通过一设置于旋转环3上的探头安装框架固定于旋转环3上。爬波探头4包括一超声波振动晶片，该超声波振动晶片可以发射爬波以检测支柱瓷绝缘子的表面缺陷。
[0037]一实施例中，相控阵探头5可以通过一设置于旋转环3上的探头安装框架固定于旋转环3上。相控阵探头5包括一超声波振动晶片，该超声波振动晶片可以发射超声波以检测支柱瓷绝缘子的内部缺陷，超声波覆盖一扇形区域。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种支柱瓷绝缘子的检测装置，其特征在于，包括：旋转机构，所述旋转机构包括电机、传动机构和旋转环，当所述旋转环套装于支柱瓷绝缘子上时，所述电机通过所述传动机构驱动所述的旋转环沿所述的支柱绝缘子周向旋转；爬波探头，安装于所述的旋转环上，用于旋转检测所述支柱瓷绝缘子的表面缺陷；相控阵探头，安装于所述的旋转环上，用于旋转检测所述支柱瓷绝缘子的内部缺陷；定位器，安装于所述的旋转环上，用于记录所述超声波探头的位移。2.根据权利要求1所述的支柱瓷绝缘子的检测装置，其特征在于，所述旋转环包括链条和用于将所述链条两端锁紧的锁紧机构。3.根据权利要求1所述的支柱瓷绝缘子的检测装置，其特征在于，所述传动机构具有一主动轮及多个被动轮，所述主动轮在所述电机的驱动下通过传送带带动所述多个被动轮转动，以驱动所述旋转环沿所述支柱瓷绝缘子周向旋转。4.根据权利要求1所述的支柱瓷绝缘子的...

【专利技术属性】
技术研发人员：王春水，欧阳建，侯建龙，陈锐，董彬，于奎才，刘畅，刘洋，
申请(专利权)人：国网冀北电力有限公司电力科学研究院国家电网有限公司，
类型：发明
国别省市：