【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试分选机
[0001]本专利技术涉及集成电路测试
,具体的是一种集成电路测试分选机。
技术介绍
[0002]集成电路测试分选机主要是用于对集成电路板的规格大小进行测试分选的设备,通过将大小不一的集成电路板放置在集成电路测试分选机上的传输带,再通过两边的人工手动对不同规格的集成电路板进行分选,基于上述描述本专利技术人发现,现有的一种集成电路测试分选机主要存在以下不足,例如:
[0003]由于集成电路测试分选机是通过人工对集成电路板进行分选的,但一部分大小差距较小的集成电路板则难以通过肉眼分辨出,从而导致这部分集成电路板会难以被分选出,故而使集成电路测试分选机对集成电路板的分选效果会出现下降的情况。
技术实现思路
[0004]针对上述问题,本专利技术提供一种集成电路测试分选机。
[0005]为了实现上述目的,本专利技术是通过如下的技术方案来实现:一种集成电路测试分选机,其结构包括传输机构、固定台、支撑架,所述固定台安装于传输机构的上端位置,所述传输机构焊接于支撑架的内侧位置;所 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试分选机,其结构包括传输机构(1)、固定台(2)、支撑架(3),所述固定台(2)安装于传输机构(1)的上端位置,其特征在于:所述传输机构(1)焊接于支撑架(3)的内侧位置;所述传输机构(1)包括边接板(11)、外扩板(12)、传输带(13)、调节螺栓(14),所述边接板(11)固定于传输带(13)的上端位置,所述外扩板(12)与边接板(11)的内部滑动配合,所述调节螺栓(14)与边接板(11)的内部螺纹连接。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试分选机,其特征在于:所述调节螺栓(14)包括旋钮(a1)、螺旋杆(a2)、抓力块(a3),所述旋钮(a1)的底部与螺旋杆(a2)的上端相焊接,所述抓力块(a3)固定于螺旋杆(a2)的底部位置。3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试分选机,其特征在于:所述外扩板(12)包括板面(b1)、活动块(b2)、引导面(b3),所述活动块(b2)与板面(b1)的内侧活动卡合,所述引导面(b3)的右侧与板面(b1)的左侧相贴合。4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试分选机,其特征在于:所述活动块(b2)包括中心块(b21)、衔接杆(b22)、弹性环(b23)、变形环(b24),所述中心块(b21)固定于变形环(b24)的中心位...
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