低频和高频同时检测电磁干扰的测试系统技术方案

本发明专利技术公开了低频和高频同时检测电磁干扰的测试系统，涉及电磁干扰测试技术领域，本发明专利技术通过对低频天线和高频天线与受测设备之间的距离进行调节，并对调节前的距离和调节后的距离进行检测，同时采集低频天线检测到的调节前后的低频干扰信号频率峰值，得出低频信号与高频信号之间的互扰距离。与高频信号之间的互扰距离。与高频信号之间的互扰距离。

【技术实现步骤摘要】
低频和高频同时检测电磁干扰的测试系统


[0001]本专利技术涉及电磁干扰测试
，具体涉及低频和高频同时检测电磁干扰的测试系统。

技术介绍

[0002]随着计算机、程控仪器、数字信号处理的发展，电磁兼容自动测试技术得到显著的发展，使电磁兼容测试工作的效率和精度都得到很大的提高。但由于仪器厂家众多，电磁兼容测试项目繁杂，得到的测试数据通常需要进一步的处理才能符合实际测试项目的需求。因此对具体测试项目开发相关的自动测试软件，以及对测试数据进一步的分析和处理并将其加入自动测试软件中成为现阶段电磁兼容测试工作的重要方向；现有技术在检测干扰信号时通常对设备发出的高频干扰信号与低频干扰信号进行同时检测，而在同时检测时，由于高频信号强度高，在高频干扰信号的采集设备与低频干扰信号的采集设备相距过近时，受测设备发出的高频干扰信号会影响到低频干扰信号的接收，若不能得出低频信号采集设备与高频信号采集设备之间产生互扰的临界值，则检测过程中受测设备的低频干扰信号检测精度易受到影响。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，一方面提供低频和高频同时检测电磁干扰的测试系统，包括暗室和设置在暗室内的受测设备和检测系统，对受测设备上电，检测系统对受测设备发出的高频干扰信号和低频干扰信号进行检测，检测系统包括低频模块、高频模块、频率互扰计算模块，所述低频模块包括低频天线、第一滤波器组、第一控制器、第一测距模块、低频执行模块，所述高频模块包括高频天线，第二滤波器组，第二控制器、第二测距模块、高频执行模块，所述低频天线、第一滤波器组、第一控制器依次连接，所述高频天线，第二滤波器组，第二控制器依次连接，所述第一测距模块用于检测低频天线的接收端与所述受测设备之间的距离，所述第二测距模块用于检测高频天线的接收端与所述受测设备之间的距离；所述低频执行模块与所述第一控制器连接，所述低频执行模块用于调节低频天线与受测设备之间的距离，所述高频执行模块与所述第二控制器连接，所述高频执行模块用于调节高频天线与受测设备之间的距离，所述频率互扰计算模块用于计算低频天线与高频天线之间的互扰距离，所述互扰距离为低频天线与高频天线之间产生互扰的临界距离。
[0004]优选的，还包括低频测试系统和高频测试系统，所述低频测试系统包括低频射频切换开关、低频预放，所述低频天线、低频射频切换开关、低频预放、第一滤波器组依次连接，所述高频测试系统包括高频射频切换开关、高频预放，所述高频天线、高频射频切换开关、高频预放、第二滤波器组依次连接。
[0005]优选的，还包括有第一显示模块、第二显示模块，所述第一显示模块与所述第一控制器连接，所述第二显示模块与所述第二控制器连接。
[0006]优选的，还包括有供电模块、滤噪模块，所述供电模块与所述滤噪模块连接，所述滤噪模块与所述第一控制器、第二控制器连接，所述滤噪模块包括有信号放大器、有源滤波器，所述信号放大器与所述有源滤波器耦合，所述信号放大器与所述供电模块连接，所述有源滤波器与所述第一控制器、第二控制器连接。
[0007]优选的，所述暗室还包括有支撑台，所述受测设备放置在所述支撑台上，所述支撑台台面的垂直高度与高频天线的接收端、低频天线的接收端的垂直高度持平。
[0008]另一方面提供低频和高频同时检测电磁干扰的测试方法，包括以下内容：S1：将受测设备放置于支撑台上，在第一显示模块上查看低频干扰信号的频率峰值，在第二显示模块上查看高频干扰信号的频率峰值；S2：控制低频执行模块进行移动，判断第一显示模块中频率峰值是否发生变化，若是，则进入步骤S4，若否，则进入步骤S3；S3：说明高频天线未对低频天线产生信号干扰，读取第一显示模块上的频率数据，作为该受测设备的低频干扰值，读取第二显示模块上的频率数据，作为该受测设备的高频干扰值；S4：说明高频天线对低频天线产生了信号干扰，读取移动后第一测距模块、第二测距模块之间的距离，通过频率互扰模块计算出高频天线和低频天线之间的互扰距离。
[0009]优选的，所述步骤S4中互扰距离的计算公式如下：式中，为受测设备的高频干扰信号和低频干扰信号的互扰距离，为低频天线的接收端与受测设备的距离，为高频天线的接收端与受测设备的距离，为低频执行模块移动前第一显示模块上的频率峰值，为低频执行模移动后第一显示模块上的频率峰值，为受测设备的测试电压，为受测设备处于测试电压时的电流值，为测试过程中暗箱中的波阻抗。
[0010]本专利技术的有益效果是：本专利技术通过调节低频天线和高频天线与受测设备之间的距离，并对调节前的距离和调节后的距离进行检测，同时采集低频天线检测到的调节前后的低频干扰信号频率峰值，得出低频信号与高频信号之间的互扰距离。
附图说明
[0011]图1显示为低频和高频同时检测电磁干扰的测试方法的流程图；图2显示为低频和高频同时检测电磁干扰的测试系统的天线通道单元的能量幅值图。
具体实施方式
[0012]下面结合本专利技术的附图1
‑
2，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术
中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施。
[0013]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“逆时针”、“顺时针”“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0014]低频和高频同时检测电磁干扰的测试系统，包括暗室和设置在暗室内的受测设备和检测系统，对受测设备上电，检测系统对受测设备发出的高频干扰信号和低频干扰信号进行检测，检测系统包括低频模块、高频模块、频率互扰计算模块，所述低频模块包括低频天线、第一滤波器组、第一控制器、第一测距模块、低频执行模块，所述高频模块包括高频天线，第二滤波器组，第二控制器、第二测距模块、高频执行模块，所述低频天线、第一滤波器组、第一控制器依次连接，所述高频天线，第二滤波器组，第二控制器依次连接，所述第一测距模块用于检测低频天线的接收端与所述受测设备之间的距离，所述第二测距模块用于检测高频天线的接收端与所述受测设备之间的距离；所述低频执行模块与所述第一控制器连接，所述低频执行模块用于调节低频天线与受测设备之间的距离，所述高频执行模块与所述第二控制器连接，所述高频执行模块用于调节高频天线与受测设备之间的距离，所述频率互扰计算模块用于计算低频天线与高频天线之间的互扰距离，所述互扰距离为低频天线与高频天线之间产生互扰的临界距离。
[0015]低频模块与高频模块同时上电，在高频天线和低频天线使用前，需要使用矢量网格分析仪对每个天线辐射单元进行原始误差的测试，进行高频天线和低频天线的校准，在校准完成后，根据天线的各个辐射单元进行幅本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.低频和高频同时检测电磁干扰的测试系统，包括暗室和设置在暗室内的受测设备和检测系统，对受测设备上电，检测系统对受测设备发出的高频干扰信号和低频干扰信号进行检测，其特征在于，检测系统包括低频模块、高频模块、频率互扰计算模块，所述低频模块包括低频天线、第一滤波器组、第一控制器、第一测距模块、低频执行模块，所述高频模块包括高频天线，第二滤波器组，第二控制器、第二测距模块、高频执行模块，所述低频天线、第一滤波器组、第一控制器依次连接，所述高频天线，第二滤波器组，第二控制器依次连接，所述第一测距模块用于检测低频天线的接收端与所述受测设备之间的距离，所述第二测距模块用于检测高频天线的接收端与所述受测设备之间的距离；所述低频执行模块与所述第一控制器连接，所述低频执行模块用于调节低频天线与受测设备之间的距离，所述高频执行模块与所述第二控制器连接，所述高频执行模块用于调节高频天线与受测设备之间的距离，所述频率互扰计算模块用于计算低频天线与高频天线之间的互扰距离，所述互扰距离为低频天线与高频天线之间产生互扰的临界距离。2.根据权利要求1所述的低频和高频同时检测电磁干扰的测试系统，其特征在于，还包括低频测试系统和高频测试系统，所述低频测试系统包括低频射频切换开关、低频预放，所述低频天线、低频射频切换开关、低频预放、第一滤波器组依次连接，所述高频测试系统包括高频射频切换开关、高频预放，所述高频天线、高频射频切换开关、高频预放、第二滤波器组依次连接。3.根据权利要求2所述的低频和高频同时检测电磁干扰的测试系统，其特征在于，还包括有第一显示模块、第二显示模块，所述第一显示模块与所述第一控制器连接，所述第二显示模块与所述第二控制器连接。4.根据权利要求3所述的低频和高频同时检测电磁干扰的测试系统，其特征在于，还包括有供电模块、滤噪模块，所述供电模块与所述滤噪模块连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈永明，陈国胜，王昆，
申请(专利权)人：宜宾盛纬伦科技有限公司，
类型：发明
国别省市：