具有憎水覆层的气相质谱仪样品支架制造技术

本发明专利技术提供质谱仪用的样品支架，它包括具有一表面的基底和覆盖该表面的膜。所述膜上有一些孔，用来界定显现分析物的特征部位。所述膜的表面张力比基底表面低，它的水接触角为１２０－１８０°。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
相关申请的参照文献本专利申请要求1999年4月29日提交的临时专利申请U.S.S.N60/131652的优先权，其内容全文参考结合于此。有关联邦资助的研究和开发，不能申请专利权。
技术介绍
本专利技术涉及质谱的领域，更具体地涉及具有憎水覆层的样品试棒，该覆层能改善液体样品对试棒特征部位的结合作用。现代的激光解吸/电离质谱(“LDI-MS”)实用时能有两种主要方式基底辅助的激光解吸/电离(“MALDI”)质谱和表面增强的激光解吸/电离(“SELDI”)。在MALDI中，可含有生物分子的分析物与含基底的溶液混合，一滴该液体放到试棒表面上。基底溶液与生物分子于是共结晶。将试棒插入质谱仪中。令激光能量投射到试棒表面上，使生物分子解吸并电离，但不会明显地使其碎裂。但是，MALDI作为分析工具具有局限性，它不会使样品分级，尤其对于低分子量分析物，基底材料会干扰检测。见例如美国专利№5118937(Hillenkamp等人)和5045694(Beavis & Chait)。在SELDI中，试棒表面作了改进，使它在解吸过程中作为一个主动参与物。在一种方法中，试棒表面上衍生有能选择性地与分析本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种试棒，它能够可抽出地插入气相离子探测器中，该试棒包括：ａ）具有适于将分析物呈现给电离源的表面的基底，ｂ）一层覆盖所述表面的膜，所述的膜：ｉ）具有至少一个将基底表面露出的孔，该孔界定着施加含分析物的液体的特征部位，ｉｉ）具有１２０°－１８０°的水接触角，ｉｉｉ）表面张力比基底表面的小，因此，施加到特征部位上的液体可结合在特征部位内。

【技术特征摘要】
US 2000-4-27 09/561,604;US 1999-4-29 60/131,6531.一种试棒，它能够可抽出地插入气相离子探测器中，该试棒包括a)具有适于将分析物呈现给电离源的表面的基底，b)一层覆盖所述表面的膜，所述的膜i)具有至少一个将基底表面露出的孔，该孔界定着施加含分析物的液体的特征部位，ii)具有120°-180°的水接触角，iii)表面张力比基底表面的小，因此，施加到特征部位上的液体可结合在特征部位内。2.如权利要求1所述的试棒，其中所述的膜包括全氟烃、卤代烃、脂族烃、芳族烃、聚硅烷、有机硅烷或它们的组合。3.如权利要求1所述的试棒，其中所述的膜包括全氟烃。4.如权利要求1所述的试棒，其中所述的膜有许多个规则排列的孔。5.如权利要求1所述的试棒，其中所述的膜能导...

【专利技术属性】
技术研发人员：J比彻，F朔伊费伦，K沃沃多夫，S温伯格，WC兰格拉夫，
申请(专利权)人：赛弗根生物系统股份有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]