【技术实现步骤摘要】
发光元件及其制造方法
[0001]本专利技术涉及发光元件及其制造方法。
技术介绍
[0002]以往,已知有在发光二极管(LED)的隧道结中使用简并掺杂的氮化镓层的技术(例如,参照专利文献1)。认为上述的“简并掺杂的”是指通过将掺杂剂以高浓度掺杂从而使费米能级与导带重叠(简并)。费米能级与导带简并的半导体通常表现得像金属那样,电阻降低。
[0003]另外,以往,已知有在连接p侧的电极的接触层的材料中使用p型的GaN的发光元件(参照专利文献2)。根据专利文献1,在连接p侧的电极的接触层中可以使用p型GaN层或者p型AlGaN层,但为了提高与电极p侧的电极的接触性,优选使用p型GaN层。
[0004]另外,以往,已知有利用隧道结的发光元件(参照专利文献3)。在专利文献1所记载的发光元件中,使发光层上的p型GaN层与n型InGaN层形成隧道结,将n型InGaN层作为p侧的接触层而连接p侧电极。因此,p侧的接触层和n侧的接触层这两者可以使用n型半导体,由此可以由相同的材料形成n侧的电极和p侧的电极。
[0005
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种发光元件,具备:费米能级与导带简并的、由AlGaN构成的n型接触层,和层叠于所述n型接触层的、由AlGaN构成的发光层;所述n型接触层的Al成分比所述发光层的Al成分大10%以上且为70%以下,所述n型接触层以发生所述简并的浓度且为4.0
×
10
19
cm
‑3以下的浓度含有Si。2.根据权利要求1所述的发光元件,其中,所述n型接触层的Al成分为50%以上。3.根据权利要求1或2所述的发光元件,其中,所述n型接触层中含有的Si的浓度为1.6
×
10
18
cm
‑3以上。4.根据权利要求1~3中任一项所述的发光元件,其中,所述n型接触层的电阻率为5
×
10
‑2Ω
·
cm以下。5.一种发光元件的制造方法,包括下述工序:通过气相沉积法形成费米能级与导带简并的由AlGaN构成的n型接触层的工序,和在所述n型接触层上形成由AlGaN构成的发光层的工序;所述n型接触层的Al成分比发光层的Al成分大10%以上且为70%以下,所述n型接触层以发生所述简并的浓度且为4.0
×
10
19
cm
‑3以下的浓度含有Si,形成所述n型接触层的工序中的所述n型接触层的原料气体的V/III比在1000~3200的范围内。6.根据权利要求5所述的发光元件的制造方法,其中,形成所述n型接触层的工序中的所述n型接触层的生长温度为1150℃以下。7.一种发光元件,具备:由n型的AlGaN构成的n型接触层,所述n型接触层上的发出深紫外光的发光层,所述发光层上的由含有二维空穴气的AlGaN构成的电流扩散层,与所述电流扩散层的上表面的一部分连接的、由p型的GaN或Al成分为35%以下的p型的AlGaN构成的p型接触层,与所述n型接触层连接的n电极,...
【专利技术属性】
技术研发人员:永田贤吾,斋藤义树,片冈惠太,成田哲生,近藤嘉代,
申请(专利权)人:丰田合成株式会社,
类型:发明
国别省市:
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