一种获取倾斜框架有损变形的方法技术

本发明专利技术公开了一种获取倾斜框架有损变形的方法，本方法分别计算出有损层间变形S

【技术实现步骤摘要】
一种获取倾斜框架有损变形的方法


[0001]本专利技术涉及一种获取倾斜框架有损变形的方法，属于倾斜框架分析领域。

技术介绍

[0002]在建筑结构中，采用框架柱相对建筑高度方向倾斜的倾斜框架，不仅能达到结构形式与建筑美学的融合，而且可以避免出现复杂的水平转换结构。因此针对倾斜框架的结构性能评估具有重要的现实价值。
[0003]针对传统的垂直框架，仅需要通过水平位移计测量各层间水平位移，即可对垂直框架提供较为准确的结构性能评估结果。但是针对倾斜框架，同样采用水平位移计测量各层间水平位移评估结构性能，评估结果往往准确性却很低。这就需要一种全新的参数，以替代或者辅助各层间水平位移数据，对倾斜框架结构性能进行准确评估。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题在于克服现有技术的不足而提供一种获取倾斜框架有损变形的方法。
[0005]解决上述技术问题，本专利技术采用如下技术方案：
[0006]一种获取倾斜框架有损变形的方法，包括如下步骤：
[0007]步骤S1：获取第n层倾斜框架的横梁侧向位移本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种获取倾斜框架有损变形的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1：获取第n层倾斜框架的横梁侧向位移D
n
、框架柱倾角α
n
和框架层高h
n
；步骤S2：第n
‑
1层倾斜框架的横梁侧向位移D
n
‑1和横梁转角R
n
‑1结合步骤S1中获得的数据，计算出第n层倾斜框架的无损层间变形Z
n
，进而计算出第n层倾斜框架两侧的框架柱转角γ
1n
和γ
2n
；步骤S3：γ
1n
和γ
2n
结合步骤S1中获得的数据，分别计算出第n层倾斜框架的横梁两端竖向位移ν
1n
和ν
2n
；步骤S4:获取第n层倾斜框架的横梁长度L
n
，ν
1n
和ν
2n
结合L
n
，计算出第n层倾斜框架因层间受力引起的横梁转角R
n
'；步骤S5：R
n
‑1结合R
n
'以计算出第n层倾...

【专利技术属性】
技术研发人员：张超，傅光辉，赖志超，陈文广，
申请(专利权)人：福州大学，
类型：发明
国别省市：