一种超低温恒温测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种超低温恒温测试装置，包括设有测试台的机体，所述机体内部设有半导体制冷机构，所述半导体制冷机构包括半导体制冷片及装设于半导体制冷片热端的散热组件；所述半导体制冷片的冷端抵接于所述测试台。本实用新型专利技术通过半导体制冷片进行制冷，使得测试台保持超低温恒温状态，便于测试者将测试物品放置于测试台后对测试物品在超低温情况下各项性能进行测试，简单便捷；本实用新型专利技术体积较小，便于携带、使用和存放；此外，采用半导体制冷片能够保持测试台精确的恒温，便于创造测试环境。造测试环境。造测试环境。

【技术实现步骤摘要】
一种超低温恒温测试装置


[0001]本技术涉及恒温测试台
，尤其涉及一种超低温恒温测试装置。

技术介绍

[0002]现有的一些材料在生产完成后，对需要对材料本身在超低温的情况下的性能进行测试，例如硬度、韧性等，但现有的测试装置都比较大，在使用时存在不便，不利于使用。

技术实现思路

[0003]本技术为解决现有超低温测试装置使用不便的技术问题，提供了一种超低温恒温测试装置。
[0004]本技术提供了一种超低温恒温测试装置，包括设有测试台的机体，所述机体内部设有半导体制冷机构，所述半导体制冷机构包括半导体制冷片及装设于半导体制冷片热端的散热组件；所述半导体制冷片的冷端抵接于所述测试台。
[0005]进一步地，所述机体还设有控制面板及与控制面板连接的控制机构，所述半导体制冷机构与所述控制机构连接。
[0006]进一步地，所述超低温恒温测试装置还设有罩盖于测试台上的保温盖体。
[0007]进一步地，所述机体内部还设有固定板，所述固定板上设有用于固定装设于所述半导体制冷片的固定孔。r/>[0008]进本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种超低温恒温测试装置，其特征在于，包括设有测试台的机体，所述机体内部设有半导体制冷机构，所述半导体制冷机构包括半导体制冷片及装设于半导体制冷片热端的散热组件；所述半导体制冷片的冷端抵接于所述测试台。2.如权利要求1所述的超低温恒温测试装置，其特征在于，所述机体还设有控制面板及与控制面板连接的控制机构，所述半导体制冷机构与所述控制机构连接。3.如权利要求1所述的超低温恒温测试装置，其特征在于，所述超低温恒温测试装置还设有罩盖于测试台上的保温盖体。4.如权利要求1所述的超低温恒温测试装置，其特征在于，所述机体内部...

【专利技术属性】
技术研发人员：尹康，梁浩，熊茂林，于超，
申请(专利权)人：深圳市华晶温控技术有限公司，
类型：新型
国别省市：