满足增益平坦度标准的空中测量制造技术

一种用于测量混响室(110)中的至少一个DUT(120)在频带上的性能的方法，该方法包括迭代地执行以下操作：由混响室(110)生成衰落场景；识别频带中包含的至少一个测量子带，其中，至少一个测量子带符合增益平坦度标准；测量至少一个DUT(120)在至少一个识别的测量子带中的性能，由此生成至少一个性能测量结果；对至少一个性能测量结果进行累积，以及确定测量覆盖，并且在测量覆盖满足覆盖标准的情况下终止性能测量。性能测量。性能测量。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】满足增益平坦度标准的空中测量


[0001]本公开内容总体涉及用于天线布置和无线装置的测试设备。还公开了用于测量天线系统的性能和用于测试无线装置的系统和方法。

技术介绍

[0002]混响室(RC)，也称为电磁混响室(ERC)或模式搅拌室(MSC)，已经成为用于测量各种无线装置的空中(OTA)性能的有效工具。RC主要用于评估射频反射环境中(即，当被测装置(DUT)经受多径传播时)的天线系统性能。
[0003]在RC中，信号由封闭室或封闭腔中的测试天线布置注入或拾取，该封闭室或封闭腔包括向内的射频反射壁。注入的信号经过许多不同的轨迹多次反射后到达DUT。这在接收器处产生射频信号衰落状态。通过移动其上布置有DUT的模式搅拌板和/或转盘，室的几何结构改变，这又改变DUT经历的衰落状态。因此，可以有效地生成丰富的各向同性多径(RIMP)环境，其中可以以有效的方式测试具有不同入射波成分的大量衰落状态。
[0004]然而，RIMP环境影响通常在更消声的环境中进行的如误差向量幅度(EVM)的测量的某些类型的测量的结果。因此，通常使用传导测量(co本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于测量混响室(110)中的至少一个被测装置DUT(120)在频带(235)上的性能的方法，所述方法包括迭代地执行以下操作：由所述混响室(110)生成(S1)衰落场景；识别(S2)所述频带(235)中包含的至少一个测量子带(230)，其中，所述至少一个测量子带符合增益平坦度标准；测量(S3)所述至少一个DUT(120)在至少一个识别的测量子带中的性能，由此生成至少一个性能测量结果；对所述至少一个性能测量结果进行累积(S4)，以及确定(S5)测量覆盖，并且在所述测量覆盖满足覆盖标准的情况下终止所述性能测量。2.根据权利要求1所述的方法，其中，生成衰落场景包括以下中的任一项：选择(S11)所述混响室(110)的加载；配置模式搅拌器(140、150)或位移机构(160)的几何结构或从所述混响室(110)内部的一组测试天线中选择测试天线，以及选择所述混响室(110)的相干带宽。3.根据任一前述权利要求所述的方法，其中，所述增益平坦度标准包括跨所述测量子带的增益差的测量(S21)。4.根据任一前述权利要求所述的方法，其中，能够在每次迭代中识别多个测量子带(S22)。5.根据任一前述权利要求所述的方法，其中，仅当所述测量子带跨越最小数目的资源块(S23)和/或跨越最小频率范围(S24)时才识别测量子带。6.根据任一前述权利要求所述的方法，其中，测量的性能包括误差向量幅度EVM测量(S31)。7.根据任一前述权利要求所述的方法，其中，测量的性能包括包误差率(PER)测量(S32)。8.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：佩德，
申请(专利权)人：耶福乐测试技术有限公司，
类型：发明
国别省市：