灯具老化测试设备制造技术

本实用新型专利技术提供了灯具老化测试设备，包括设备主体，设备主体的一侧设置有主控电源，设备主体上设置有多个放置平台，每个放置平台上均设置有电源插座，每个电源插座均与主控电源电连接，设备主体的顶部设置有与轨道连接的连接结构。本实用新型专利技术通过连接结构可与实验室上方的轨道连接，充分利用实验室上方的空间，使一次测试的产品数量大大提升。一次测试的产品数量大大提升。一次测试的产品数量大大提升。

【技术实现步骤摘要】
灯具老化测试设备


[0001]本技术涉及灯具测试领域，尤其是灯具老化测试设备。

技术介绍

[0002]灯具老化测试是指特定的条件下通过实验测定灯具老化寿命的过程，所有灯具的新品在推出市场前都需要进行老化测试。现有的老化测试是在实验室的地面放置测试设备，但是实验室的上方的空间没有充分利用，导致一次测试的产品数量少。

技术实现思路

[0003]本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。本技术提供了灯具老化测试设备，可以充分利用实验室上方的空间，一次测试更多的产品。
[0004]根据本技术的一些实施例，本技术提供了灯具老化测试设备，包括设备主体，所述设备主体的一侧设置有主控电源，所述设备主体上设置有多个放置平台，每个所述放置平台上均设置有电源插座，每个所述电源插座均与主控电源电连接，所述设备主体的顶部设置有与轨道连接的连接结构。
[0005]根据本技术的一些实施例，所述电源插座上设置有多组插孔和多个开关，一组所述开关对应控制一个所述插孔是否通电。
[0006]根据本技术的一些实施例，所述设备主体上设置有挡光板本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.灯具老化测试设备，其特征在于：包括设备主体(100)，所述设备主体(100)的一侧设置有主控电源(200)，所述设备主体(100)上设置有多个放置平台(300)，每个所述放置平台(300)上均设置有电源插座(400)，每个所述电源插座(400)均与主控电源(200)电连接，所述设备主体(100)的顶部设置有与轨道连接的连接结构(500)。2.根据权利要求1所述的灯具老化测试设备，其特征在于：连接结构(500)包括连接座(510)及用于连接所述设备主体(100)和连接座(510)的连接杆(520)，所述连接座(510)设置有连接孔(511)。3.根据权利要求1所述的灯具老化测试设备，其特征在于：所述电源插座(400)上设置有多组插孔(410)和多个开关(...

【专利技术属性】
技术研发人员：张玉飞，任中杰，
申请(专利权)人：中山市品诚光电实业有限公司，
类型：新型
国别省市：