【技术实现步骤摘要】
一种灯具测试设备
[0001]本技术涉及灯具测试设备
,具体为一种灯具测试设备。
技术介绍
[0002]LED,又称发光二极管,它是利用固体半导体芯片作为发光材料,当两端加上正向电压,半导体中的载流子发生复合,放出过剩的光强而引起光子发射产生可见光,具有高亮度、长寿命、高效节能等显著优点,如果LED器件和灯具的热系统和散热结构设计不完善,从PN结到LED外部环境(及空气)的热阻大,导致PN结结温过高,LED芯片将快速劣化、器件寿命缩短,一般LED灯具在出厂前会抽样进行老化测试。
[0003]现有的LED灯具老化测试设备不具备温度调节功能,或LED灯具受热不均匀,导致测试结果不准确。
[0004]针对上述缺点,中国已授权技术公开号:CN211741521 U中公开了一种全自动LED灯具老化测试设备,该全自动LED灯具老化测试设备,通过在装置中设置了温度传感器和加热丝,来解决上述缺点;
[0005]但是上述现有技术的结构设计,不便于移动,在移动过程中没有减震功能,容易造成装置的使用寿命较短,而且在对 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种灯具测试设备,包括支撑板(1),其特征在于,所述支撑板(1)的顶部开设有四个限位孔(2),所述限位孔(2)的内表面活动连接有限位杆(3),所述限位杆(3)的底端固定有固定块(4),所述固定块(4)的底部固定有减震弹簧(5),所述固定块(4)的底部通过销轴活动连接有移动轮(6),所述支撑板(1)的顶部固定有测试箱(7);所述测试箱(7)的两侧内壁下部均开设有滑槽(9),所述滑槽(9)的内顶壁固定有连接杆(10),所述连接杆(10)的外表面活动连接有滑块(11),所述滑块(11)的底部固定有缓冲弹簧(12),所述滑块(11)的右侧固定有活动板(13);所述活动板(13)的顶部活动连接有四个老化架(14),所述老化架(14)的前端设置有多个灯具本体(15),所述老化架(14)的中部固定有温度感应器(16),所述测试箱(7)的右侧固定有主控器(17),所述测试箱(7)的右侧固定有显示屏(18)。2.根据权利要求1所述的一种灯具测试设备,其特征在于,所述活动板(13...
【专利技术属性】
技术研发人员:段井贺,
申请(专利权)人:北京通达交安科技发展中心,
类型:新型
国别省市:
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