本实用新型专利技术公开了一种带灯珠基板的测试治具，包括一测试平台、设置于测试平台上的一基板载具、及设置于基板载具上方的一测试机构，在该基板载具上形成有一基板卡槽，在该基板卡槽上形成有至少一灯珠让位槽。本实用新型专利技术提供的带灯珠基板的测试治具，可对带灯珠基板进行有效定位，防止带灯珠基板移位，从而利于对准测试点进行测试，提高测试精度；同时，可防止灯珠被刮花，从而保证带灯珠基板的质量。而且，测试方便快捷，耗时短，效率高。效率高。效率高。
【技术实现步骤摘要】
一种带灯珠基板的测试治具
[0001]本技术涉及一种测试治具，尤其涉及一种带灯珠基板的测试治具。
技术介绍
[0002]在带灯珠基板生产加工完成后，需要对基板上灯珠的通电性能进行测试，以防存在短路、断路现象。现有的测试方法是，人工直接采用电笔进行测试。这种方式存在测试效率低的问题，特别是当基板上有很多个灯珠时，测试起来就比较麻烦，耗时长，效率低。
[0003]同时，在测试的过程中，基板易移动，不利于电笔接触测试点，对测试带来很大的不便，且影响测试精度。
技术实现思路
[0004]针对上述不足，本技术的目的在于提供一种带灯珠基板的测试治具，可对带灯珠基板进行有效定位，防止带灯珠基板移位，从而利于对准测试点进行测试，提高测试精度；同时，可防止灯珠被刮花，从而保证带灯珠基板的质量。而且，测试方便快捷，耗时短，效率高。
[0005]本技术为达到上述目的所采用的技术方案是：
[0006]一种带灯珠基板的测试治具，包括一测试平台、设置于测试平台上的一基板载具、及设置于基板载具上方的一测试机构，其特征在于，在该基板载具上形成有一基板卡槽，在该基板卡槽上形成有至少一灯珠让位槽。
[0007]作为本技术的进一步改进，在所述基板载具上且位于基板卡槽相对的两侧边分别形成有一抓取让位槽。
[0008]作为本技术的进一步改进，在所述测试平台上设置有一定位组件，该定位组件包括相对设置于测试平台上的两根定位条块、及设置于测试平台上且位于两根定位条块一端之间的一定位挡块，在该定位条块与定位挡块上分别形成有至少一条形安装孔，该定位条块与定位挡块通过至少一螺钉与条形安装孔相配合安装于测试平台上。
[0009]作为本技术的进一步改进，所述测试机构包括架设于测试平台上的一安装支架、设置于安装支架上的一升降操作组件、及设置于基板载具上方且连接于升降操作组件的一测试针板。
[0010]作为本技术的进一步改进，所述升降操作组件包括固定设置于安装支架上的一连接件、活动贯穿连接件下部的一升降杆、转动连接于连接件上部的一转动手柄、及转动连接于转动手柄且连接于升降杆上部的一连接耳结构，其中，该升降杆下部连接于测试针板。
[0011]作为本技术的进一步改进，在所述连接件下部形成有供升降杆活动贯穿的一套筒。
[0012]作为本技术的进一步改进，所述连接耳结构主要由相对设置的两块连接耳组成，该连接耳上端与转动手柄侧边转动连接，下端与升降杆侧边连接。
[0013]作为本技术的进一步改进，所述连接耳与转动手柄之间、连接耳与升降杆之间、及转动手柄与连接件之间分别通过一销钉连接。
[0014]作为本技术的进一步改进，在所述安装支架与测试平台之间设置有至少两根升降定位导柱，在该测试针板上设置有活动套设于升降定位导柱外围的至少两个升降定位导套。
[0015]作为本技术的进一步改进，在所述测试针板上设置有贯穿至测试针板下端且朝向基板载具的数根测试针，该数根测试针通过导线与电源正负极连接。
[0016]本技术的有益效果为：
[0017](1)通过基板载具上基板卡槽与灯珠让位槽的特殊结构设计，实现对带灯珠基板进行有效定位，防止带灯珠基板移位，从而利于对准测试点进行测试，提高测试精度；同时，由灯珠让位槽为灯珠让位，防止灯珠被刮花，从而保证带灯珠基板的质量。
[0018](2)由测试平台上定位组件的设置，具体由两根定位条块与定位挡块相结合，对基板载具进行三边定位，防止基板载具出现移位现象，利于测试机构能够对准基板载具上的带灯珠基板上的测试点进行测试，提高测试精度。
[0019](3)采用带数根测试针的测试针板对带灯珠基板上的数个灯珠进行测试，同一时间可对多个灯珠进行测试，测试方便快捷，耗时短，效率高。
[0020]上述是技术技术方案的概述，以下结合附图与具体实施方式，对本技术做进一步说明。
附图说明
[0021]图1为本技术的整体结构示意图；
[0022]图2为本技术中基板载具与测试平台结合的结构示意图。
具体实施方式
[0023]为更进一步阐述本技术为达到预定目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对本技术的具体实施方式详细说明。
[0024]请参照图1与图2，本技术实施例提供一种带灯珠基板的测试治具，包括一测试平台1、设置于测试平台1上的一基板载具2、及设置于基板载具2上方的一测试机构3，在该基板载具2上形成有一基板卡槽21，在该基板卡槽21上形成有至少一灯珠让位槽22。基板载具2用于承载带灯珠基板，在测试时，将带灯珠基板卡到基板载具2的基板卡槽21上，防止带灯珠基板移位，实现对带灯珠基板进行有效定位，从而利于对准测试点进行测试，提高测试精度；同时，带灯珠基板上的灯珠与灯珠让位槽22对应，由灯珠让位槽22为灯珠让位，防止灯珠被刮花，从而保证带灯珠基板的质量。
[0025]具体的，对于灯珠让位槽22的数量及位置，可以根据带灯珠基板上灯珠所在位置、及所占区域大小来设定，只要在将带灯珠基板卡到基板载具2上的基板卡槽21中之后，灯珠能够对准灯珠让位槽22，由灯珠让位槽22为灯珠让位即可。
[0026]为了便于将带灯珠基板放到基板载具2的基板卡槽21内，及便于将带灯珠基板从基板卡槽21内取出，本实施例在所述基板载具2上且位于基板卡槽21相对的两侧边分别形成有一抓取让位槽23，如图2所示。由抓取让位槽23的设置，便于直接抓取带灯珠基板放到
基板卡槽21内，也便于将带灯珠基板从基板卡槽21内取出，为操作带来很大的便利。
[0027]在本实施例中，在所述测试平台1上设置有一定位组件4，该定位组件4包括相对设置于测试平台1上的两根定位条块41、及设置于测试平台1上且位于两根定位条块41一端之间的一定位挡块42。由两根定位条块41与定位挡块42相结合，对基板载具2进行三边定位，防止基板载具2出现移位现象，利于测试机构3能够对准基板载具2上的带灯珠基板上的测试点进行测试，提高测试精度。
[0028]同时，在该定位条块41与定位挡块42上分别形成有至少一条形安装孔(410,420)，该定位条块41与定位挡块42通过至少一螺钉(411,421)与条形安装孔(410,420)相配合安装于测试平台1上。通过扭动条形安装孔410上的螺钉411，可以调整定位条块41在测试平台1上的位置，同理，通过扭动条形安装孔420上的螺钉421，可以调整定位挡块42在测试平台1上的位置，则定位条块41与定位挡块42相结合可以对不同尺寸大小的基板载具2进行定位，在需要对不同尺寸大小的带灯珠基板进行承载测试时，可以改变基板载具2的尺寸大小，从而扩大了使用范围。
[0029]在本实施例中，如图1所示，所述测试机构3包括架设于测试平台1上的一安装支架31、设置于安装支架31上的一升降操作组件32、及设置于基板载具2上方且连接于升降操作组件3本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种带灯珠基板的测试治具，包括一测试平台、设置于测试平台上的一基板载具、及设置于基板载具上方的一测试机构，其特征在于，在该基板载具上形成有一基板卡槽，在该基板卡槽上形成有至少一灯珠让位槽。2.根据权利要求1所述的带灯珠基板的测试治具，其特征在于，在所述基板载具上且位于基板卡槽相对的两侧边分别形成有一抓取让位槽。3.根据权利要求1所述的带灯珠基板的测试治具，其特征在于，在所述测试平台上设置有一定位组件，该定位组件包括相对设置于测试平台上的两根定位条块、及设置于测试平台上且位于两根定位条块一端之间的一定位挡块，在该定位条块与定位挡块上分别形成有至少一条形安装孔，该定位条块与定位挡块通过至少一螺钉与条形安装孔相配合安装于测试平台上。4.根据权利要求1至3中任一所述的带灯珠基板的测试治具，其特征在于，所述测试机构包括架设于测试平台上的一安装支架、设置于安装支架上的一升降操作组件、及设置于基板载具上方且连接于升降操作组件的一测试针板。5.根据权利要求4所述的带灯珠基板的测试治具，其特征在于，所述升降操作组件包括固定设置于安装支架上的...
【专利技术属性】
技术研发人员：兰晶华，文海建，刘世明，蔡振，
申请(专利权)人：深圳市鑫业新光电有限公司，
类型：新型
国别省市：
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