一种磁芯材料综合性能测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种磁芯材料综合性能测试装置，包括测试设备，所述测试设备包括导体、电流感应传感器、电路放大部件和印制电路板，所述电路放大部件上设有至少一个触点，每个所述触点与待测产品连接，所述导体分别与所述触点、待测产品连接并形成回路，所述电路放大部件与所述电流感应传感器电连接，所述电流感应传感器与所述印制电路板连接并且形成控制回路；所述印制电路板与控制终端连接。本实用新型专利技术的技术方案实现了对软磁材料交流综合磁性能的直接快速测量，弥补了对磁芯材料交流参数无法同时快速测量的缺憾。无法同时快速测量的缺憾。无法同时快速测量的缺憾。

【技术实现步骤摘要】
一种磁芯材料综合性能测试装置


[0001]本技术涉及磁芯
，具体涉及一种磁芯材料综合性能测试装置。

技术介绍

[0002]磁芯常用于各种电子设备的线圈、变压器和互感器中，一般包括铁基非晶、纳米晶磁芯、金属磁粉芯及铁氧体磁芯。纳米晶软磁材料具有高的饱和磁感应强度、高磁导率、低损耗及较好的温度稳定性等特点，使其得以广泛的应用。但是运用在一些特殊的领域，如精密电表的计量上，需要用到一种低磁导、低剩磁、低矫顽力、高线性度的软磁材料，因为需要检验测试各项参数，才能保证产品的合格准确性。
[0003]但目前，同时测试以上参数相当困难，效率特别低，而且无法准确地确定每只产品的磁性能是否符合要求，并对产品热处理后各项综合磁性能测试无法准确分析，给批量生产带来很大困难。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的是提出一种磁芯材料综合性能测试装置，旨在精准、快速地同时坚持测试磁芯材料的各项参数。
[0005]本技术所要解决的上述问题通过以下技术方案以实现：
[0006]一种磁芯材料综合性能测试装置，包括测试设备，所述测试设备包括导体、电流感应传感器、电路放大部件和印制电路板，所述电路放大部件上设有至少一个触点，每个所述触点与待测产品连接，所述导体分别与所述触点、待测产品连接并形成回路，所述电路放大部件与所述电流感应传感器电连接，所述电流感应传感器与所述印制电路板连接并且形成控制回路；所述印制电路板与控制终端连接。
[0007]优选的，所述触点选用四个并且呈2*2分布，所述待测产品位于所述触点的横向方向之间，所述导体穿过所述触点的纵向方向之间和所述待测产品并且所述导体均与所述触点、待测产品接触连接。
[0008]优选的，所述电路放大部件选用差分放大器。
[0009]优选的，所述导体选用铜材料导体。
[0010]优选的，所述测试设备还包括支撑箱体，所述支撑箱体的内部设有用于安装连接印制电路板的置放空腔；所述电路放大部件连接在所述支撑箱体的上表面，所述电路放大部件通过第一电线路穿过支撑箱体与所述印制电路板连接。
[0011]优选的，所述支撑箱体上设置有至少一个第一输入接口和第二输入接口，所述第一输入接口和第二输入接口的一端均与所述印制电路板连接，所述第一输入接口和第二输入接口的另一端与所述控制终端电连接。
[0012]优选的，所述支撑箱体上还设有串口接口，所述串口接口与所述印制电路板电连接。
[0013]优选的，所述电流感应传感器位于所述支撑箱体内壁且连接在所述印制电路板
上。
[0014]优选的，还包括功率放大器和示波器，所述示波器与所述功率放大器电连接，所述功率放大器与所述串口接口电连接。
[0015]有益效果：本技术的技术方案通过将待测产品置放并与电路放大部件的触点接通，再通过导体分别与待测产品和电路放大部件接触形成磁检测回路，然后再由电路放大部件、电流感应传感器与印制电路板形成信号输送回路将测试信号输送控制终端；进而实现了对磁芯材料交流综合磁性能的直接快速测量，弥补了对磁芯材料交流参数无法同时快速测量的缺憾，保证产品性能合格，具有准确性高的优点：测试结果直接由计算机生产记录文件，无需人工记录，并且可以自动判定是否合格。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0017]图1是本技术所述的一种磁芯材料综合性能测试装置的测试设备的结构示意图。
[0018]图2是本技术所述的一种磁芯材料综合性能测试装置的测试设备的主要结构示意图。
[0019]图3是本技术所述的一种磁芯材料综合性能测试装置的测试流程图。
[0020]附图标号说明：1
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测试设备；10
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支撑箱体；101
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置放空腔；102
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支撑体；103
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密封侧体；11
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导体；12
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电路放大部件；131
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第一输入接口；132
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第二输入接口；14
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插座；15
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串口接口；16
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印制电路板；17
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电流感应传感器；2
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待测产品；3
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控制终端；4
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功率放大器；5
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示波器。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0022]需要说明，若本技术实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0023]另外，若本技术实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，若全文中出现的“和/或”或者“及/或”，其含义包括三个并列的方案，以“A和/或B”为例，包括A方案、或B方案、或A和B同时满足的方案。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结
合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本技术要求的保护范围之内。
[0024]本技术提出一种磁芯材料综合性能测试装置。
[0025]如图1所示，在本技术一实施例中磁芯材料综合性能测试装置，包括测试设备1，所述测试设备1包括导体11、电流感应传感器17、电路放大部件12和印制电路板16，所述电路放大部件12上设有至少一个触点(图中未标注)，每个所述触点与待测产品2连接，所述导体11分别与所述触点、待测产品2连接并形成回路，所述电路放大部件12与所述电流感应传感器17电连接，所述电流感应传感器17与所述印制电路板16连接并且形成控制回路；所述印制电路板1与控制终端3连接。其中，待测产品2在本实施例中选用软磁产品，具体可选纳米晶磁芯材料。
[0026]本技术的技术方案通过将待测产品置放并与电路放大部件的触点接通，再通过导体分别本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种磁芯材料综合性能测试装置，其特征在于，包括测试设备，所述测试设备包括导体、电流感应传感器、电路放大部件和印制电路板，所述电路放大部件上设有至少一个触点，每个所述触点与待测产品连接，所述导体分别与所述触点、待测产品连接并形成回路，所述电路放大部件与所述电流感应传感器电连接，所述电流感应传感器与所述印制电路板连接并且形成控制回路；所述印制电路板与控制终端连接。2.根据权利要求1所述的一种磁芯材料综合性能测试装置，其特征在于，所述触点选用四个并且呈2*2分布，所述待测产品位于所述触点的横向方向之间，所述导体穿过所述触点的纵向方向之间和所述待测产品并且所述导体均与所述触点、待测产品接触连接。3.根据权利要求1所述的一种磁芯材料综合性能测试装置，其特征在于，所述电路放大部件选用差分放大器。4.根据权利要求1所述的一种磁芯材料综合性能测试装置，其特征在于，所述导体选用铜材料导体。5.根据权利要求1所述的一种磁芯材料综合性能测试装置，其特征在于，所述测试设...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄从伟，黄小浩，周国华，毛文龙，胡曹生，
申请(专利权)人：深圳晶弘新能源科技有限公司，
类型：新型
国别省市：