CT机的校验方法、装置、电子设备及可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种CT机的校验方法、装置、电子设备及可读存储介质。该方法包括：获取扫描件的CT扫描图像，其中，扫描件包括柱状的本体以及多个识别件，多个识别件设置在本体的外壁上，且多个识别件在本体的中轴线所在的平面上的投影不重合；确定多个拟合识别件在CT扫描图像所在的图像坐标系中的第一位置，每个拟合识别件为一个识别件在CT扫描图像中的识别图像；基于多个拟合识别件的第一位置，确定第一序列，以及基于多个识别件在扫描件所在的参考坐标系中的第二位置，确定第二序列；基于第一序列以及第二序列，确定多个第一位置与多个第二位置在目标坐标系下的位置偏差，目标坐标系为图像坐标系或参考坐标系。标系为图像坐标系或参考坐标系。标系为图像坐标系或参考坐标系。

【技术实现步骤摘要】
CT机的校验方法、装置、电子设备及可读存储介质


[0001]本申请涉及CT扫描
，具体涉及一种CT机的校验方法、装置、电子设备及可读存储介质。

技术介绍

[0002]随着科技的发展，种植牙技术已经日趋成熟。在对口腔中种植牙齿时，通常需要先对牙齿进行CT扫描，即利用CBCT机对牙齿进行CT扫描，之后根据CBCT机的CT扫描图像，才能进一步确定该如何种植牙齿，因此，需要针对CBCT机CT扫描图像的精度进行评估。相关技术中，在评估CBCT机CT扫描图像的精度，通常需要使用较为复杂的模体进行测量，导致针对CBCT机CT扫描图像的精度较为复杂。因此，亟需一种结构较为简单的扫描件及基于该扫描件评估CBCT机图像精度的方法。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供了一种CT机的校验方法、装置、电子设备及可读存储介质，以解决相关技术中需要使用较为复杂的模体进行测量，导致针对CBCT机CT扫描图像的精度较为复杂的问题。
[0004]为了解决上述技术问题，本申请是这样实现的：第一方面，本申请实施例提供了一种CT机的校验方法，所述方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种CT机的校验方法，其特征在于，所述方法包括：获取扫描件的CT扫描图像，其中，所述扫描件包括柱状的本体以及多个识别件，多个所述识别件设置在所述本体的外壁上，且多个所述识别件在所述本体的中轴线所在的平面上的投影不重合；确定多个拟合识别件在所述CT扫描图像所在的图像坐标系中的第一位置，每个所述拟合识别件为一个所述识别件在所述CT扫描图像中的识别图像；基于多个所述拟合识别件的第一位置，确定第一序列，以及基于多个所述识别件在所述扫描件所在的参考坐标系中的第二位置，确定第二序列；基于所述第一序列以及所述第二序列，确定多个所述第一位置与多个所述第二位置在目标坐标系下的位置偏差，所述目标坐标系为所述图像坐标系或所述参考坐标系；若所述位置偏差小于偏差阈值，则确定所述CT机的精度满足精度要求；若所述位置偏差大于或等于偏差阈值，则确定所述CT机的精度不满足精度要求。2.根据权利要求1所述的CT机的校验方法，其特征在于，所述基于所述第一序列以及所述第二序列，确定多个所述第一位置与多个所述第二位置在目标坐标系下的位置偏差，包括：在确定所述第一序列与第二序列排序方式相同时，则基于所述第一序列以及所述第二序列，确定所述图像坐标系与所述参考坐标系之间的转换关系；基于所述第一序列、所述第二序列以及所述转换关系，确定所述位置偏差。3.根据权利要求2所述的CT机的校验方法，其特征在于，多个所述识别件包括一个第一识别件和多个第二识别件，多个所述第二识别件沿成螺旋状设置在所述本体的外壁上，所述第一识别件与相邻的所述第二识别件之间的距离为第一预设距离，相邻所述第二识别件之间的距离为第二预设距离，所述第一预设距离大于所述第二预设距离，所述第二序列D(n)中的第一个元素为所述第一识别件的第二位置；所述确定所述第一序列与所述第二序列排序方式相同，包括：确定第一序列c(n)中c1与c2之间的距离，得到第一距离；确定所述第一序列c(n)中cn与cn
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1之间的距离，得到第二距离，ci为第一序列中第i个第一位置，n为识别件数量；在所述第一距离大于所述第二距离时，确定所述第一序列与所述第二序列相同。4.根据权利要求2所述的CT机的校验方法，其特征在于，在确定所述第一序列与所述第二序列排序方式不同时，调整所述第一序列的顺序，调整后的第一序列与所述第二序列排序方式相同。5.根据权利要求2所述的CT机的校验方法，其特征在于，所述基于所述第一序列、所述第二序列以及所述转换关系，确定所述位置偏差，包括：基于所述第一序列以及所述转换关系，确定所述第一序列在所述参考坐标系下的第一目标位置序列；基于所述第一目标位置序列以及所述第二序列，确定所述第一目标位置序列以及所述第二序列之间的位置偏差。6.根据权利要求5所述的CT机的校验方法，其特征在于，所述基于所述第一目标位置序列以及所述第二序列，确定所述第一目标位置序列以及所述第二序列之间的位置偏差，包
括：确定第一目标位置序列以及第二序列的均方根差，将均方根差作为第一目标位置序列以及第二序列之间的位置偏差。7.根据权利要求2所述的CT机的校验方法，其特征在于，所述基于所述第一序列、所述第二序列以及所述转换关系，确定所述位置偏差，包括：基于所述第二序列以及所述转换关系，确定所述第二序列在所述图像坐标系下的第二目标位置序列；基于所述第二目标位置序列以及所述第一序列，确定所述第二目标位置序列以及所述第一序列之间的位置偏差。8.根据权利要求7所述的CT机的校验方法，其特征在于，所述基于所述第二目标位置序列以及所述第一序列，确定所述第二目标位置序列以及所述第一序列之间的位置偏差，包括：确定第二目标位置序列以及第一序列的均方根差，将均方根差作为第二目标位置序列以及第一序列之间的位置偏差。9.根据权利要求1所述的CT机的校验方法，其特征在于，所述识别件的CT成像灰度值属于第一灰度区间，所述本体的CT成像灰度值属于第二灰度区间；在所述确定多个拟合识别件在所述CT扫描图像所在的图像坐标系中的第一位置之前，所述方法还包括：在所述CT扫描图像中确定第一灰度区间的多个连通区域；根据所述多个连通区域，确定多个所述拟合识别件；其中，所述连通区域中的每个像素的灰度值处于灰度阈值范围内，且所述连通区域中任意两个相邻的像素的灰度值的差值小于差值阈值。10.根据权利要求9所述的CT机的校验方法，其特征在于，所述识别件为球状结构，所述根据所述多个连通区域，确定多个所述拟合识别件，包括：从所述多个连通区域中选择满足尺寸阈值的连通区域；在每个满足尺寸阈值的连通区域内进行球面拟合，形成多个拟合识别件。11.根据权利要求10所述的CT机的校验方法，其特征在于，所述确定多个拟合识别件在所述CT扫描图像所在的图像坐标系中的第一位置，包括：确定每个所述拟合识别件的球心坐标，将所述球心坐标作为所述第一位置。12.根据权利要求1所述的CT机的校验方法，其特征在于，所述第一序列中相邻两个第一位置在所述图像坐标系中的目标图像坐标轴上的投影相邻，所述目标图像坐标轴与所述CT扫描图像的轴线夹角小于其他图像坐标轴与所述CT扫描图像的轴线夹角：所述第二序列中相邻两个第二位置在所述参考坐标系中的目标参考坐标轴上的投影相邻，所述目标参考坐标轴与所述本体的中轴线夹角小于其他参考坐标轴与所述本体的中轴线夹角。13.根据权利要求1
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12中任一所述的CT机检验方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述CT机的精度不满足精度要求，发出警报信息，所述警报信息用于提示用户对所述CT机进行调整。14.一种CT机精度校验装置，其特征在于，所述装置包括：
获取模块，用于获取扫描件的CT扫描图像，其中，所述扫描件包括柱状的本体...

【专利技术属性】
技术研发人员：王迎智，董先公，高倩，
申请(专利权)人：极限人工智能有限公司，
类型：发明
国别省市：