【技术实现步骤摘要】
一种化工检测用杂质分析仪器
[0001]本专利技术涉及化工检测
，具体涉及一种化工检测用杂质分析仪器。
技术介绍
[0002]不同化工原料中的杂质种类千差万别，而对杂质的准确定性和定量分析对评价原料的品质和后续深加工将产生最直接的影响，常规化工原料的杂质分析有些可参考标准执行，可根据标准推荐的分析方法采用气相色谱、液相色谱、离子色谱等进行检测，载气进入气相色谱仪的流速稳定性直接影响化工杂质的检测结果。
技术实现思路
[0003]为解决现有技术的不足，本专利技术的目的提供一种化工检测用杂质分析仪器。
[0004]为实现上述技术目的，本专利技术所采用的技术方案如下。
[0005]一种化工检测用杂质分析仪器，其包括：
[0006]底座、连接壳体一、连通管、气化室、连接壳体二、色谱仪、检测器，连接壳体一、气化室、连接壳体二、色谱仪、检测器设置于底座上并且通过连通管依次连通，连接壳体一与连接壳体二之间设置有检测机构、变速机构，连接壳体一的侧壁处设置有电机一，电机一的输出轴呈水平布置，连接壳...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种化工检测用杂质分析仪器，其特征在于，其包括：底座、连接壳体一、连通管、气化室、连接壳体二、色谱仪、检测器，连接壳体一、气化室、连接壳体二、色谱仪、检测器设置于底座上并且通过连通管依次连通，连接壳体一与连接壳体二之间设置有检测机构、变速机构，连接壳体一的侧壁处设置有电机一，电机一的输出轴呈水平布置，连接壳体一内设置有拨轮一，电机一的输出轴端与拨轮一的中心轴同轴固定连接，拨轮一的中心轴端部同轴固定连接有转轴一，底座上设置有支板一、支板二，转轴一的端部穿过支板一，连接壳体二内设置有拨轮二，拨轮二的中心轴端部同轴固定连接有转轴二，转轴二的端部穿过支板二，所述的检测机构包括转盘、凹槽、传感器、连接环一、连接环二、连接块、导柱，转盘同轴固定连接于转轴一的端部，所述的连接环一、连接环二套设于转轴二的端部并且靠近转盘，连接环一、连接环二与转轴二之间通过花键配合传动，底座上竖直设置有支撑杆，支撑杆上设置有传感器，转盘的板面上开设有凹槽，连接块靠近凹槽并且与凹槽的边沿接触，连接块的两侧面呈倾斜布置并且与凹槽的边沿接触，导柱的一端与连接块相连、另一端穿过连接环一与连接环二相抵，传感器靠近连接环二的边沿，转轴二上设...
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