【技术实现步骤摘要】
一种低光学噪声光电测量装置
[0001]本申请涉及光电测量
，尤其是涉及一种低光学噪声光电测量装置。
技术介绍
[0002]在光电测量过程中，一般使用光电测量器将光信号转化成电信号进行测量，例如光电二极管就是将入射光子的能量吸收进而转化为光电流，随后即可通过测量电流强度达到测量入射光能量的目的。
[0003]为了能够更有效地吸收入射光的能量，通常使用透镜等光学系统将入射光聚集到光电测量器上，但是在透镜与光电测量器之间不可避免会产生Etalon效应，进而产生光学噪声，降低了光强测量的精度。
技术实现思路
[0004]为了提高光强测量的精度，本申请提供一种低光学噪声光电测量装置。
[0005]本申请提供的一种低光学噪声光电测量装置，采用如下的技术方案：
[0006]一种低光学噪声光电测量装置，包括壳体，所述壳体内部中空设置，所述壳体的一端开口设置，所述壳体内部设置有收光透镜和光电测量器，所述收光透镜和光电测量器沿远离壳体开口的方向依次设置，所述光电测量器所在平面与收光透镜所在平面之间设置...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种低光学噪声光电测量装置，其特征在于：包括壳体(1)，所述壳体(1)内部中空设置，所述壳体(1)的一端开口设置，所述壳体(1)内部设置有收光透镜(11)和光电测量器(12)，所述收光透镜(11)和光电测量器(12)沿远离壳体(1)开口的方向依次设置，所述光电测量器(12)所在平面与收光透镜(11)所在平面之间设置有夹角。2.根据权利要求1所述的一种低光学噪声光电测量装置，其特征在于：夹角的范围为5
°‑
15
°
。3.根据权利要求1所述的一种低光学噪声光电测量装置，其特征在于：还包括管体(2)，所述管体(2)上设置有连接件(3)，所述连接件(3)用于连接管体(2)与壳体(1)。4.根据权利要求3所述的一种低光学噪声光电测量装置，其特征在于：所述连接件（3）包括法兰盘，所述法兰盘的一端与...
【专利技术属性】
技术研发人员：张宸睿，董超，王俊杨，王曜，
申请(专利权)人：一念传感科技深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：
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