一种亮度检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种亮度检测方法及装置，其中方法包括：获取当前亮度环境下TFT光线传感器的检测参数；根据检测参数，确定TFT光线传感器的目标检测方式为关断检测或导通检测；检测参数对应于暗环境时，目标检测方式为关断检测；检测参数对应于亮环境时，目标检测方式为导通检测；采用目标检测方式，对当前亮度环境进行亮度检测。本发明专利技术方法通过检测参数对目标检测方式进行确定，在不同的亮度环境采用不同的检测方式，实现亮度分段检测，在暗环境和亮环境情况均能够很好的抑制电流漂移，保证检测结果更加准确和稳定。结果更加准确和稳定。结果更加准确和稳定。

【技术实现步骤摘要】
一种亮度检测方法及装置


[0001]本专利技术涉及光电
，尤其涉及一种亮度检测方法及装置。

技术介绍

[0002]目前手机一直在向着全面屏方面发展，然而前置摄像头、TFT光线传感器等器件必须要放在屏前，阻碍了屏占比的提升。采用TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管的缩写)器件作为TFT光线传感器的话，可以将其集成在显示屏内。节省了整机的顶端的设计空间和的成本，对于显示屏制作集成来说并无制程工艺上的变更。TFT器件电流受光照影响的光电特性，可以在不改变制程工艺的条件下显示屏中集成环境光检测功能。
[0003]但是，在实际的产品开发中发现TFT器件在上电工作时，对光线的检测准确度并不稳定，会出现较严重的漂移。

技术实现思路

[0004]鉴于上述问题，本专利技术提出了一种亮度检测方法及装置，在暗环境和亮环境情况均能够很好的抑制电流漂移，保证检测结果更加准确和稳定。
[0005]第一方面，本申请通过一实施例提供如下技术方案：
[0006]一种亮度检测方法，所述方法包括：
[0007]获取当前亮度环境下TFT光线传感器的检测参数；根据所述检测参数，确定所述TFT光线传感器的目标检测方式为关断检测或导通检测；其中，所述检测参数对应于暗环境时，所述目标检测方式为所述关断检测；所述检测参数对应于亮环境时，所述目标检测方式为所述导通检测；采用所述目标检测方式，对所述当前亮度环境进行亮度检测。
[0008]可选的，所述TFT光线传感器包括第一感应器件和第二感应器件；所述获取当前亮度环境下TFT光线传感器的检测参数，包括：
[0009]获取当前亮度环境下所述第一感应器件的第一光电流，以及获取当前亮度环境下所述第二感应器件的第二光电流；其中，所述第一感应器件处于非遮光状态，所述第二感应器件处于遮光状态；根据所述第一光电流和所述第二光电流，获得所述检测参数。
[0010]可选的，所述根据所述第一光电流和所述第二光电流，获得所述检测参数，包括：
[0011]对所述第一光电流和所述第二光电流进行补偿处理，获得第一补偿电流和第二补偿电流；根据所述第一补偿电流和所述第二补偿电流，获得所述检测参数。
[0012]可选的，所述根据所述第一光电流和所述第二光电流，获得所述检测参数，包括：
[0013]将所述第一光电流和所述第二光电流的差值大小，确定为所述检测参数。
[0014]可选的，所述采用所述目标检测方式，对所述当前亮度环境进行亮度检测，包括：
[0015]获取所述第一感应器件处于所述目标检测方式时的第三光电流；根据所述第三光电流，获得所述当前亮度环境的亮度检测结果。
[0016]可选的，所述根据所述检测参数，确定所述TFT光线传感器的目标检测方式为关断检测或导通检测，包括：
[0017]判断所述检测参数是否小于预设的第一阈值或大于预设的第二阈值；所述检测参数用于表征环境亮度；若所述检测参数小于所述第一阈值，则确定所述TFT光线传感器的目标检测方式为关断检测；若所述检测参数大于所述第二阈值，则确定所述TFT光线传感器的目标检测方式为导通检测。
[0018]可选的，所述第一阈值和所述第二阈值的取值范围为照度范围40lux～100lux所对应的参数范围。
[0019]第二方面，基于同一专利技术构思，本申请通过一实施例提供如下技术方案：
[0020]一种亮度检测装置，所述装置包括：
[0021]获取模块，用于获取当前亮度环境下TFT光线传感器的检测参数；确定模块，用于根据所述检测参数，确定所述TFT光线传感器的目标检测方式为关断检测或导通检测；其中，所述检测参数对应于暗环境时，所述目标检测方式为所述关断检测；所述检测参数对应于亮环境时，所述目标检测方式为所述导通检测；检测模块，用于采用所述目标检测方式，对所述当前亮度环境进行亮度检测。
[0022]第三方面，基于同一专利技术构思，本申请通过一实施例提供如下技术方案：
[0023]一种亮度检测系统，包括：驱动芯片、检测电路、TFT光线传感器；
[0024]所述检测电路与所述TFT光线传感器连接，并用于检测当前亮度环境下TFT光线传感器产生的检测参数；所述驱动芯片分别与所述检测电路和所述TFT光线传感器连接，并用于根据所述检测参数，确定所述TFT光线传感器的目标检测方式为关断检测或导通检测；其中，所述检测参数对应于暗环境时，所述目标检测方式为所述关断检测；所述检测参数对应于亮环境时，所述目标检测方式为所述导通检测；采用所述目标检测方式，对所述当前亮度环境进行亮度检测。
[0025]可选的，所述检测电路包括：第一检测电路和第二检测电路；所述TFT光线传感器包括：第一感应器件和第二感应器件；所述第一感应器件处于非遮光状态，所述第二感应器件处于遮光状态；
[0026]所述第一检测电路与所述第一感应器件连接，并用于检测所述第一感应器件产生的第一光电流；所述第二检测电路与所述第二感应器件连接，并用于检测所述第二感应器件产生的第二光电流；所述驱动芯片分别与所述第一检测电路、所述第二检测电路、所述第一感应器件和所述第二感应器件连接，并用于根据所述第一光电流和所述第二光电流，获得所述检测参数。
[0027]第四方面，基于同一专利技术构思，本申请通过一实施例提供如下技术方案：
[0028]一种电子设备，包括处理器和存储器，所述存储器耦接到所述处理器，所述存储器存储指令，当所述指令由所述处理器执行时使所述电子设备执行上述第一方面中任一项所述方法的步骤。
[0029]第五方面，基于同一专利技术构思，本申请通过一实施例提供如下技术方案：
[0030]一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述第一方面中任一项所述方法的步骤。
[0031]本专利技术实施例提供的一种亮度检测方法及装置，通过获取当前亮度环境下TFT光线传感器的检测参数；然后，根据检测参数，确定TFT光线传感器的目标检测方式为关断检测或导通检测；接着，检测参数对应于暗环境时，目标检测方式为关断检测；检测参数对应
于亮环境时，目标检测方式为导通检测；最后，采用目标检测方式，对当前亮度环境进行亮度检测。本专利技术实施例中通过检测参数对目标检测方式进行确定，在不同的亮度环境采用不同的检测方式，实现亮度分段检测，在暗环境和亮环境情况均能够很好的抑制电流漂移，保证检测结果更加准确和稳定。
[0032]上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术的具体实施方式。
附图说明
[0033]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种亮度检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取当前亮度环境下TFT光线传感器的检测参数；根据所述检测参数，确定所述TFT光线传感器的目标检测方式为关断检测或导通检测；其中，所述检测参数对应于暗环境时，所述目标检测方式为所述关断检测；所述检测参数对应于亮环境时，所述目标检测方式为所述导通检测；采用所述目标检测方式，对所述当前亮度环境进行亮度检测。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述TFT光线传感器包括第一感应器件和第二感应器件；所述获取当前亮度环境下TFT光线传感器的检测参数，包括：获取当前亮度环境下所述第一感应器件的第一光电流，以及获取当前亮度环境下所述第二感应器件的第二光电流；其中，所述第一感应器件处于非遮光状态，所述第二感应器件处于遮光状态；根据所述第一光电流和所述第二光电流，获得所述检测参数。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一光电流和所述第二光电流，获得所述检测参数，包括：对所述第一光电流和所述第二光电流进行补偿处理，获得第一补偿电流和第二补偿电流；根据所述第一补偿电流和所述第二补偿电流，获得所述检测参数。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一光电流和所述第二光电流，获得所述检测参数，包括：将所述第一光电流和所述第二光电流的差值大小，确定为所述检测参数。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述采用所述目标检测方式，对所述当前亮度环境进行亮度检测，包括：获取所述第一感应器件处于所述目标检测方式时的第三光电流；根据所述第三光电流，获得所述当前亮度环境的亮度检测结果。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述检测参数，确定所述TFT光线传感器的目标检测方式为关断检测或导通检测，包括：判断所述检测参数是否小于预设的第一阈值或大于预设的第二阈值；所述检测参数用于表征环境亮度；若所述检测参数小于所述第一阈值，则确定所述TFT光线传感器的目标检测方式为关断检测；若所述检测参数大于所述第二阈值，则确定所述TFT光线传感器的目标检测方式为导通检测。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述第一阈值和所述第二阈值的取值范围为照度范围40lux～10...

【专利技术属性】
技术研发人员：窦树谦，吴昊，任健，张晓萍，范利涛，高晓娟，
申请(专利权)人：北京京东方显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：