一种亮度检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种亮度检测方法及装置，其中方法包括：获取当前亮度环境下TFT光线传感器的检测参数；根据检测参数，确定TFT光线传感器的目标检测方式为关断检测或导通检测；检测参数对应于暗环境时，目标检测方式为关断检测；检测参数对应于亮环境时，目标检测方式为导通检测；采用目标检测方式，对当前亮度环境进行亮度检测。本发明专利技术方法通过检测参数对目标检测方式进行确定，在不同的亮度环境采用不同的检测方式，实现亮度分段检测，在暗环境和亮环境情况均能够很好的抑制电流漂移，保证检测结果更加准确和稳定。结果更加准确和稳定。结果更加准确和稳定。

【技术实现步骤摘要】
一种亮度检测方法及装置


[0001]本专利技术涉及光电
，尤其涉及一种亮度检测方法及装置。

技术介绍

[0002]目前手机一直在向着全面屏方面发展，然而前置摄像头、TFT光线传感器等器件必须要放在屏前，阻碍了屏占比的提升。采用TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管的缩写)器件作为TFT光线传感器的话，可以将其集成在显示屏内。节省了整机的顶端的设计空间和的成本，对于显示屏制作集成来说并无制程工艺上的变更。TFT器件电流受光照影响的光电特性，可以在不改变制程工艺的条件下显示屏中集成环境光检测功能。
[0003]但是，在实际的产品开发中发现TFT器件在上电工作时，对光线的检测准确度并不稳定，会出现较严重的漂移。

技术实现思路

[0004]鉴于上述问题，本专利技术提出了一种亮度检测方法及装置，在暗环境和亮环境情况均能够很好的抑制电流漂移，保证检测结果更加准确和稳定。
[0005]第一方面，本申请通过一实施例提供如下技术方案：
[0006]一种亮度检测方法，所述方法包括：
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种亮度检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取当前亮度环境下TFT光线传感器的检测参数；根据所述检测参数，确定所述TFT光线传感器的目标检测方式为关断检测或导通检测；其中，所述检测参数对应于暗环境时，所述目标检测方式为所述关断检测；所述检测参数对应于亮环境时，所述目标检测方式为所述导通检测；采用所述目标检测方式，对所述当前亮度环境进行亮度检测。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述TFT光线传感器包括第一感应器件和第二感应器件；所述获取当前亮度环境下TFT光线传感器的检测参数，包括：获取当前亮度环境下所述第一感应器件的第一光电流，以及获取当前亮度环境下所述第二感应器件的第二光电流；其中，所述第一感应器件处于非遮光状态，所述第二感应器件处于遮光状态；根据所述第一光电流和所述第二光电流，获得所述检测参数。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一光电流和所述第二光电流，获得所述检测参数，包括：对所述第一光电流和所述第二光电流进行补偿处理，获得第一补偿电流和第二补偿电流；根据所述第一补偿电流和所述第二补偿电流，获得所述检测参数。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一光电流和所述第二光电流，获得所述检测参数，包括：将所述第一光电流和所述第二光电流的差值大小，确定为所述检测参数。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述采用所述目标检测方式，对所述当前亮度环境进行亮度检测，包括：获取所述第一感应器件处于所述目标检测方式时的第三光电流；根据所述第三光电流，获得所述当前亮度环境的亮度检测结果。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述检测参数，确定所述TFT光线传感器的目标检测方式为关断检测或导通检测，包括：判断所述检测参数是否小于预设的第一阈值或大于预设的第二阈值；所述检测参数用于表征环境亮度；若所述检测参数小于所述第一阈值，则确定所述TFT光线传感器的目标检测方式为关断检测；若所述检测参数大于所述第二阈值，则确定所述TFT光线传感器的目标检测方式为导通检测。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述第一阈值和所述第二阈值的取值范围为照度范围40lux～10...

【专利技术属性】
技术研发人员：窦树谦，吴昊，任健，张晓萍，范利涛，高晓娟，
申请(专利权)人：北京京东方显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：