岩土体孔隙率测量方法、装置及智能终端制造方法及图纸

本发明专利技术公开了岩土体孔隙率测量方法、装置及智能终端，其中，岩土体孔隙率测量方法包括：获取岩土体的土样；采用扫描电镜对所述土样进行扫描，获得微观图像；基于所述微观图像的灰度值，确定所述微观图像的阈值范围；在所述阈值范围内按照设定精度对所述微观图像进行切分，获得二维等势图；根据所述二维等势图，确定所述岩土体的孔隙率并输出。与现有技术相比，本发明专利技术方案通过扫描电镜获得土样的微观图像，能够清晰的展现土样的微观孔隙的数量和分布，再对微观图像按照设定精度进行切分和计算孔隙率，从而在真实的微观结构基础上计算孔隙率，计算结果精确度高，获得真实孔隙率。获得真实孔隙率。获得真实孔隙率。

【技术实现步骤摘要】
岩土体孔隙率测量方法、装置及智能终端


[0001]本专利技术涉及岩土工程
，尤其涉及的是一种岩土体孔隙率测量方法、装置及智能终端。

技术介绍

[0002]岩土的颗粒、颗粒聚合体、孔隙和孔隙体被称为岩土的微观结构体，其大小、形状、方位、排列以及相互间接触和联结关系的总体称之为岩土的微观结构或微结构。由于岩土的微结构与其宏观力学特性之间存在必然关系，在解释岩土宏观特性方面，从岩土微观结构研究岩土的宏观性质是一种科学有效的手段。
[0003]岩土微观结构中的孔隙大小及其分布是导致岩土变形的主要原因之一，如地基沉降、边坡失稳等都与岩土孔隙结构发生变化相关，因此研究岩土的孔隙率就显得尤为重要。
[0004]但是，计算岩土体孔隙率一直是土力学中研究的难点。目前通过土的常规固结试验进行，根据岩土体的表观密度和岩土体的绝对密度来计算得到孔隙率，没有在真实的岩土体微观结构基础上进行分析，计算获得的是相对孔隙率，计算结果不准确，精确度不高。
[0005]因此，现有技术还有待改进和发展。

技术实现思路

>[0006]本专利本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.岩土体孔隙率测量方法，其特征在于，包括：获取岩土体的土样；采用扫描电镜对所述土样进行扫描，获得所述土样的微观图像；基于所述微观图像的灰度值，确定所述微观图像的阈值范围；在所述阈值范围内按照设定精度对所述微观图像进行切分，获得二维等势图；根据所述二维等势图，确定所述岩土体的孔隙率并输出。2.如权利要求1所述的岩土体孔隙率测量方法，其特征在于，在所述阈值范围内按照设定精度对所述微观图像进行切分，获得二维等势图，包括：按照设定精度对所述阈值范围进行划分，获得阈值点集合；基于所述阈值点集合中的阈值点依次对所述微观图像进行二值化处理，获得二值化图像序列；根据所述二值化图像序列获得二维等势图。3.如权利要求1所述的岩土体孔隙率测量方法，其特征在于，所述土样包括取自同一岩土体的两份对比土样和一份原始土样；获取所述对比土样，包括：从所述岩土体上取得岩土体试样；将所述岩土体试样研磨为粉状，获得粉状试样；将所述粉状试样压缩为片状，获得所述对比土样。4.如权利要求3所述的岩土体孔隙率测量方法，其特征在于，根据所述二维等势图，确定所述岩土体的孔隙率并输出，包括：分别测量所述对比土样的厚度获得第一厚度、第二厚度；根据所述对比土样的微观图分别获得第一灰度、第二灰度；基于所述第一灰度、第二灰度和所述第一厚度、第二厚度获得厚度灰度比；根据所述厚度灰度比，获得所述原始土样微观图的阈值范围所对应的厚度范围；根据所述二维等势图和所述厚度范围，确定所述岩土体的孔隙率并输出。5.如权利要求4所述的岩土体孔隙率测量方法，其特征在于，根据所述二维等势图和所述厚度范围，确定所述岩土体的孔隙率并输出，包括：根据所述厚度范围，构建三维空间的Z轴坐标系；根据所述二维等势图和所述Z轴坐标系，构...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈湘生，沈俊，包小华，崔宏志，贾金青，梅国雄，邱桐，
申请(专利权)人：深圳大学，
类型：发明
国别省市：