表征飞行时间传感器和/或表征覆盖其的盖的方法和装置制造方法及图纸

本公开的各实施例涉及表征飞行时间传感器和/或表征覆盖其的盖的方法和装置。提供了一种用于表征飞行时间传感器和/或表征覆盖飞行时间传感器的盖的方法(100)。方法包括：用飞行时间传感器来执行至少一个编码调制测量以便获得关于从盖反射回飞行时间传感器的光的测量数据。飞行时间传感器的测量范围被配置为针对至少一个编码调制测量立刻终止在盖之后。此外，方法包括：基于测量数据来确定特征数据，其中特征数据指示与飞行时间传感器和/或盖相关的量。关的量。关的量。

【技术实现步骤摘要】
表征飞行时间传感器和/或表征覆盖其的盖的方法和装置


[0001]本公开涉及飞行时间(ToF)感测。具体地，示例涉及一种用于表征ToF传感器和/或表征覆盖ToF传感器的盖的方法和装置。

技术介绍

[0002]ToF模块通常由盖玻璃覆盖以保护ToF模块免受环境的影响。盖玻璃可能影响对ToF模块的测量。另外，各种其他特性(诸如温度)可能改变对ToF模块的测量。
[0003]因此，可能需要对ToF传感器和/或覆盖ToF传感器的盖进行表征。

技术实现思路

[0004]该需求可以通过所附权利要求书的主题来满足。
[0005]一个示例涉及一种用于表征ToF传感器和/或表征覆盖ToF传感器的盖的方法。该方法包括：用ToF传感器来执行至少一个编码调制测量以便获得关于从盖反射回ToF传感器的光的测量数据。ToF传感器的测量范围被配置为针对至少一个编码调制测量立刻终止盖之后。另外，该方法包括：基于测量数据来确定特征数据。该特征数据指示与ToF传感器和/或盖相关的量。
[0006]另一示例涉及一种用于表征ToF传感器和/或表征覆本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于表征飞行时间传感器和/或表征覆盖所述飞行时间传感器的盖的方法(100)，所述方法包括：用所述飞行时间传感器来执行(102)至少一个编码调制测量以便获得关于从所述盖反射回所述飞行时间传感器的光的测量数据，其中所述飞行时间传感器的测量范围被配置为针对所述至少一个编码调制测量立刻终止在所述盖之后；以及基于所述测量数据来确定(104)特征数据，其中所述特征数据指示与所述飞行时间传感器和/或所述盖相关的量。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述飞行时间传感器的用于发射所述光的照明元件以及所述飞行时间传感器的用于测量从所述盖反射的所述光的光捕获元件被布置在由所述盖覆盖的公共腔中。3.根据权利要求1或者权利要求2所述的方法，其中至少两个编码调制测量被执行以便获得所述测量数据。4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中所述特征数据指示用于校正距离值的距离误差校正值，所述距离值基于由所述飞行时间传感器执行的深度测量而确定，并且其中确定(104)所述特征数据包括：基于所述测量数据来确定所述盖到所述飞行时间传感器的所测量的距离；以及基于对所述盖到所述飞行时间传感器的所测量的距离与所述盖到所述飞行时间传感器的已知距离的比较，来确定所述距离误差校正值。5.根据权利要求4所述的方法，还包括：使用所述距离误差校正值，校正指示所述飞行时间传感器到由所述飞行时间传感器感测的场景中的物体的距离的距离值，其中所述距离值基于由所述飞行时间传感器执行的深度测量而确定。6.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中所述特征数据指示所述飞行时间传感器的用于发射所述光的照明元件的所测量的输出功率。7.根据权利要求6所述的方法，还包括：基于所述特征数据，产生用于控制所述飞行时间传感器的所述照明元件的照明信号；和/或基于所述特征数据，产生用于驱动所述飞行时间传感器的光捕获元件的电子电路装置的参考信号，以便测量从所述盖反射的所述光。8.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中所述特征数据指示所述盖的状况。9.根据权利要求8所述的方法，其中所述盖的所述状况指示以下至少一项：所述盖上不存在异物；所述盖上存在异物；所述盖上存在污垢；所述盖上存在指印痕迹；所述盖上存在流体。10.根据权利要求1至9中任一项所述的方法，还包括：将所述特征数据与指示在用于获得所述测量数据的所述至少一个编码调制测量期间的所述飞行时间传感器处的温度的温度数据一起存储在存储器中。11.根据权利要求10...

【专利技术属性】
技术研发人员：M，
申请(专利权)人：英飞凌科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：