适用于存储装置的温度调节方法及系统制造方法及图纸

本公开提供一种适用于存储装置的温度调节方法及系统，该方法包括步骤：(a)利用温度感测元件持续获取存储装置的温度变化斜率；(b)控制存储装置以参考效能进行运行；(c)判断温度变化斜率是否大于第一设定斜率，在判断结果为是时执行步骤(d)，在判断结果为否时执行步骤(b)；以及(d)执行第一调整指令，以使存储装置以第一效能进行运行，其中第一效能是小于参考效能。其中，在执行完步骤(d)后，执行步骤(c)。(c)。(c)。

【技术实现步骤摘要】
适用于存储装置的温度调节方法及系统


[0001]本公开涉及一种温度调节方法及系统，特别涉及一种适用于存储装置的温度调节方法及系统。

技术介绍

[0002]电子装置在运行时，为了避免其存储装置上的电子元件过热而导致存储装置损坏，因此设有温度调节系统，借此保护存储装置。
[0003]现有的温度调节系统是于存储装置上的温度超出预设的临界值时执行对应的程序，以降低存储装置的温度。然而，当存储装置的温度到达临界值而对其温度进行调节时，往往存储装置已经产生过度的热堆积，进而对存储装置上的电子元件造成慢性伤害，因此减少存储装置的使用寿命，且无法有效的确保数据安全及系统的稳定性。此外，通过临界值判断是否进行温度调节的方式并无法对存储装置的温度变化趋势做出估计或判断。
[0004]因此，如何发展一种可改善上述现有技术的温度调节方法及系统，实为目前迫切的需求。

技术实现思路

[0005]本公开的主要目的为提供一种适用于存储装置的温度调节方法及系统，根据感测存储装置的温度变化斜率而对存储装置进行相应调节，以调整其温度变化斜率，从而避免于存储装置上产生过度的热堆积，并防止因热堆积而对存储装置上的电子元件造成慢性伤害，借此增加存储装置的使用寿命，且有效的确保数据安全及系统的稳定性。
[0006]本公开的另一目的为提供一种适用于存储装置的温度调节方法及系统，通过感测存储装置的温度变化斜率，可得知存储装置的温度变化的快慢程度，从而提前对存储装置的温度变化趋势做出估计或判断。
[0007]为达上述目的，本公开提供一种适用于存储装置的温度调节方法，包括步骤：(a)利用温度感测元件持续获取存储装置的温度变化斜率；(b)控制存储装置以参考效能进行运行；(c)判断温度变化斜率是否大于第一设定斜率，在判断结果为是时执行步骤(d)，在判断结果为否时执行步骤(b)；以及(d)执行第一调整指令，以使存储装置以第一效能进行运行，其中第一效能是小于参考效能。其中，在执行完步骤(d)后，执行步骤(c)。
[0008]为达上述目的，本公开提供一种适用于存储装置的温度调节系统，温度调节系统包含温度感测元件及控制器。温度感测元件连接于存储装置且架构于感测存储装置的温度。控制器连接于存储装置及温度感测元件，控制器接收并依据存储装置的温度获取存储装置的温度变化斜率。且控制器中预设有第一设定斜率，控制器根据温度变化斜率与第一设定斜率调节存储装置的效能。其中，控制器在温度变化斜率大于第一设定斜率时，执行对存储装置的第一调整指令，第一调整指令是用以降低存储装置的效能，从而通过降低效能影响存储装置的温度变化斜率。
附图说明
[0009]图1是为本公开优选实施例的温度调节系统的电路结构示意图。
[0010]图2是为本公开优选实施例的温度调节方法的流程图。
[0011]图3是为本公开另一优选实施例的温度调节方法的流程图。
[0012]其中，附图标记说明如下：
[0013]1：温度调节系统
[0014]2：存储装置
[0015]3：温度感测元件
[0016]4：控制器
[0017]S1、S2、S3、S4、S5、S6：步骤
具体实施方式
[0018]体现本公开特征与优点的一些典型实施例将在后段的说明中详细叙述。应理解的是本公开能够在不同的实施方式上具有各种的变化，其皆不脱离本公开的范围，且其中的说明及附图在本质上是当作说明之用，而非架构于限制本公开。
[0019]请参阅图1，图1为本公开优选实施例的温度调节系统的电路结构示意图。本公开提供一种适用于存储装置2的温度调节系统1，温度调节系统1是连接于存储装置2，温度调节系统1包括相连接的温度感测元件3及控制器4。温度感测元件3是架构于持续感测存储装置2的温度。控制器4连接于存储装置2及温度感测元件3。依据温度感测元件3所感测的存储装置2的温度，控制器4获取温度变化斜率。且控制器4中预设有第一设定斜率，控制器4根据温度变化斜率与第一设定斜率间的关系来调节存储装置2的效能。具体而言，控制器4在温度变化斜率大于第一设定斜率时，对存储装置2执行第一调整指令，第一调整指令是用以降低存储装置2的效能，从而通过降低效能影响存储装置2的温度变化斜率，在理想情况下，存储装置2的温度变化斜率将随着效能降低而减小。借此，本公开的温度调节系统1可在存储装置2的温度上升速度过大时调整其温度变化斜率，而非在存储装置2的温度超出临界值方对其温度进行调节，故可有效避免存储装置2产生过度的热堆积，并防止因热堆积而对存储装置2上的电子元件造成慢性伤害，进而增加存储装置2的使用寿命，且有效的确保数据安全及系统的稳定性。此外，可通过温度变化斜率得知存储装置2的温度变化的快慢程度，从而提前对存储装置2的温度变化趋势做出估计或判断。
[0020]当然，对存储装置2的温度变化斜率的判断标准及调整方式并不局限于上述实施例，于某些情况下，虽已通过执行第一调整指令降低存储装置2的效能，但由于外在环境变化或其他不可控因素，可能导致存储装置2的温度变化斜率无法降低，而若存储装置2的温度变化斜率持续上升，则可增加对应的设定斜率及调整指令，以通过增强存储装置2的效能的调降幅度来降低存储装置2的温度变化斜率。举例而言，于一些实施例中，控制器4中还预设有第二设定斜率，其中第二设定斜率是大于第一设定斜率。具体而言，温度变化斜率在小于第一设定斜率时，存储装置2是正常工作并以参考效能运行，控制器4在温度变化斜率大于第一设定斜率并小于第二设定斜率时，对存储装置2执行第一调整指令，以控制存储装置2以第一效能运行，其中第一效能是小于参考效能。控制器4在温度变化斜率大于第二设定斜率时，对存储装置2执行第二调整指令，以控制存储装置2以第二效能运行，其中第二效能
是小于第一效能。借此，随着温度变化斜率增加，控制器4亦随之提升对存储装置2的效能的调降幅度，故即便存在影响存储装置2的温度的外在环境变化或其他不可控因素，仍可有效抑制存储装置2的温度变化斜率的上升趋势。
[0021]此外，须注意的是，在前述对存储装置2的温度变化斜率的调整过程中，存储装置2的温度均低于其临界值，即存储装置2的温度均处于正常工作的温度变化范围内。
[0022]第一调整指令及第二调整指令可例如包含降低存储装置2的运行时钟或频宽，但不以此为限，调整指令可包含任何可以降低存储装置2的效能的操作。
[0023]请参阅图2，图2是为本公开优选实施例的温度调节方法的流程图，图2所示的温度调节方法可适用于前述的温度调节系统1及存储装置2。于此实施例中，温度调节方法包括步骤S1、S2、S3及S4。于步骤S1中，利用温度感测元件3持续获取存储装置2的温度变化斜率。于步骤S2中，控制存储装置2以参考效能进行运行。于步骤S3中，判断温度变化斜率是否大于第一设定斜率，当判断结果为是时，执行步骤S4，当判断结果为否时，执行步骤S2。于步骤S4中，执行第一调整指令，以使存储装置2以第一效能进行运行，其中第一效能是小于参本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种温度调节方法，适用于一存储装置，包括步骤：(a)利用一温度感测元件持续获取该存储装置的一温度变化斜率；(b)控制该存储装置以一参考效能进行运行；(c)判断该温度变化斜率是否大于一第一设定斜率，在判断结果为是时执行步骤(d)，在判断结果为否时执行该步骤(b)；以及(d)执行一第一调整指令，以使该存储装置以一第一效能进行运行，其中该第一效能是小于该参考效能；其中，在执行完该步骤(d)后，执行该步骤(c)。2.如权利要求1所述的温度调节方法，于执行完该步骤(d)后，且执行该步骤(c)之前，还包括步骤：(e)判断该温度变化斜率是否大于一第二设定斜率，在判断结果为是时执行步骤(f)，在判断结果为否时执行该步骤(c)，其中该第二设定斜率是大于该第一设定斜率；以及(f)执行一第二调整指令，以使该存储装置以一第二效能进行运行，并再次执行该步骤(e)，其中该第二效能是小于该第一效能。3.如权利要求2所述的温度调节方法，其中，该第一调整指令及该第二调整指令是包含降低该存储装置的运行时钟或频宽。4.一种温度调节系统，适用于一存储装置，包含：一温度感测元件，连接于该存储装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：许峰旗，周明煌，刘博荣，吕学思，
申请(专利权)人：宇瞻科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：