一种光模块电性测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种光模块电性测试设备，包括机体，所述机体的前侧设置有连接口，所述连接口的两侧均固定连接有配合块，所述配合块的前侧固定连接有卡块，所述卡块右侧的顶部和底部均开设有限位槽，所述连接口的内部插接有传输线，所述传输线的两侧均固定连接有固定块。本实用新型专利技术通过设置机体、连接口、配合块、卡块、限位槽、传输线、固定块、限位机构、活动块、限位杆、连接块、传动杆、调节机构、弹簧、调节杆、传动块、卡槽、固定槽、调节孔、传动槽、滑块、滑槽和限位孔的配合使用，解决了现有光模块电性测试设备中连接的传输线容易脱落，影响光模块电性测试设备正常使用的问题。光模块电性测试设备正常使用的问题。光模块电性测试设备正常使用的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种光模块电性测试设备


[0001]本技术属于光模块
，尤其涉及一种光模块电性测试设备。

技术介绍

[0002]光模块由光电子器件、功能电路和光接口等组成，光电子器件包括发射和接收两部分，简单的说，光模块的作用就是发送端把电信号转换成光信号，通过光纤传送后，接收端再把光信号转换成电信号。
[0003]光模块在投入使用前为了保证正常使用，会使用到光模块电性测试设备对其进行测试，光模块电性测试设备在使用时需要在连接口插接有传输线，因为现有的连接方式是以简单的插接进行的，所以使用者轻轻拉扯就很容易导致脱落，影响机体的正常运行，不方便使用者使用，现有技术存在的问题是：光模块电性测试设备中连接的传输线容易脱落，影响光模块电性测试设备正常使用。

技术实现思路

[0004]针对现有技术存在的问题，本技术提供了一种光模块电性测试设备，具备防止光模块电性测试设备中传输线脱落的优点，解决了现有光模块电性测试设备中连接的传输线容易脱落，影响光模块电性测试设备正常使用的问题。
[0005]本技术是这样实现的，一种光模块电性测试设备，包括机体，所述机体的前侧设置有连接口，所述连接口的两侧均固定连接有配合块，所述配合块的前侧固定连接有卡块，所述卡块右侧的顶部和底部均开设有限位槽，所述连接口的内部插接有传输线，所述传输线的两侧均固定连接有固定块，所述固定块的前侧开设有与卡块配合使用的卡槽，所述固定块的内部开设有固定槽，所述固定槽内部靠近传输线的一侧设置有限位机构，所述限位机构靠近卡块的一侧贯穿至卡槽的内部，且与限位槽配合使用，所述固定槽内部远离传输线的一侧设置有调节机构，所述调节机构的顶部和底部均贯穿至固定块的外侧，所述固定块的顶部和底部均开设有与调节机构配合使用的调节孔。
[0006]作为本技术优选的，所述限位机构包括活动块，所述活动块靠近传输线一侧的顶部和底部均固定连接有限位杆，所述限位杆靠近传输线的一侧贯穿至卡槽的内部，且与限位槽配合使用，所述活动块远离传输线的一侧固定连接有连接块，所述连接块前侧的顶部和底部均固定连接有传动杆，所述传动杆与调节机构配合使用。
[0007]作为本技术优选的，所述调节机构包括弹簧，所述弹簧的顶部和底部均固定连接有调节杆，所述调节杆远离弹簧的一侧贯穿至固定块的外侧，所述调节杆靠近传输线的一侧固定连接有传动块，所述传动块与传动杆配合使用。
[0008]作为本技术优选的，所述传动块的前侧开设有传动槽，所述传动槽与传动杆配合使用。
[0009]作为本技术优选的，所述活动块的顶部和底部均固定连接有滑块，所述固定槽的内壁开设有与滑块配合使用的滑槽。
[0010]作为本技术优选的，所述卡槽的内壁开设有与滑块配合使用的限位孔，所述限位孔与固定槽相互连通。
[0011]与现有技术相比，本技术的有益效果如下：
[0012]1、本技术通过设置机体、连接口、配合块、卡块、限位槽、传输线、固定块、限位机构、活动块、限位杆、连接块、传动杆、调节机构、弹簧、调节杆、传动块、卡槽、固定槽、调节孔、传动槽、滑块、滑槽和限位孔的配合使用，解决了现有光模块电性测试设备中连接的传输线容易脱落，影响光模块电性测试设备正常使用的问题。
[0013]2、本技术通过设置限位机构，能够通过弹簧产生的弹力推动调节杆沿着调节孔的轨迹向远离弹簧的一侧移动，调节杆带动传动块向远离弹簧的一侧移动，通过传动槽内壁挤压传动杆的表面，带动连接块向靠近卡块的一侧移动，连接块带动活动块沿着滑槽的轨迹向靠近卡块的一侧移动，活动块带动限位杆使限位杆远离活动块的一侧经过限位孔进入限位槽的内部，从而固定固定块的位置，进而固定传输线的位置，提高了其稳定性。
[0014]3、本技术通过设置调节机构，能够通过沿着调节孔的轨迹向靠近弹簧的一侧推动调节杆，调节杆带动传动块向靠近弹簧的一侧移动，通过传动槽内壁挤压传动杆的表面，推动连接块向远离卡块的一侧移动，连接块带动活动块沿着滑槽的轨迹向远离卡块的一侧移动，活动块带动限位杆使限位杆远离卡块的一侧缩回限位孔的内部，此时便可以通过对准卡块与卡槽之间的位置，将传输线插接入连接口的内部，同时使卡块进入卡槽的内部，方便了使用者使用。
[0015]4、本技术通过设置传动槽，能够对传动杆与传动块起到连接作用，同时避免传动块带动传动杆移动时卡死。
[0016]5、本技术通过设置滑块和滑槽，能够限制活动块的位置，为活动块提供移动轨迹，同时避免活动块块表面与固定槽内壁之间的摩擦，延长其使用寿命。
[0017]6、本技术通过设置限位孔，能够限制限位杆的位置，为限位杆提供移动轨迹，使限位杆可以经过限位孔进入限位槽的内部，同时提高其稳定性。
附图说明
[0018]图1是本技术实施例提供的结构示意图；
[0019]图2是本技术实施例提供固定块的剖视图；
[0020]图3是本技术实施例提供图1中A处的局部放大图。
[0021]图中：1、机体；2、连接口；3、配合块；4、卡块；5、限位槽；6、传输线；7、固定块；8、限位机构；801、活动块；802、限位杆；803、连接块；804、传动杆；9、调节机构；901、弹簧；902、调节杆；903、传动块；10、卡槽；11、固定槽；12、调节孔；13、传动槽；14、滑块；15、滑槽；16、限位孔。
具体实施方式
[0022]为能进一步了解本技术的
技术实现思路
、特点及功效，兹例举以下实施例，并配合附图详细说明如下。
[0023]下面结合附图对本技术的结构作详细的描述。
[0024]如图1至图3所示，本技术实施例提供的一种光模块电性测试设备，包括机体
1，机体1的前侧设置有连接口2，连接口2的两侧均固定连接有配合块3，配合块3的前侧固定连接有卡块4，卡块4右侧的顶部和底部均开设有限位槽5，连接口2的内部插接有传输线6，传输线6的两侧均固定连接有固定块7，固定块7的前侧开设有与卡块4配合使用的卡槽10，固定块7的内部开设有固定槽11，固定槽11内部靠近传输线6的一侧设置有限位机构8，限位机构8靠近卡块4的一侧贯穿至卡槽10的内部，且与限位槽5配合使用，固定槽11内部远离传输线6的一侧设置有调节机构9，调节机构9的顶部和底部均贯穿至固定块7的外侧，固定块7的顶部和底部均开设有与调节机构9配合使用的调节孔12。
[0025]参考图2，限位机构8包括活动块801，活动块801靠近传输线6一侧的顶部和底部均固定连接有限位杆802，限位杆802靠近传输线6的一侧贯穿至卡槽10的内部，且与限位槽5配合使用，活动块801远离传输线6的一侧固定连接有连接块803，连接块803前侧的顶部和底部均固定连接有传动杆804，传动杆804与调节机构9配合使用。
[0026]采用上述方案：通过设置限位机构8，能够通过弹簧901产生的弹力推动调节杆902沿着调节孔12的轨迹向远离弹簧901的一侧移本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光模块电性测试设备，包括机体（1），其特征在于：所述机体（1）的前侧设置有连接口（2），所述连接口（2）的两侧均固定连接有配合块（3），所述配合块（3）的前侧固定连接有卡块（4），所述卡块（4）右侧的顶部和底部均开设有限位槽（5），所述连接口（2）的内部插接有传输线（6），所述传输线（6）的两侧均固定连接有固定块（7），所述固定块（7）的前侧开设有与卡块（4）配合使用的卡槽（10），所述固定块（7）的内部开设有固定槽（11），所述固定槽（11）内部靠近传输线（6）的一侧设置有限位机构（8），所述限位机构（8）靠近卡块（4）的一侧贯穿至卡槽（10）的内部，且与限位槽（5）配合使用，所述固定槽（11）内部远离传输线（6）的一侧设置有调节机构（9），所述调节机构（9）的顶部和底部均贯穿至固定块（7）的外侧，所述固定块（7）的顶部和底部均开设有与调节机构（9）配合使用的调节孔（12）。2.如权利要求1所述的一种光模块电性测试设备，其特征在于：所述限位机构（8）包括活动块（801），所述活动块（801）靠近传输线（6）一侧的顶部和底部均固定连接有限位杆（802），所述限位杆（802）靠近传输线（6）的一侧贯穿至卡槽（10）的内部，且与限位槽（5...

【专利技术属性】
技术研发人员：王玉慧，
申请(专利权)人：武汉金星辰自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：