一种测试稳定有效的半导体器件用测试组件制造技术

本实用新型专利技术涉及一种测试稳定有效的半导体器件用测试组件，包括陶瓷固定座、PCB基板和测试片组件；所述陶瓷固定座的顶部穿过PCB基板；所述待测芯片设置在陶瓷固定座上；所述测试片组件的一端引脚与陶瓷固定座上的待测芯片电连接，另一端引脚与PCB基板电连接；所述测试片组件包括对称设置的两个测试片机构；所述测试片机构包括固定板和测试片组；所述固定板用于固定测试片组；所述测试片机构为一体式结构；整体配合精度较高，保证和提高了测试的可靠性及有效性；悬浮式陶瓷定位结构，保证整个测试组件在使用过程更加稳定。测试组件在使用过程更加稳定。测试组件在使用过程更加稳定。

【技术实现步骤摘要】
一种测试稳定有效的半导体器件用测试组件


[0001]本技术涉及一种测试组件，尤其涉及一种测试稳定有效的半导体器件用测试组件。

技术介绍

[0002]在半导体芯片大规模研发及生产过程中均需要各类性能检测，芯片测试为测试中关键环节，芯片测试是将芯片定位后通过线路板之间电子信号电流传输从而达到测试效果，芯片测试需要有相应的测试部件，测试部件的质量和匹配程度直接影响测试判断准确性。目前常见的测试部件产品定位为普通吸嘴自动校正对位定位及盖板定位，测试片安装后使其固定形成芯片与测试片点对点接触，这样的结构存在如下缺点：1. 芯片管脚与测试片针尖点对点接触，会造成接触偏移，形成接触不良出现Open及Conta；2. 产品测试时定位不准确，接触有偏差影响测试精准度 ；3. 测试不稳定。

技术实现思路

[0003]本技术目的是为了克服现有技术的不足而提供一种保证和提高了测试使用过程中的可靠性及有效性的测试稳定有效的半导体器件用测试组件。
[0004]为达到上述目的，本技术采用的技术方案是：一种测试稳定有效的半导体器件用测试组件，包括陶瓷固定座本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试稳定有效的半导体器件用测试组件，其特征在于：包括陶瓷固定座、PCB基板和测试片组件；所述陶瓷固定座的顶部穿过PCB基板；待测芯片设置在陶瓷固定座上；所述测试片组件的一端引脚与陶瓷固定座上的待测芯片电连接，另一端引脚与PCB基板电连接；所述测试片组件包括对称设置的两个测试片机构；所述测试片机构包括固定板和测试片组；所述固定板用于固定测试片组；所述测试片机构为一体式结构。2.根据权利要求1所述的测试稳定有效的半导体器件用测试组件，其特征在于：所述测试片组为4组测试片组；所述每组测试片组为2片，第一测试片和第二测试片，形成一路前后开尔文；所述固定板设有3块，第一固定板、第二固定板和第三固定板；所述第一测试片设置在第一固定板和第二固定板之间；所述第二测试片设置在第二固定板和第三固定板之间。3.根据权利要求2所述的测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：闵哲，
申请(专利权)人：苏州朗之睿电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：