一种充电桩芯片检测用大电流测试器制造技术

本发明专利技术涉及一种充电桩芯片检测用大电流测试器，包括底座和盖体，底座的顶部设有对芯片进行定位的定位机构；底座的底部安装有对芯片进行检测的测试机构，测试机构包括测试板、多个与测试板电连接的探针模组，探针模组包括导热块、连接件和阵列分布的探针弹片，连接件依次串接导热块和探针弹片，以使探针弹片安装在导热块的内侧形成探针模组；盖体的内侧设有将芯片固定的压紧组件，盖体的顶部设有驱动压紧组件靠近底座的控制组件。本发明专利技术在测试时，探针弹片发生弹性变形，可保证每个探针弹片均与引脚稳定接触，且各个探针弹片之间相互独立分布，确保检测过程中探针弹片具有较高的通导效率，以保证大电流测试的稳定性和精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及充电桩芯片检测的，尤其是涉及一种充电桩芯片检测用大电流测试器。

技术介绍

1、新能源汽车的充电桩在使用过程中，充电桩芯片的引脚处会产生800a的瞬间电流，而随着对汽车充电桩充电效率的提高，充电桩芯片作为充电桩的核心控制单元，其在极端电流条件下的性能与可靠性会显得尤为重要。

2、为了保证产品的可靠性，在充电桩芯片生产完成后，需要对充电桩芯片在800a的电流环境下进行大电流持续测试，以检测充电桩芯片在极端电流条件下的导通性能。

3、在对充电桩芯片进行大电流持续测试时，现有的测试器探针结构易因芯片引脚的平面度误差，造成探针与引脚之间的接触可靠性较低，在承载大电流检测时，易出现探针与引脚之间接触不良的状况，导致探针与引脚之间的接触电阻增大，使探针的温度快速升高，进而导致电流通导效率降低，影响测试精度。

技术实现思路

1、针对现有技术存在的不足，本专利技术的目的是提供一种充电桩芯片检测用大电流测试器。

2、一种充电桩芯片检测用大电流测试器，包括底座和盖体，所述盖体与底座本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种充电桩芯片检测用大电流测试器，包括底座（1）和盖体（2），所述盖体（2）与底座（1）之间可开合固定连接，其特征在于：

2.根据权利要求1所述的充电桩芯片检测用大电流测试器，其特征在于：所述底座（1）的顶部设有浮动槽（11），所述浮动板（42）沿浮动槽（11）的内壁竖向滑动，所述浮动板（42）的底部设有支撑浮动板（42）竖向滑动的第一弹性件（43），所述浮动槽（11）的底部可拆卸固定有限制浮动板（42）竖向滑动的限位件（44）。

3.根据权利要求1所述的充电桩芯片检测用大电流测试器，其特征在于：所述探针弹片（523）包括一体成型的固定部（5231）、上回弹部...

【技术特征摘要】

1.一种充电桩芯片检测用大电流测试器，包括底座（1）和盖体（2），所述盖体（2）与底座（1）之间可开合固定连接，其特征在于：

2.根据权利要求1所述的充电桩芯片检测用大电流测试器，其特征在于：所述底座（1）的顶部设有浮动槽（11），所述浮动板（42）沿浮动槽（11）的内壁竖向滑动，所述浮动板（42）的底部设有支撑浮动板（42）竖向滑动的第一弹性件（43），所述浮动槽（11）的底部可拆卸固定有限制浮动板（42）竖向滑动的限位件（44）。

3.根据权利要求1所述的充电桩芯片检测用大电流测试器，其特征在于：所述探针弹片（523）包括一体成型的固定部（5231）、上回弹部（5232）和下回弹部（5233），所述连接件（522）与所述固定部（5231）插接配合以使多个所述探针弹片（523）串接成组，所述上回弹部（5232）的顶部设有锯齿状的触齿（5234），所述触齿（5234）与引脚（31）抵触以使所述上回弹部（5232）弹性变形，所述下回弹部（5233）的底部与所述测试板（51）电连接。

4.根据权利要求1所述的充电桩芯片检测用大电流测试器，其特征在于：所述导热块（521）的其中一侧设置有容纳所述探针组（55）的探针槽（5211），所述底座（1）上可拆卸固定有多个与探针模组（52）位置对应的气嘴（16），所述底座（1）上开设有供导热块（521）热量排出的散热孔（161）。

5.根据权利要求4所述的充电桩芯片检测用大电流测试器，其特征在于：所述导热块（521）与探针槽（5211）相对的一侧表面凸出设有凸块（5212），所述凸块（5212）与另一所述导热块（521）...

【专利技术属性】
技术研发人员：常文龙，李贝贝，
申请(专利权)人：苏州朗之睿电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：